Literatura académica sobre el tema "Electrostatic Discharge Realiability of Electron Devices"
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Artículos de revistas sobre el tema "Electrostatic Discharge Realiability of Electron Devices"
Melnikov, Andrey y Vladimir Obukhov. "Deceleration of ion and plasma flows in Hall-effect electrostatic systems". Physics of Plasmas 30, n.º 3 (marzo de 2023): 033505. http://dx.doi.org/10.1063/5.0127223.
Texto completoChen, Shen Li y Wen Ming Lee. "Power MOSFET Devices and ESD Reliability Evaluations". Applied Mechanics and Materials 268-270 (diciembre de 2012): 1361–64. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.268-270.1361.
Texto completoRegodón, Guillermo Fernando, Juan Manuel Díaz-Cabrera, José Ignacio Fernández Palop y Jerónimo Ballesteros. "Low Electron Temperature Plasma Diagnosis: Revisiting Langmuir Electrostatic Probes". Coatings 11, n.º 10 (26 de septiembre de 2021): 1158. http://dx.doi.org/10.3390/coatings11101158.
Texto completoHenriques, Alexandra, Amin Rabiei Baboukani, Borzooye Jafarizadeh, Azmal Huda Chowdhury y Chunlei Wang. "Nano-Confined Tin Oxide in Carbon Nanotube Electrodes via Electrostatic Spray Deposition for Lithium-Ion Batteries". Materials 15, n.º 24 (19 de diciembre de 2022): 9086. http://dx.doi.org/10.3390/ma15249086.
Texto completoKurilenkov, Yurii, Vladimir Tarakanov, Alexander Oginov, Sergei Gus’kov y Igor Samoylov. "On the plasma quasineutrality under oscillatory confinement based on a nanosecond vacuum discharge". Applied Physics, n.º 6 (24 de diciembre de 2021): 14–23. http://dx.doi.org/10.51368/1996-0948-2021-6-14-23.
Texto completoYadav, Nitish, Kuldeep Mishra y SA Hashmi. "Nanofiller-incorporated porous polymer electrolyte for electrochemical energy storage devices". High Performance Polymers 30, n.º 8 (6 de mayo de 2018): 957–70. http://dx.doi.org/10.1177/0954008318774392.
Texto completoZirkle, Thomas A., Matthew J. Filmer, Jonathan Chisum, Alexei O. Orlov, Eva Dupont-Ferrier, Joffrey Rivard, Matthew Huebner, Marc Sanquer, Xavier Jehl y Gregory L. Snider. "Radio Frequency Reflectometry of Single-Electron Box Arrays for Nanoscale Voltage Sensing Applications". Applied Sciences 10, n.º 24 (9 de diciembre de 2020): 8797. http://dx.doi.org/10.3390/app10248797.
Texto completoSheha, E. y E. M. Kamar. "Structural characteristic of vanadium(V) oxide/sulfur composite cathode for magnesium battery applications". Materials Science-Poland 37, n.º 4 (1 de diciembre de 2019): 570–76. http://dx.doi.org/10.2478/msp-2019-0079.
Texto completoMainka, Julia, Wei Gao, Nanfei He, Jérôme Dillet y Olivier Lottin. "A General Equivalent Electrical Circuit Model for the Characterization of MXene/Graphene Oxide Hybrid-Fiber Supercapacitors By Electrochemical Impedance Spectroscopy". ECS Meeting Abstracts MA2022-01, n.º 1 (7 de julio de 2022): 152. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-011152mtgabs.
Texto completoJin, Jae Sik y Joon Sik Lee. "Electron-Phonon Interaction Model and Its Application to Thermal Transport Simulation During Electrostatic Discharge Event in NMOS Transistor". Journal of Heat Transfer 131, n.º 9 (22 de junio de 2009). http://dx.doi.org/10.1115/1.3133882.
Texto completoTesis sobre el tema "Electrostatic Discharge Realiability of Electron Devices"
Kranthi, Nagothu Karmel. "ESD Reliability Physics and Reliability Aware Design of Advanced High Voltage CMOS & Beyond CMOS Devices". Thesis, 2021. https://etd.iisc.ac.in/handle/2005/5474.
Texto completoActas de conferencias sobre el tema "Electrostatic Discharge Realiability of Electron Devices"
Kueing-Long Chen, G. Giles y D. B. Scott. "Electrostatic discharge protection for one micron CMOS devices and circuits". En 1986 International Electron Devices Meeting. IRE, 1986. http://dx.doi.org/10.1109/iedm.1986.191226.
Texto completoLi, Cheng, Mengfu Di, Zijin Pan y Albert Wang. "A Study of Materials Impacts on Graphene Electrostatic Discharge Switches". En 2021 5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM). IEEE, 2021. http://dx.doi.org/10.1109/edtm50988.2021.9420816.
Texto completoWang, Yuan. "A SPICE-Based Simulation Method for System Efficient Electrostatic Discharge Design". En 2022 6th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM). IEEE, 2022. http://dx.doi.org/10.1109/edtm53872.2022.9798202.
Texto completoLiou, Juin J. "Electrostatic discharge (ESD): A spoiler to development of next-generation technologies?" En 2010 IEEE International Conference of Electron Devices and Solid- State Circuits (EDSSC). IEEE, 2010. http://dx.doi.org/10.1109/edssc.2010.5713681.
Texto completoZhiwei Liu, Aihua Dong, Zhuoyu Ji, Long Wang, Linfeng He, Wei Liang, Jiabin Miao y Juin J. Liou. "Evaluation of electrostatic discharge (ESD) characteristics for bottom contact organic thin film transistor". En 2013 IEEE International Conference of Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC). IEEE, 2013. http://dx.doi.org/10.1109/edssc.2013.6628187.
Texto completoZhou, Yuanzhong y Jean-Jacques Hajjar. "A circuit model of electrostatic discharge generators for ESD and EMC SPICE simulation". En 2014 IEEE International Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC). IEEE, 2014. http://dx.doi.org/10.1109/edssc.2014.7061083.
Texto completoKonstantinov, U. A., E. D. Pozhidaev y S. R. Tumkovskiy. "Investigation of Electrostatic Discharge Effect on High-power Mosfet-Transistors Considering the Influence of PCB". En 2019 International Seminar on Electron Devices Design and Production (SED). IEEE, 2019. http://dx.doi.org/10.1109/sed.2019.8798468.
Texto completoJizhi, Liu, Liao Changjun, Liu Zhiwei y Hou Fei. "A diode-triggered silicon-controlled rectifier with small diode width for electrostatic discharge applications". En 2017 International Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC). IEEE, 2017. http://dx.doi.org/10.1109/edssc.2017.8126435.
Texto completoGazizov, Rustam R. "Evaluation of the Electrostatic Discharge Impact on the Printed Circuit Board: a Case Study". En 2022 IEEE 23rd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials (EDM). IEEE, 2022. http://dx.doi.org/10.1109/edm55285.2022.9855087.
Texto completoKirillov, V. Yu y M. M. Tomilin. "Calculation of strength of electrical and magnetic fields at a distances commesurate with a length chanel of electrostatic discharge". En 2016 International Conference on Actual Problems of Electron Devices Engineering (APEDE). IEEE, 2016. http://dx.doi.org/10.1109/apede.2016.7878903.
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