Artículos de revistas sobre el tema "Length metrology"
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Lee, Dong-Yeon, Dong-Min Kim y Dae-Gab Gweon. "Atomic Force Microscope for Standard Length Metrology". Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers A 30, n.º 12 (1 de diciembre de 2006): 1611–17. http://dx.doi.org/10.3795/ksme-a.2006.30.12.1611.
Texto completoStone, Jack A. "Uncalibrated Helium-Neon Lasers in Length Metrology". NCSLI Measure 4, n.º 3 (septiembre de 2009): 52–58. http://dx.doi.org/10.1080/19315775.2009.11721483.
Texto completoGarcía-Asenjo, Luis, Sergio Baselga, Chris Atkins y Pascual Garrigues. "Development of a Submillimetric GNSS-Based Distance Meter for Length Metrology". Sensors 21, n.º 4 (6 de febrero de 2021): 1145. http://dx.doi.org/10.3390/s21041145.
Texto completoBuchta, Zdeněk, Martin Šarbort, Martin Čížek, Václav Hucl, Šimon Řeřucha, Tomáš Pikálek, Štěpánka Dvořáčková et al. "System for automatic gauge block length measurement optimized for secondary length metrology". Precision Engineering 49 (julio de 2017): 322–31. http://dx.doi.org/10.1016/j.precisioneng.2017.03.002.
Texto completoWieczorowski, Michał, Paweł Pawlus y Bartosz Gapiński. "Perspectives of modern metrology". Mechanik 92, n.º 12 (9 de diciembre de 2019): 767–73. http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2019.12.106.
Texto completoTANAKA, Shinichi. "Non-Contact 3D Metrology by Multi Wave-Length Interferometer". Journal of the Japan Society for Precision Engineering 85, n.º 8 (5 de agosto de 2019): 695–98. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.85.695.
Texto completoBlumröder, Ulrike, Ronald Füßl, Thomas Fröhlich, Eberhard Manske y Rostyslav Mastylo. "FREQUENCY COMB-COUPLED METROLOGY LASERS FOR NANOPOSITIONING AND NANO MEASURING MACHINES". Measuring Equipment and Metrology 82, n.º 4 (2021): 36–42. http://dx.doi.org/10.23939/istcmtm2021.04.036.
Texto completoJing, Ren y Xin Chang. "A determinate method of metrology attribute benchmark of commercial banks’ management efficiency". PLOS ONE 17, n.º 8 (4 de agosto de 2022): e0272286. http://dx.doi.org/10.1371/journal.pone.0272286.
Texto completoMateo, Ana Baselga y Zeb W. Barber. "Precision and accuracy testing of FMCW ladar-based length metrology". Applied Optics 54, n.º 19 (26 de junio de 2015): 6019. http://dx.doi.org/10.1364/ao.54.006019.
Texto completoRöske, Dirk. "Some problems concerning the lever arm length in torque metrology". Measurement 20, n.º 1 (enero de 1997): 23–32. http://dx.doi.org/10.1016/s0263-2241(97)00006-7.
Texto completoWieczorowski, Michał. "Digitalization of surfaces in micro, meso and macro applications". Mechanik 91, n.º 11 (12 de noviembre de 2018): 944–49. http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2018.11.166.
Texto completoChiffre, L. De, D. González-Madruga, G. Dalla Costa, M. R. Sonne, A. Mohammadi, J. H. Hattel, H. N. Hansen et al. "Accurate measurements in a production environment using dynamic length metrology (DLM)". Procedia CIRP 75 (2018): 343–48. http://dx.doi.org/10.1016/j.procir.2018.04.074.
Texto completoNiwa, Y., K. Arai, A. Ueda, M. Sakagami, N. Gouda, Y. Kobayashi, Y. Yamada y T. Yano. "Laser interferometric high-precision geometry (angle and length) monitor for JASMINE". Proceedings of the International Astronomical Union 3, S248 (octubre de 2007): 280–81. http://dx.doi.org/10.1017/s1743921308019315.
