Artículos de revistas sobre el tema "Magneto- capacitance spectroscopy"
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Upadhyay, Sanjay Kumar, P. L. Paulose, Kartik K. Iyer y E. V. Sampathkumaran. "Spin-glass behavior and pyroelectric anomalies in a new lithium-based oxide, Li3FeRuO5". Physical Chemistry Chemical Physics 18, n.º 33 (2016): 23348–53. http://dx.doi.org/10.1039/c6cp04179e.
Texto completoRADANTSEV, V. F., G. I. KULAEV y V. V. KRUZHAEV. "KINETIC CONFINEMENT AND ZERO–ELECTRIC–FIELD BINDING IN HgCdTe ACCUMULATION LAYERS". International Journal of Modern Physics B 18, n.º 27n29 (30 de noviembre de 2004): 3637–40. http://dx.doi.org/10.1142/s0217979204027189.
Texto completoKailuweit, P., D. Reuter, A. D. Wieck, O. Wibbelhoff, A. Lorke, U. Zeitler y J. C. Maan. "Mapping of the hole wave functions of self-assembled InAs-quantum dots by magneto-capacitance–voltage spectroscopy". Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures 32, n.º 1-2 (mayo de 2006): 159–62. http://dx.doi.org/10.1016/j.physe.2005.12.031.
Texto completoKailuweit, Peter, Dirk Reuter, Andreas D. Wieck, Oliver Wibbelhoff, Axel Lorke, Uli Zeitler y J. C. Maan. "Erratum to “Mapping of the hole wave functions of self-assembled InAs-quantum dots by magneto-capacitance–voltage spectroscopy”". Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures 40, n.º 4 (febrero de 2008): 935–36. http://dx.doi.org/10.1016/j.physe.2007.08.074.
Texto completoMukhopadhyay, K., M. Ghosh, P. K. Mallick y P. K. Chakrabarti. "Enhanced electric property and magneto-capacitance co-efficient co-related with modulated Raman spectroscopy of GaFeO3 in (GaFeO3)0.50(Ni0.40Zn0.40Cu0.20Fe2O4)0.50". Materials Science and Engineering: B 189 (noviembre de 2014): 51–57. http://dx.doi.org/10.1016/j.mseb.2014.07.010.
Texto completoBunoiu, Madalin, Eugen Mircea Anitas, Gabriel Pascu, Larisa Marina Elisabeth Chirigiu y Ioan Bica. "Electrical and Magnetodielectric Properties of Magneto-Active Fabrics for Electromagnetic Shielding and Health Monitoring". International Journal of Molecular Sciences 21, n.º 13 (6 de julio de 2020): 4785. http://dx.doi.org/10.3390/ijms21134785.
Texto completoShauyenova, Danagul, Sol Jung, Haneul Yang, Haein Yim y Heongkyu Ju. "Electrical and Optical Properties of Co75Si15B10 Metallic Glass Nanometric Thin Films". Materials 14, n.º 1 (31 de diciembre de 2020): 162. http://dx.doi.org/10.3390/ma14010162.
Texto completoBalberg, I. y E. Gal. "Capacitance spectroscopy of a-Si:H". Journal of Non-Crystalline Solids 77-78 (diciembre de 1985): 323–26. http://dx.doi.org/10.1016/0022-3093(85)90666-0.
Texto completoAlim, Mohammad A., Sanjida Khanam y Martin A. Seitz. "Immittance Spectroscopy of Smart Components and Novel Devices". Active and Passive Electronic Components 16, n.º 3-4 (1994): 153–70. http://dx.doi.org/10.1155/1994/25820.
Texto completoZhang, Hui, Yong Wei Song y Zhen Lun Song. "Electrodeposited Ni/Al2O3 Composite Coating on NdFeB Permanent Magnets". Key Engineering Materials 373-374 (marzo de 2008): 232–35. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.373-374.232.
Texto completoTessmer, S. H., I. Kuljanishvili, C. Kayis, J. F. Harrison, C. Piermarocchi y T. A. Kaplan. "Nanometer-scale capacitance spectroscopy of semiconductor donor molecules". Physica B: Condensed Matter 403, n.º 19-20 (octubre de 2008): 3774–80. http://dx.doi.org/10.1016/j.physb.2008.07.003.
Texto completoMoertelmaier, M., H. P. Huber, C. Rankl y F. Kienberger. "Continuous capacitance–voltage spectroscopy mapping for scanning microwave microscopy". Ultramicroscopy 136 (enero de 2014): 67–72. http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2013.07.011.
