Artículos de revistas sobre el tema "Dimensional Nanometrology"
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MISUMI, Ichiko. "Standard Sample in Dimensional Nanometrology". Journal of the Japan Society for Precision Engineering 74, n.º 3 (2008): 222–25. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.74.222.
Texto completoYacoot, Andrew y Ludger Koenders. "Recent developments in dimensional nanometrology using AFMs". Measurement Science and Technology 22, n.º 12 (25 de octubre de 2011): 122001. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/22/12/122001.
Texto completoTöpfer, Susanne C. N., Uwe Nehse y Gerhard Linß. "Automated inspections for dimensional micro- and nanometrology". Measurement 40, n.º 2 (febrero de 2007): 243–54. http://dx.doi.org/10.1016/j.measurement.2006.06.010.
Texto completoSimão, C., D. Tuchapsky, W. Khunsin, A. Amann, M. A. Morris y C. M. Sotomayor Torres. "Dimensional and defectivity nanometrology of directed self-assembly patterns". physica status solidi (c) 12, n.º 3 (25 de febrero de 2015): 267–70. http://dx.doi.org/10.1002/pssc.201400211.
Texto completoMalinovski, I., R. S. França, M. S. Lima, M. S. Bessa, C. R. Silva y I. B. Couceiro. "High-resolution interferometic microscope for traceable dimensional nanometrology in Brazil". Journal of Physics: Conference Series 733 (julio de 2016): 012060. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/733/1/012060.
Texto completoTondare, Vipin N., John S. Villarrubia y András E. Vladár. "Three-Dimensional (3D) Nanometrology Based on Scanning Electron Microscope (SEM) Stereophotogrammetry". Microscopy and Microanalysis 23, n.º 5 (18 de septiembre de 2017): 967–77. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927617012521.
Texto completoJäger, Gerd, T. Hausotte, Eberhard Manske, H. J. Büchner, R. Mastylo, N. Dorozhovets, R. Füßl y R. Grünwald. "Nanometrology – Nanopositioning- and Nanomeasuring Machine with Integrated Nanopobes". Materials Science Forum 505-507 (enero de 2006): 7–12. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.505-507.7.
Texto completoJorio, Ado. "Raman Spectroscopy in Graphene-Based Systems: Prototypes for Nanoscience and Nanometrology". ISRN Nanotechnology 2012 (6 de diciembre de 2012): 1–16. http://dx.doi.org/10.5402/2012/234216.
Texto completoKrumrey, Michael, Gudrun Gleber, Frank Scholze y Jan Wernecke. "Synchrotron radiation-based x-ray reflection and scattering techniques for dimensional nanometrology". Measurement Science and Technology 22, n.º 9 (8 de agosto de 2011): 094032. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/22/9/094032.
Texto completoEndres, J., A. Diener, M. Wurm y B. Bodermann. "Investigations of the influence of common approximations in scatterometry for dimensional nanometrology". Measurement Science and Technology 25, n.º 4 (5 de marzo de 2014): 044004. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/25/4/044004.
Texto completoSchuler, Alexander, Albert Weckenmann y Tino Hausotte. "Setup and evaluation of a sensor tilting system for dimensional micro- and nanometrology". Measurement Science and Technology 25, n.º 6 (30 de abril de 2014): 064010. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/25/6/064010.
Texto completoGonda, S., T. Kurosawa y Y. Tanimura. "Mechanical performances of a symmetrical, monolithic three-dimensional fine-motion stage for nanometrology". Measurement Science and Technology 10, n.º 11 (30 de septiembre de 1999): 986–93. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/10/11/302.
Texto completoThiesler, Jan, Thomas Ahbe, Rainer Tutsch y Gaoliang Dai. "True 3D Nanometrology: 3D-Probing with a Cantilever-Based Sensor". Sensors 22, n.º 1 (31 de diciembre de 2021): 314. http://dx.doi.org/10.3390/s22010314.
Texto completoStöhr, Frederik, Jonas Michael-Lindhard, Hugh Simons, Henning Friis Poulsen, Jörg Hübner, Ole Hansen, Joergen Garnaes y Flemming Jensen. "Three-dimensional nanometrology of microstructures by replica molding and large-range atomic force microscopy". Microelectronic Engineering 141 (junio de 2015): 6–11. http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2014.11.026.
Texto completoSun, Zhong Yuan, Alexander Schuler y Tino Hausotte. "Development of a 3D Tunneling Current Probing System for Micro- and Nano-Coordinate Metrology". Applied Mechanics and Materials 870 (septiembre de 2017): 126–31. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.870.126.
Texto completoSong, Se Ahn, Tatsumi Hirano, Jong Bong Park, Kazutoshi Kaji, Ki Hong Kim y Shohei Terada. "Searching Ultimate Nanometrology for AlOx Thickness in Magnetic Tunnel Junction by Analytical Electron Microscopy and X-ray Reflectometry". Microscopy and Microanalysis 11, n.º 5 (28 de septiembre de 2005): 431–45. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927605050580.
Texto completoBosse, Harald y Günter Wilkening. "Dimensionelle Nanometrologie in der PTB – eine Übersicht (Dimensional Nanometrology at PTB – a Survey)". tm - Technisches Messen 73, n.º 1/2006 (1 de enero de 2006). http://dx.doi.org/10.1524/teme.2006.73.1.4.
Texto completoDai, Gaoliang y Xiukun Hu. "Correction of Interferometric High-Order Nonlinearity Error in Metrological Atomic Force Microscopy". Nanomanufacturing and Metrology, 6 de octubre de 2022. http://dx.doi.org/10.1007/s41871-022-00154-6.
Texto completoCharrier, Anne M., Aubin C. Normand, Ali Passian, Philip Schaefer y Aude L. Lereu. "In situ plant materials hyperspectral imaging by multimodal scattering near-field optical microscopy". Communications Materials 2, n.º 1 (9 de junio de 2021). http://dx.doi.org/10.1038/s43246-021-00166-7.
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