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Artículos de revistas sobre el tema "Scanning tunneling microscopy"

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Autor: Grafiati
Publicado: 4 de junio de 2021
Última modificación: 26 de julio de 2024

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1

Rozouvan, T. "Spatial resolution of scanning tunneling microscopy". Functional materials 22, n.º 3 (1 de octubre de 2015): 365–69. http://dx.doi.org/10.15407/fm22.03.365.

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2

Sakurai, Toshio, Akiko Kobayashi y Akira Sakai. "Scanning tunneling microscopy." Bulletin of the Japan Institute of Metals 25, n.º 10 (1986): 821–31. http://dx.doi.org/10.2320/materia1962.25.821.

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3

SAKURAI, Toshio, Akiko KOBAYASHI y Akira SAKAI. "Scanning tunneling microscopy." Nihon Kessho Gakkaishi 28, n.º 6 (1986): 404–7. http://dx.doi.org/10.5940/jcrsj.28.404.

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4

Hansma, Paul K. y Jerry Tersoff. "Scanning tunneling microscopy". Journal of Applied Physics 61, n.º 2 (15 de enero de 1987): R1—R24. http://dx.doi.org/10.1063/1.338189.

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5

Griffith, J. E. y G. P. Kochanski. "Scanning Tunneling Microscopy". Annual Review of Materials Science 20, n.º 1 (agosto de 1990): 219–44. http://dx.doi.org/10.1146/annurev.ms.20.080190.001251.

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6

HOSOKI, Shigeyuki. "Scanning tunneling microscopy." Hyomen Kagaku 10, n.º 10 (1989): 686–92. http://dx.doi.org/10.1380/jsssj.10.686.

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7

TAGAWA, TAKASHI. "Scanning Tunneling Microscopy". Sen'i Gakkaishi 44, n.º 6 (1988): P207—P210. http://dx.doi.org/10.2115/fiber.44.6_p207.

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8

Binnig, G. y H. Rohrer. "Scanning tunneling microscopy". IBM Journal of Research and Development 44, n.º 1.2 (enero de 2000): 279–93. http://dx.doi.org/10.1147/rd.441.0279.

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9

Rohrer, H. "Scanning tunneling microscopy". Proceedings of the National Academy of Sciences 84, n.º 14 (1 de julio de 1987): 4666. http://dx.doi.org/10.1073/pnas.84.14.4666.

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10

LIEBER, CHARLES M. "SCANNING TUNNELING MICROSCOPY". Chemical & Engineering News 72, n.º 16 (18 de abril de 1994): 28–44. http://dx.doi.org/10.1021/cen-v072n016.p028.

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11

Binnig, G. y H. Rohrer. "Scanning tunneling microscopy". Surface Science Letters 152-153 (abril de 1985): A106. http://dx.doi.org/10.1016/0167-2584(85)90065-9.

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12

Binnig, G. y H. Rohrer. "Scanning tunneling microscopy". Surface Science 152-153 (abril de 1985): 17–26. http://dx.doi.org/10.1016/0039-6028(85)90120-7.

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13

GIMZEWSKI, J. K. "Scanning tunneling microscopy". Le Journal de Physique IV 03, n.º C7 (noviembre de 1993): C7–41—C7–48. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1993704.

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14

KAJIMURA, Koji, Hiroshi BANDO, Hiroshi TOKUMOTO, Wataru MIZUTANI, Makoto OKANO, Masatoshi ONO, Shigeo OKAYAMA, Hiroshi MURAKAMI y Yuichi ONO. "Scanning tunneling microscopy." Hyomen Kagaku 8, n.º 1 (1987): 2–13. http://dx.doi.org/10.1380/jsssj.8.2.

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15

Salemink, H. "Scanning tunneling microscopy". Microelectronic Engineering 5, n.º 1-4 (diciembre de 1986): 501–8. http://dx.doi.org/10.1016/0167-9317(86)90083-3.

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16

Marti, O., B. Drake, S. Gould y P. K. Hansma. "Atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy with a combination atomic force microscope/scanning tunneling microscope". Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 6, n.º 3 (mayo de 1988): 2089–92. http://dx.doi.org/10.1116/1.575191.

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17

ALVARADO, S. F. "SCANNING TUNNELING MICROSCOPY AND SCANNING FORCE MICROSCOPY". Surface Review and Letters 02, n.º 05 (octubre de 1995): 607–17. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x95000571.

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18

Chen, C. Julian. "Microscopic view of scanning tunneling microscopy". Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 9, n.º 1 (enero de 1991): 44–50. http://dx.doi.org/10.1116/1.577128.

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Yarotski, Dzmitry y Antoinette J. Taylor. "Microscopy: Ultrafast Scanning Tunneling Microscopy". Optics and Photonics News 13, n.º 12 (1 de diciembre de 2002): 26. http://dx.doi.org/10.1364/opn.13.12.000026.