Texto completoHein, Robert, Arseni Borissov, Martin D. Smith, Paul D. Beer y Jason J. Davis. "A halogen-bonding foldamer molecular film for selective reagentless anion sensing in water". Chemical Communications 55, n.º 33 (2019): 4849–52. http://dx.doi.org/10.1039/c9cc00335e.
Texto completoSizmann, R., J. Chu, F. Koch, J. Ziegler y H. Maier. "Sub-band and resonant level spectroscopy from capacitance measurements". Semiconductor Science and Technology 5, n.º 3S (1 de marzo de 1990): S111—S114. http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/5/3s/024.
Texto completoOk, Betül, Metin Gencten, Melih B. Arvas y Yucel Sahin. "Preparation of Copper Doped Conducting Polymers and Their Supercapacitor Applications". ECS Journal of Solid State Science and Technology 11, n.º 3 (1 de marzo de 2022): 033004. http://dx.doi.org/10.1149/2162-8777/ac57f5.
Texto completoLi, Jian V., Adam T. Neal, Shin Mou y Man Hoi Wong. "Investigation of a defect in the β-Ga2O3 substrate material from capacitance transients". Journal of Vacuum Science & Technology B 40, n.º 6 (diciembre de 2022): 064001. http://dx.doi.org/10.1116/6.0002045.
Texto completoBrezna, W., T. Roch, G. Strasser y J. Smoliner. "Quantitative scanning capacitance spectroscopy on GaAs and InAs quantum dots". Semiconductor Science and Technology 20, n.º 9 (22 de julio de 2005): 903–7. http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/20/9/002.
Texto completoRaeissi, B., J. Piscator, O. Engström, S. Hall, O. Buiu, M. C. Lemme, H. D. B. Gottlob, P. K. Hurley, K. Cherkaoui y H. J. Osten. "High-k-oxide/silicon interfaces characterized by capacitance frequency spectroscopy". Solid-State Electronics 52, n.º 9 (septiembre de 2008): 1274–79. http://dx.doi.org/10.1016/j.sse.2008.04.005.
Texto completoReuter, Dirk, Razvan Roescu, Minisha Mehta, Mirja Richter y A. D. Wieck. "Capacitance–voltage spectroscopy of post-growth annealed InAs quantum dots". Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures 40, n.º 6 (abril de 2008): 1961–64. http://dx.doi.org/10.1016/j.physe.2007.09.061.
Texto completoSobolev, M. M. y F. Y. Soldatenkov. "Capacitance Spectroscopy of Heteroepitaxial AlGaAs/GaAs p–i–n Structures". Semiconductors 54, n.º 10 (octubre de 2020): 1260–66. http://dx.doi.org/10.1134/s1063782620100280.
Texto completoVollbrecht, Joachim y Viktor V. Brus. "On Charge Carrier Density in Organic Solar Cells Obtained via Capacitance Spectroscopy". Advanced Electronic Materials 6, n.º 10 (11 de septiembre de 2020): 2000517. http://dx.doi.org/10.1002/aelm.202000517.
Texto completoAbouzar, Maryam H., Werner Moritz, Michael J. Schöning y Arshak Poghossian. "Capacitance-voltage and impedance-spectroscopy characteristics of nanoplate EISOI capacitors". physica status solidi (a) 208, n.º 6 (5 de mayo de 2011): 1327–32. http://dx.doi.org/10.1002/pssa.201001211.
Texto completoShutov, S. D. y A. A. Simashkevich. "Isothermal capacitance transient spectroscopy of gap states in a-As2Se3 film". Journal of Non-Crystalline Solids 176, n.º 2-3 (noviembre de 1994): 253–57. http://dx.doi.org/10.1016/0022-3093(94)90084-1.
Texto completoKim, M. C. y S. J. Park. "Isothermal capacitance transient spectroscopy study on (Ba, Sr)TiO3-based ptcr ceramics". Ferroelectrics 153, n.º 1 (1 de marzo de 1994): 267–72. http://dx.doi.org/10.1080/00150199408016578.
Texto completoWibbelhoff, O., C. Meier, A. Lorke, P. Schafmeister y A. D. Wieck. "Wave function mapping of self-assembled quantum dots by capacitance spectroscopy". Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures 21, n.º 2-4 (marzo de 2004): 516–20. http://dx.doi.org/10.1016/j.physe.2003.11.077.
Texto completoSobolev, M. M., A. R. Kovsh, V. M. Ustinov, A. Yu Egorov, A. E. Zhukov y Yu G. Musikhin. "Capacitance spectroscopy of deep states in InAs/GaAs quantum dot heterostructures". Semiconductors 33, n.º 2 (febrero de 1999): 157–64. http://dx.doi.org/10.1134/1.1187663.