Texto completoCenteno González, Luz María, Eduardo Castillo Castañeda, Luis Omar Becerra Santiago y Alberto Rochín García. "A magnetic suspension system for measuring liquid density". Ingeniería e Investigación 33, n.º 1 (1 de enero de 2013): 46–51. http://dx.doi.org/10.15446/ing.investig.v33n1.37666.
Texto completoSchamp, C. T. "High-Resolution Metrology in the TEM". Microscopy Today 20, n.º 3 (mayo de 2012): 46–49. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929512000363.
Texto completoPostek, Michael T., Marylyn Bennett, Nestor J. Zaluzec, Thomas Wheatley y Samuel Jones. "National Institute of Standards and Technology - Texas Instruments Industrial Collaboratory Testbed". Microscopy and Microanalysis 4, S2 (julio de 1998): 22–23. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600020237.
Texto completoZhao, Yan, Xing Hua Qu, Yong Tian, Rui Jun Lu y Hong Guang Liu. "Investigation on the Metrology of Conical Thread Gauge". Key Engineering Materials 693 (mayo de 2016): 150–54. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.693.150.
Texto completoKupcevičová, Jelena. "Русская и украинская историческая метрология и её отражение в паремиях". Studia Slavica XXVI, n.º 1 (2022): 55–66. http://dx.doi.org/10.15452/studiaslavica.2022.26.0004.
Texto completoRickgauer, John Peter, Derek N. Fuller y Douglas E. Smith. "DNA as a Metrology Standard for Length and Force Measurements with Optical Tweezers". Biophysical Journal 91, n.º 11 (diciembre de 2006): 4253–57. http://dx.doi.org/10.1529/biophysj.106.089524.
Texto completoMINOSHIMA, Kaoru, Thomas R. SCHIBLI, Hajime INABA, Youichi BITOU, Feng-Lei HONG, Atsushi ONAE y Hirokazu MATSUMOTO. "Precision Length Metrology Based on the Time and Frequency Standards Using Optical Combs". Review of Laser Engineering 35, n.º 10 (2007): 642–48. http://dx.doi.org/10.2184/lsj.35.642.
Texto completoBarwood, G. P., P. Gill y W. R. C. Rowley. "High-accuracy length metrology using multiple-stage swept-frequency interferometry with laser diodes". Measurement Science and Technology 9, n.º 7 (1 de julio de 1998): 1036–41. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/9/7/005.
Texto completoWilson, Marshall, Alexandre Savtchouk, Igor Tasarov, John D'Amico, Piotr Edelman, Nick Kochey y Jacek Lagowski. "Digital SPV Diffusion Length Metrology (E8-Fe) for Ultra-High Purity Silicon Wafers". ECS Transactions 16, n.º 6 (18 de diciembre de 2019): 285–301. http://dx.doi.org/10.1149/1.2980312.
Texto completoFranz, Christoph, Peter Abels, Raphael Rolser y Michael Becker. "Energy Input per Unit Length – High Accuracy Kinematic Metrology in Laser Material Processing". Physics Procedia 12 (2011): 411–20. http://dx.doi.org/10.1016/j.phpro.2011.03.151.
Texto completoNaeim, Ihab H. "In-Depth Practical Study of Length Metrology With Laser Interferometers Applying Different Techniques". International Journal of Applied Physics 7, n.º 2 (25 de agosto de 2020): 36–42. http://dx.doi.org/10.14445/23500301/ijap-v7i2p106.
Texto completoBelfi, J., N. Beverini, D. Cuccato, A. Di Virgilio, E. Maccioni, A. Ortolan y R. Santagata. "Interferometric length metrology for the dimensional control of ultra-stable ring laser gyroscopes". Classical and Quantum Gravity 31, n.º 22 (28 de octubre de 2014): 225003. http://dx.doi.org/10.1088/0264-9381/31/22/225003.