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Kubby, J. A. "“Stm” Scanning Tunneling Microscopy". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 45 (agosto de 1987): 196–97. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100125889.

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Resumen
Scanning Tunneling Microscopy is a recently developed technique within the area of Scanned Image Microscopy that is based on tunneling between two conducting electrodes. This method offers, for the first time, the possibility of direct, real space determination of surface atomic and electronic structure in three dimensions on an atomic length scale, including nonperiodic structures.In this technique a sharp metal tip, mounted on a piezoelectric tripod that forms an orthogonal coordinate system, is brought to within a few Angstroms of the sample surface without “touching” the region to be scanned. A tunneling current I, on the order of 0.1 to 1 nA, is established by applying a bias between the tip and sample. The tunneling current is given to first order by;
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21

Asenjo, A. "Scanning tunneling microscopy/scanning electron microscopy combined instrument". Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures 12, n.º 3 (mayo de 1994): 1658. http://dx.doi.org/10.1116/1.587256.

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22

Gentz, Knud y Klaus Wandelt. "Electrochemical Scanning Tunneling Microscopy". CHIMIA International Journal for Chemistry 66, n.º 1 (29 de febrero de 2012): 44–51. http://dx.doi.org/10.2533/chimia.2012.44.

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23

Aiello, Clarice D. "Coherent scanning tunneling microscopy". Science 367, n.º 6476 (23 de enero de 2020): 368. http://dx.doi.org/10.1126/science.aba0714.

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24

WANG, Erkang. "Electrochemical Scanning Tunneling Microscopy." Analytical Sciences 10, n.º 1 (1994): 155–56. http://dx.doi.org/10.2116/analsci.10.155.

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25

Grafström, Stefan. "Photoassisted scanning tunneling microscopy". Journal of Applied Physics 91, n.º 4 (15 de febrero de 2002): 1717–53. http://dx.doi.org/10.1063/1.1432113.

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26

Guntherodt, H. ‐J, R. Wiesendanger y Joseph Demuth. "Scanning Tunneling Microscopy I". Physics Today 46, n.º 12 (diciembre de 1993): 43–44. http://dx.doi.org/10.1063/1.2809126.

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27

Reddick, R. C., R. J. Warmack, D. W. Chilcott, S. L. Sharp y T. L. Ferrell. "Photon scanning tunneling microscopy". Review of Scientific Instruments 61, n.º 12 (diciembre de 1990): 3669–77. http://dx.doi.org/10.1063/1.1141534.

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Friesen, Cody, Hermann Osterhage, Johannes Friedlein, Anika Schlenhoff, Roland Wiesendanger y Stefan Krause. "Scanning Seebeck tunneling microscopy". Journal of Physics D: Applied Physics 51, n.º 32 (13 de julio de 2018): 324001. http://dx.doi.org/10.1088/1361-6463/aacfab.

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29

Courjon, D., K. Sarayeddine y M. Spajer. "Scanning tunneling optical microscopy". Optics Communications 71, n.º 1-2 (mayo de 1989): 23–28. http://dx.doi.org/10.1016/0030-4018(89)90297-6.

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NISHIKAWA, OSAMU. "Scanning Tunneling Microscopy(STM). Wishing Dream on Tunneling Microscopy." Nihon Kessho Gakkaishi 35, n.º 2 (1993): 71–74. http://dx.doi.org/10.5940/jcrsj.35.71.

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31

SHIGEKAWA, HIDEMI. "Scanning Tunneling Microscopy(STM). Application for Chemistry. Scanning Tunneling Microscopy on Organic Materials." Nihon Kessho Gakkaishi 35, n.º 2 (1993): 126–34. http://dx.doi.org/10.5940/jcrsj.35.126.

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Li Bassi, A., C. S. Casari, D. Cattaneo, F. Donati, S. Foglio, M. Passoni, C. E. Bottani et al. "Bulk Cr tips for scanning tunneling microscopy and spin-polarized scanning tunneling microscopy". Applied Physics Letters 91, n.º 17 (22 de octubre de 2007): 173120. http://dx.doi.org/10.1063/1.2800810.

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Möller, R., A. Esslinger y M. Rauscher. "Tunneling tips imaged by scanning tunneling microscopy". Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 8, n.º 1 (enero de 1990): 434–37. http://dx.doi.org/10.1116/1.576414.

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Pan, J., T. W. Jing y S. M. Lindsay. "Tunneling Barriers in Electrochemical Scanning Tunneling Microscopy". Journal of Physical Chemistry 98, n.º 16 (abril de 1994): 4205–8. http://dx.doi.org/10.1021/j100067a001.

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Stemmer, A., A. Engel, R. Häring, R. Reichelt y U. Aebi. "Scanning tunneling microscopy of biomacromolecules". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 46 (1988): 444–45. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100104285.