Texto completoStreet, Robert A., Yang Yang, Barry C. Thompson y Iain McCulloch. "Capacitance Spectroscopy of Light Induced Trap States in Organic Solar Cells". Journal of Physical Chemistry C 120, n.º 39 (20 de septiembre de 2016): 22169–78. http://dx.doi.org/10.1021/acs.jpcc.6b06561.
Texto completoDe Visschere, Patrick y Karel Vanbesien. "Capacitance spectroscopy of alumina sol–gel capacitors with Al top contacts". Journal of Sol-Gel Science and Technology 45, n.º 3 (31 de enero de 2008): 225–35. http://dx.doi.org/10.1007/s10971-008-1687-2.
Texto completoLin, Yu-Yao, Adam T. Neal, Shin Mou y Jian V. Li. "Study of defects in β-Ga2O3 by isothermal capacitance transient spectroscopy". Journal of Vacuum Science & Technology B 37, n.º 4 (julio de 2019): 041204. http://dx.doi.org/10.1116/1.5109088.
Texto completoJiang, Huaning, Ying Tian, Xuewei Dong y Guozhi Zhao. "Gas–Liquid Co-Deposition Fabrication of MnO2 Nanosphere and Its Capacitive Properties in Alkaline and Neutral Electrolytes". Journal of Nanoelectronics and Optoelectronics 17, n.º 4 (1 de abril de 2022): 642–51. http://dx.doi.org/10.1166/jno.2022.3249.
Texto completoPlaczek-Popko, E., E. Zielony, J. Trzmiel, J. Szatkowski, Z. Gumienny, T. Wojtowicz, G. Karczewski, P. Kruszewski y L. Dobaczewski. "Capacitance spectroscopy of CdTe self-assembled quantum dots embedded in ZnTe matrix". Physica B: Condensed Matter 404, n.º 23-24 (diciembre de 2009): 5173–76. http://dx.doi.org/10.1016/j.physb.2009.08.274.
Texto completoKapteyn, C. M. A., M. Lion, R. Heitz, D. Bimberg, C. Miesner, T. Asperger, K. Brunner y G. Abstreiter. "Hole Emission from Ge/Si Quantum Dots Studied by Time-Resolved Capacitance Spectroscopy". physica status solidi (b) 224, n.º 1 (marzo de 2001): 261–64. http://dx.doi.org/10.1002/1521-3951(200103)224:1<261::aid-pssb261>3.0.co;2-3.
Texto completoFilikhin, I., E. Deyneka y B. Vlahovic. "Single-electron levels of InAs/GaAs quantum dot: Comparison with capacitance spectroscopy". Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures 31, n.º 1 (enero de 2006): 99–102. http://dx.doi.org/10.1016/j.physe.2005.10.002.
Texto completoIzpura, I., A. Mondaray, E. Munoz y E. Calleja. "On the spectroscopy of DX centres by transient techniques at constant capacitance". Semiconductor Science and Technology 10, n.º 1 (1 de enero de 1995): 25–31. http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/10/1/004.
Texto completoUrbaniak, A., A. Czudek, J. Dagar y E. L. Unger. "Capacitance spectroscopy of thin-film formamidinium lead iodide based perovskite solar cells". Solar Energy Materials and Solar Cells 238 (mayo de 2022): 111618. http://dx.doi.org/10.1016/j.solmat.2022.111618.
Texto completoAkilavasan, Jeganathan y Frank Marlow. "Electrochemical Impedance Spectroscopy at Redox-Type Liquid|Liquid Interfaces: The Capacitance Lag". Journal of Physical Chemistry C 124, n.º 7 (28 de enero de 2020): 4101–8. http://dx.doi.org/10.1021/acs.jpcc.9b10116.
Texto completoLiu, W. L., Y. L. Chen, A. A. Balandin y K. L. Wang. "Capacitance–Voltage Spectroscopy of Trapping States in GaN/AlGaN Heterostructure Field-Effect Transistors". Journal of Nanoelectronics and Optoelectronics 1, n.º 2 (1 de agosto de 2006): 258–63. http://dx.doi.org/10.1166/jno.2006.212.
Texto completoLi, Q., Y. F. Zhang, X. R. Han, C. Ju y Z. L. Wang. "A comparison of MoO3 nanorods and C/MoO3 nanocomposites for high-performance supercapacitor electrode". Chalcogenide Letters 18, n.º 7 (julio de 2021): 413–20. http://dx.doi.org/10.15251/cl.2021.187.413.
Texto completoIgalson, Malgorzata, Aleksander Urbaniak y Marika Edoff. "Reinterpretation of defect levels derived from capacitance spectroscopy of CIGSe solar cells". Thin Solid Films 517, n.º 7 (febrero de 2009): 2153–57. http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2008.10.092.