Texto completoTaylor, S., J. Mardinly, M. A. O'Keefe y R. Gronsky. "HRTEM Image Simulations for Gate Oxide Metrology". Microscopy and Microanalysis 6, S2 (agosto de 2000): 1080–81. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600037892.
Texto completoZakharenko, Y. G., N. A. Kononova, V. L. Fedorin, Z. V. Fomkina y K. V. Chekirda. "Prospects of development of the reference base of the Russian Federation in the field of length measurements". Izmeritel`naya Tekhnika, n.º 2 (2020): 3–5. http://dx.doi.org/10.32446/0368-1025it.2020-2-3-5.
Texto completoMedvedev, P. A. y M. V. Novgorodskaya. "Mathematical models’ analysis of rectangular coordinates’calculation in the expanded zones of Gauss Kruger conformal projection". Geodesy and Cartography 921, n.º 3 (20 de abril de 2017): 14–19. http://dx.doi.org/10.22389/0016-7126-2017-921-3-14-19.
Texto completoWolańczyk, Franciszek. "Gallium as a Metrology Substance for Measuring Thermal Conductivity of Metals". Applied Mechanics and Materials 831 (abril de 2016): 144–50. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.831.144.
Texto completoChen, Jin Long, He Min Wang, Yu Wen Qin y Xin Hua Ji. "An Experimental Study of the Displacement and Strain Fields across Interphases in Thermoplastic Composites". Key Engineering Materials 306-308 (marzo de 2006): 959–64. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.306-308.959.
Texto completoBlumröder, Ulrike, Paul Köchert, Thomas Fröhlich, Thomas Kissinger, Ingo Ortlepp, Jens Flügge, Harald Bosse y Eberhard Manske. "A GPS-Referenced Wavelength Standard for High-Precision Displacement Interferometry at λ = 633 nm". Sensors 23, n.º 3 (3 de febrero de 2023): 1734. http://dx.doi.org/10.3390/s23031734.
Texto completoKatić, Marko, Nenad Ferdelji y Danijel Šestan. "Investigation of Temperature-Induced Errors in XCT Metrology". International Journal of Automation Technology 14, n.º 3 (5 de mayo de 2020): 484–90. http://dx.doi.org/10.20965/ijat.2020.p0484.
Texto completoDobosz, Marek. "Laser diode distance measuring interferometer - metrological properties". Metrology and Measurement Systems 19, n.º 3 (1 de octubre de 2012): 553–64. http://dx.doi.org/10.2478/v10178-012-0048-1.
Texto completoHolá, Miroslava, Jan Hrabina, Martin Sarbort, Jindrich Oulehla, Ondrej Cíp y Josef Lazar. "Contribution of the Refractive Index Fluctuations to the Length Noise in Displacement Interferometry". Measurement Science Review 15, n.º 5 (1 de octubre de 2015): 263–67. http://dx.doi.org/10.1515/msr-2015-0036.
Texto completoSanchidrián-Vaca, Carlos y Carlos Sabín. "Parameter Estimation of Wormholes beyond the Heisenberg Limit". Universe 4, n.º 11 (6 de noviembre de 2018): 115. http://dx.doi.org/10.3390/universe4110115.
Texto completoMiller, Tatiana, Krzysztof Gajda y Aneta Łętocha. "Reliability of measurements performed in the IZTW accredited laboratory in the field of surface topography and product geometry". Mechanik 91, n.º 4 (9 de abril de 2018): 307–10. http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2018.4.47.
Texto completoThywissen, J. H. "Using neutral atoms and standing light waves to form a calibration artifact for length metrology". Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures 16, n.º 6 (noviembre de 1998): 3841. http://dx.doi.org/10.1116/1.590420.
Texto completoZhang, Haijun, Dongxian Zhang y Xiaofeng Lin. "Dual imaging-unit atomic force microscope for nanometer order length metrology based on reference scales". Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures 20, n.º 5 (2002): 1935. http://dx.doi.org/10.1116/1.1502700.