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Resumen
Since its invention in the early 1980s the scanning tunneling microscope (STM) has rapidly evolved into a well established tool in solid state physics for surface structure analysis at atomic resolution. Recently a growing interest in the STM for investigating biological matter has been expressed, since surface ‘topographs’ of biomacromolecules can be recorded at ambient pressure or possibly in buffer solutions, thereby eliminating structural alterations induced by specimen dehydration such as required for electron microscopy (EM).As simple as a STM may look, it provides a wealth of information ranging from mere surface topography and local variations in the tunnel-barrier height to local spectroscopy of electronic states and elasticity. On the other hand the physics involved in imaging biological specimens such as protein or DNA, membranes, or fatty acid monolayers, which are generally known to be poor conductors, is not quite understood yet. To cope with insulators the atomic force microscope (AFM), a relative of the STM, provides a means to obtain topographs and elasticity data.
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Schmidt-Ott, A., B. Marsen y K. Sattler. "Characterizing nanoparticles by scanning tunneling microscopy and scanning tunneling spectroscopy". Journal of Aerosol Science 28 (septiembre de 1997): S729—S730. http://dx.doi.org/10.1016/s0021-8502(97)85363-3.

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Fu, J., R. D. Young y T. V. Vorburger. "Long‐range scanning for scanning tunneling microscopy". Review of Scientific Instruments 63, n.º 4 (abril de 1992): 2200–2205. http://dx.doi.org/10.1063/1.1143139.

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Khaikin, M. S. "Scanning tunneling microscopy and spectroscopy". Uspekhi Fizicheskih Nauk 155, n.º 5 (1988): 158–59. http://dx.doi.org/10.3367/ufnr.0155.198805i.0158.

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Edel'man, Valeryan S. "Low-temperature scanning tunneling microscopy". Physics-Uspekhi 43, n.º 9 (30 de septiembre de 2000): 925–26. http://dx.doi.org/10.1070/pu2000v043n09abeh000807.

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Hameroff, S., J. Simic-Kratic, M. Trifunovic y D. Koruga. "SCANNING TUNNELING MICROSCOPY OF LUCIFERASE". Anesthesiology 77, Supplement (septiembre de 1992): A350. http://dx.doi.org/10.1097/00000542-199209001-00350.

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41

Edel'man, Valeryan S. "Low-temperature scanning tunneling microscopy". Uspekhi Fizicheskih Nauk 170, n.º 9 (2000): 995. http://dx.doi.org/10.3367/ufnr.0170.200009e.0995.

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Khaĭkin, M. S. "Scanning tunneling microscopy and spectroscopy". Soviet Physics Uspekhi 31, n.º 5 (31 de mayo de 1988): 473–74. http://dx.doi.org/10.1070/pu1988v031n05abeh003552.

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Mainsbridge, B. "Scanning tunneling microscopy of chloroplasts". Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures 9, n.º 2 (marzo de 1991): 1259. http://dx.doi.org/10.1116/1.585216.

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Miles, M. J., T. McMaster, H. J. Carr, A. S. Tatham, P. R. Shewry, J. M. Field, P. S. Belton et al. "Scanning tunneling microscopy of biomolecules". Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 8, n.º 1 (enero de 1990): 698–702. http://dx.doi.org/10.1116/1.576986.

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Chen, C. Julian y Walter F. Smith. "Introduction to Scanning Tunneling Microscopy". American Journal of Physics 62, n.º 6 (junio de 1994): 573–74. http://dx.doi.org/10.1119/1.17525.

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Paesler, M. A., P. J. Moyer, C. J. Jahncke, C. E. Johnson, R. C. Reddick, R. J. Warmack y T. L. Ferrell. "Analytical photon scanning tunneling microscopy". Physical Review B 42, n.º 10 (1 de octubre de 1990): 6750–53. http://dx.doi.org/10.1103/physrevb.42.6750.

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Hoffmann, D., A. Haas, T. Kunstmann, J. Seifritz y R. Möller. "Thermovoltage in scanning tunneling microscopy". Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 15, n.º 3 (mayo de 1997): 1418–22. http://dx.doi.org/10.1116/1.580553.

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Hoffmann, D., J. Seifritz, B. Weyers y R. Möller. "Thermovoltage in scanning tunneling microscopy". Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 109, n.º 1-2 (agosto de 2000): 117–25. http://dx.doi.org/10.1016/s0368-2048(00)00111-0.

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49

Yu, Edward T. "Cross-Sectional Scanning Tunneling Microscopy". Chemical Reviews 97, n.º 4 (junio de 1997): 1017–44. http://dx.doi.org/10.1021/cr960084n.

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Reihl, B., J. K. Gimzewski, R. Schlittler, M. Tschudy, R. Berndt, R. Gaisch y W. D. Schneider. "Low-temperature scanning tunneling microscopy". Physica B: Condensed Matter 197, n.º 1-4 (marzo de 1994): 64–71. http://dx.doi.org/10.1016/0921-4526(94)90199-6.

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