Texto completoGudovskikh, A. S., A. I. Baranov, A. V. Uvarov, D. A. Kudryashov y J.-P. Kleider. "Space charge capacitance study of GaP/Si multilayer structures grown by plasma deposition". Journal of Physics D: Applied Physics 55, n.º 13 (30 de diciembre de 2021): 135103. http://dx.doi.org/10.1088/1361-6463/ac41fa.
Texto completoKiyota, H., H. Okushi, K. Okano, Y. Akiba, T. Kurosu y M. Iida. "Isothermal capacitance transient spectroscopy study of defect states in polycrystalline diamond films". Diamond and Related Materials 2, n.º 8 (mayo de 1993): 1179–84. http://dx.doi.org/10.1016/0925-9635(93)90166-y.
Texto completoLim, Youngjoon y Sang-Yup Lee. "Capacitance Measurement of SiO2@BSA Core–Shell Nanoparticles Using AC Impedance Spectroscopy". Journal of The Electrochemical Society 162, n.º 8 (2015): G48—G53. http://dx.doi.org/10.1149/2.0751508jes.
Texto completoKapteyn, C. M. A., M. Lion, R. Heitz, D. Bimberg, P. Brunkov, B. Volovik, S. G. Konnikov, A. R. Kovsh y V. M. Ustinov. "Time-Resolved Capacitance Spectroscopy of Hole and Electron Levels in InAs/GaAs Quantum Dots". physica status solidi (b) 224, n.º 1 (marzo de 2001): 57–60. http://dx.doi.org/10.1002/1521-3951(200103)224:1<57::aid-pssb57>3.0.co;2-r.
Texto completoSchmidt, Matthias, Kerstin Brachwitz, Florian Schmidt, Martin Ellguth, Holger von Wenckstern, Rainer Pickenhain, Marius Grundmann, Gerhard Brauer y Wolfgang Skorupa. "Nickel-related defects in ZnO - A deep-level transient spectroscopy and photo-capacitance study". physica status solidi (b) 248, n.º 8 (10 de marzo de 2011): 1949–55. http://dx.doi.org/10.1002/pssb.201046634.
Texto completoSobolev, M. M., O. S. Ken, O. M. Sreseli, D. A. Yavsin y S. A. Gurevich. "Capacitance spectroscopy of structures with Si nanoparticles deposited onto crystalline silicon p-Si". Semiconductor Science and Technology 34, n.º 8 (5 de julio de 2019): 085003. http://dx.doi.org/10.1088/1361-6641/ab2c21.
Texto completoRather, Mudasir Hussain, Feroz Ahmad Mir y Peerzada Ajaz Ahmad. "Performance of a PANI/MnO2 Nanocomposite-Based Supercapacitor/Diode Under DC Magnetic Field and Visible and Ultraviolet Photon Irradiation". ECS Journal of Solid State Science and Technology 12, n.º 3 (1 de marzo de 2023): 033004. http://dx.doi.org/10.1149/2162-8777/acbfde.
Texto completoMuret, Pierre R. "Comprehensive characterization of interface and oxide states in metal/oxide/semiconductor capacitors by pulsed mode capacitance and differential isothermal capacitance spectroscopy". Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena 32, n.º 3 (mayo de 2014): 03D114. http://dx.doi.org/10.1116/1.4865912.
Texto completoPoghossian, A., D. T. Mai, Yu Mourzina y M. J. Schöning. "Impedance effect of an ion-sensitive membrane: characterisation of an EMIS sensor by impedance spectroscopy, capacitance–voltage and constant–capacitance method". Sensors and Actuators B: Chemical 103, n.º 1-2 (septiembre de 2004): 423–28. http://dx.doi.org/10.1016/j.snb.2004.04.071.
Texto completoWetzler, R., C. M. A. Kapteyn, R. Heitz, A. Wacker, E. Sch�ll y D. Bimberg. "Capacitance-Voltage Spectroscopy of Self-Organized InAs/GaAs Quantum Dots Embedded in a pn Diode". physica status solidi (b) 224, n.º 1 (marzo de 2001): 79–83. http://dx.doi.org/10.1002/1521-3951(200103)224:1<79::aid-pssb79>3.0.co;2-b.
Texto completoGudovskikh, A. S., J. P. Kleider y R. Stangl. "New approach to capacitance spectroscopy for interface characterization of a-Si:H/c-Si heterojunctions". Journal of Non-Crystalline Solids 352, n.º 9-20 (junio de 2006): 1213–16. http://dx.doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2005.11.100.
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