Texto completoZhang, Dongxian, Haijun Zhang y Xiaofeng Lin. "Wide-range length metrology by dual-imaging-unit atomic force microscope based on porous alumina". Microscopy Research and Technique 64, n.º 3 (2004): 223–27. http://dx.doi.org/10.1002/jemt.20060.
Texto completoNeyezhmakov, Pavel, Alexander Prokopov, Tatiana Panasenko y Andrii Shloma. "Analysis of the temperature component of the combined standard uncertainty of the refractive index according to the test data of the control system for meteorological parameters developed for the Lyptsi geodetic polygon". Ukrainian Metrological Journal, n.º 4 (30 de diciembre de 2021): 34–38. http://dx.doi.org/10.24027/2306-7039.4.2021.250411.
Texto completoKovalchuk, V. V. y M. V. Smorzh. "Metrology of the Real Nanoclusters: Structure and Optical Characteristics". Metrology and instruments, n.º 1 (2 de marzo de 2020): 54–58. http://dx.doi.org/10.33955/2307-2180(1)2020.54-58.
Texto completoGastaldi, B., L. Vieira, F. Huerta Yshikawa, B. Faust y B. Eves. "Calibration of angle standards". Metrologia 60, n.º 1A (1 de enero de 2023): 04002. http://dx.doi.org/10.1088/0026-1394/60/1a/04002.
Texto completoPratt, Jon R., Douglas T. Smith, David B. Newell, John A. Kramar y Eric Whitenton. "Progress toward Système International d'Unités traceable force metrology for nanomechanics". Journal of Materials Research 19, n.º 1 (enero de 2004): 366–79. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2004.19.1.366.
Texto completoKeck, Christian y René Schödel. "Reference Measurement of Roundwood by Fringe Projection". Forest Products Journal 71, n.º 4 (1 de octubre de 2021): 352–61. http://dx.doi.org/10.13073/fpj-d-21-00024.
Texto completoQuagliotti, Danilo. "Modeling the systematic behavior at the micro and nano length scales". Surface Topography: Metrology and Properties 10, n.º 1 (25 de enero de 2022): 015011. http://dx.doi.org/10.1088/2051-672x/ac4ba7.
Texto completoFang, Wenqiang, Joyce Mok y Haneesh Kesari. "Effects of geometric nonlinearity in an adhered microbeam for measuring the work of adhesion". Proceedings of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences 474, n.º 2211 (marzo de 2018): 20170594. http://dx.doi.org/10.1098/rspa.2017.0594.
Texto completoSiewert, F., J. Buchheim, T. Zeschke, M. Störmer, G. Falkenberg y R. Sankari. "On the characterization of ultra-precise X-ray optical components: advances and challenges inex situmetrology". Journal of Synchrotron Radiation 21, n.º 5 (27 de agosto de 2014): 968–75. http://dx.doi.org/10.1107/s1600577514016221.
Texto completoPakkratoke, Montree, Nitiwat Sasom, Koichiro Hattori y Nae Hyung Tak. "APMP.M.H-S5 final report of the supplementary comparison of Brinell hardness". Metrologia 59, n.º 1A (1 de enero de 2022): 07019. http://dx.doi.org/10.1088/0026-1394/59/1a/07019.
Texto completoPakkratoke, Montree, Nitiwat Sasom, Koichiro Hattori y Nae Hyung Tak. "APMP.M.H-S6 final report of the supplementary comparison of Vickers hardness". Metrologia 59, n.º 1A (1 de enero de 2022): 07020. http://dx.doi.org/10.1088/0026-1394/59/1a/07020.
Texto completoLipus, L. C., B. Acko y J. Tompa. "Experimental determination of influences on a gauge block’s stack length". Advances in Production Engineering & Management 17, n.º 3 (30 de septiembre de 2022): 339–49. http://dx.doi.org/10.14743/apem2022.3.440.
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