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Libros sobre el tema "Ion Beam Analysis (IBA)"

Autor: Grafiati
Publicado: 25 de mayo de 2024

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1

Jalabert, Denis, Ian Vickridge y Amal Chabli. Swift Ion Beam Analysis in Nanosciences. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2017. http://dx.doi.org/10.1002/9781119005063.

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2

Wang, Yongqiang. Handbook of modern ion beam materials analysis. 2a ed. Warrendale, PA: Materials Research Society, 2009.

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3

R, Tesmer Joseph y Nastasi Michael Anthony 1950-, eds. Handbook of modern ion beam materials analysis. Pittsburgh, Pa: Materials Research Society, 1995.

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4

Wang, Yongqiang. Handbook of modern ion beam materials analysis. 2a ed. Warrendale, PA: Materials Research Society, 2009.

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5

Komarov, F. F. Non-destructive ion beam analysis of surfaces. New York: Gordon and Breach Science Publishers, 1990.

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6

Götz, Gerhard, Prof. Dr. sc. nat. y Gärtner Konrad, eds. High energy ion beam analysis of solids. Berlin: Akademie-Verlag, 1988.

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7

International Conference on Ion Beam Analysis (11th 1993 Balatonfüred, Hungary). Ion beam analysis: Proceedings of the eleventh International Conference on Ion Beam Analysis, Balatonfüred, Hungary, July 5-9, 1993. Editado por Gyulai J. Amsterdam: North-Holland, 1994.

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8

Wang, Yongqiang. Handbook of modern ion beam materials analysis: Appendices. 2a ed. Warrendale, PA: Materials Research Society, 2009.

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Wang, Yongqiang. Handbook of modern ion beam materials analysis: Appendices. 2a ed. Warrendale, PA: Materials Research Society, 2009.

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10

International, Conference on Ion Beam Analysis (10th 1991 Eindhoven The Netherlands). Ion beam analysis: Proceedings of the Tenth International Conference on Ion Beam Analysis, Eindhoven, The Netherlands, 1-5 July, 1991. Amsterdam: North-Holland, 1992.

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Pecseli, H. L. A statistical analysis of ion-beam generated plasma turbulence. Roskilde: Riso National Laboratory, 1988.

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name, No. Ion beam analysis of surfaces and interfaces of condensed matter systems. Hauppauge, NY: Nova Science Publishers, 2003.

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International Conference on Ion Beam Analysis (11th 1993 Balatonfüred, Hungary). Eleventh International Conference on Ion Beam Analysis: Abstract book : Balatonfüred, Hungary, July 5-9, 1993. [S.l: s.n.], 1993.

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International Symposium on Materials Science Applications of Ion Beam Techniques (1996 Seeheim, German). Materials science applications of ion beam techniques: Proceedings of the International Symposium on Materials Science Applications of Ion Beam Techniques, incorporating the 1st German-Australian Workshop on Ion Beam Analysis, Seeheim, Germany, September 9-12, 1996. Editado por Balogh A. G, Walter G y German-Australian Workshop on Ion Beam Analysis (1st : 1996 : Seeheim, Germany). Uetikon-Zuerich, Switzerland: Trans Tech Publications, 1997.

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15

P, Coad J. y Demortier G, eds. Analysis by a combination of ion-beam (accelerator-based) and surface-specific techniques (IB-SA93), 5-7 April 1993, Namur, Belgium. Oxford: Pergamon, 1994.

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P, Coad J., ed. Analysis by a combination of ion-beam (accelerator-based) and surface-specific techniques: Papers from the IB-SA90 Conference, 5-7 September1990, Namur, Belgium. Oxford: Pergamon, 1991.

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Nastasi, Michael, James W. Mayer y Yongqiang Wang. Ion Beam Analysis. CRC Press, 2014. http://dx.doi.org/10.1201/b17310.

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18

Nastasi, Michael, Yongqiang Wang y James W. Mayer. Ion Beam Analysis. Taylor & Francis Group, 2019.

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19

Nastasi, Michael, Yongqiang Wang y James W. Mayer. Ion Beam Analysis. Taylor & Francis Group, 2014.

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20

Jalabert, Denis, Ian Vickridge y Amal Chabli. Swift Ion Beam Analysis in Nanosciences. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2017.

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Jalabert, Denis, Ian Vickridge y Amal Chabli. Swift Ion Beam Analysis in Nanosciences. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2017.

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Jalabert, Denis, Ian Vickridge y Amal Chabli. Swift Ion Beam Analysis in Nanosciences. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2017.

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Rimini, E. y James W. Mayer. Ion Beam Handbook for Material Analysis. Elsevier Science & Technology Books, 2012.

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Jalabert, Denis, Ian Vickridge y Amal Chabli. Swift Ion Beam Analysis in Nanosciences. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2017.

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Nastasi, Michael, Yongqiang Wang y James W. Mayer. Ion Beam Analysis: Fundamentals and Applications. Taylor & Francis Group, 2014.

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Nastasi, Michael, Yongqiang Wang y James W. Mayer. Ion Beam Analysis: Fundamentals and Applications. Taylor & Francis Group, 2014.

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Ion Beam Analysis: Fundamentals and Applications. Taylor & Francis Group, 2014.

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28

Meyer, Otto. Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2. Springer, 2012.

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Handbook of modern ion beam materials analysis. 2a ed. Warrendale, PA: Materials Research Society, 2009.

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Meyer, Otto. Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 1. Springer, 2013.

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Knudsen, H., H. H. Andersen y J. Bøttiger. Ion Beam Analysis: Proceedings of the Fourth International Conference on Ion Beam Analysis, Aarhus, June 25-29 1979. Elsevier Science & Technology Books, 2017.

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Handbook of modern ion beam materials analysis: Appendices. 2a ed. Warrendale, PA: Materials Research Society, 2009.

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33

IAEA. Development of a Reference Database for Ion Beam Analysis : Report of a Coordinated Research Project on Reference Database for Ion Beam Analysis. International Atomic Energy Agency, 2015.

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34

Wang, Y. y M. Nastasi. Handbook of Modern Ion Beam Materials Analysis 2 Volume Set. Materials Research Society, 2010.

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35

Ion Beam Analysis of Surfaces and Interfaces of Condensed Matter Systems. Nova Science Publishers, 2002.

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36

(Editor), Joseph R. Tesmer y Michael Anthony Nastasi (Editor), eds. Handbook of Modern Ion Beam Materials Analysis: Materials Research Society Handbook. Materials Research Society, 1995.

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37

IAEA. Improvement of the Reliability and Accuracy of Heavy Ion Beam Analysis. International Atomic Energy Agency, 2018.

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38

Grime, G. W. y F. Watt. Beam Optics of Quadruple Probe-Forming Systems. Adam Hilger, 1985.

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39

Ltd, ICON Group. ION BEAM APPLICATIONS SA: Labor Productivity Benchmarks and International Gap Analysis (Labor Productivity Series). 2a ed. Icon Group International, 2000.

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40

Ltd, ICON Group. ION BEAM APPLICATIONS SA: International Competitive Benchmarks and Financial Gap Analysis (Financial Performance Series). 2a ed. Icon Group International, 2000.

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41

IAEA. Ion Beam Techniques for the Analysis of Light Elements in Thin Films, Including Depth Profiling. International Atomic Energy Agency, 2004.

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42

Atomic and Nuclear Analytical Methods: XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques. Springer-Verlag, Heidelberg, Germany, 2007.

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