Literatura académica sobre el tema "Dimensional Nanometrology"
Crea una cita precisa en los estilos APA, MLA, Chicago, Harvard y otros
Consulte las listas temáticas de artículos, libros, tesis, actas de conferencias y otras fuentes académicas sobre el tema "Dimensional Nanometrology".
Junto a cada fuente en la lista de referencias hay un botón "Agregar a la bibliografía". Pulsa este botón, y generaremos automáticamente la referencia bibliográfica para la obra elegida en el estilo de cita que necesites: APA, MLA, Harvard, Vancouver, Chicago, etc.
También puede descargar el texto completo de la publicación académica en formato pdf y leer en línea su resumen siempre que esté disponible en los metadatos.
Artículos de revistas sobre el tema "Dimensional Nanometrology"
MISUMI, Ichiko. "Standard Sample in Dimensional Nanometrology". Journal of the Japan Society for Precision Engineering 74, n.º 3 (2008): 222–25. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.74.222.
Texto completoYacoot, Andrew y Ludger Koenders. "Recent developments in dimensional nanometrology using AFMs". Measurement Science and Technology 22, n.º 12 (25 de octubre de 2011): 122001. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/22/12/122001.
Texto completoTöpfer, Susanne C. N., Uwe Nehse y Gerhard Linß. "Automated inspections for dimensional micro- and nanometrology". Measurement 40, n.º 2 (febrero de 2007): 243–54. http://dx.doi.org/10.1016/j.measurement.2006.06.010.
Texto completoSimão, C., D. Tuchapsky, W. Khunsin, A. Amann, M. A. Morris y C. M. Sotomayor Torres. "Dimensional and defectivity nanometrology of directed self-assembly patterns". physica status solidi (c) 12, n.º 3 (25 de febrero de 2015): 267–70. http://dx.doi.org/10.1002/pssc.201400211.
Texto completoMalinovski, I., R. S. França, M. S. Lima, M. S. Bessa, C. R. Silva y I. B. Couceiro. "High-resolution interferometic microscope for traceable dimensional nanometrology in Brazil". Journal of Physics: Conference Series 733 (julio de 2016): 012060. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/733/1/012060.
Texto completoTondare, Vipin N., John S. Villarrubia y András E. Vladár. "Three-Dimensional (3D) Nanometrology Based on Scanning Electron Microscope (SEM) Stereophotogrammetry". Microscopy and Microanalysis 23, n.º 5 (18 de septiembre de 2017): 967–77. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927617012521.
Texto completoJäger, Gerd, T. Hausotte, Eberhard Manske, H. J. Büchner, R. Mastylo, N. Dorozhovets, R. Füßl y R. Grünwald. "Nanometrology – Nanopositioning- and Nanomeasuring Machine with Integrated Nanopobes". Materials Science Forum 505-507 (enero de 2006): 7–12. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.505-507.7.
Texto completoJorio, Ado. "Raman Spectroscopy in Graphene-Based Systems: Prototypes for Nanoscience and Nanometrology". ISRN Nanotechnology 2012 (6 de diciembre de 2012): 1–16. http://dx.doi.org/10.5402/2012/234216.
Texto completoKrumrey, Michael, Gudrun Gleber, Frank Scholze y Jan Wernecke. "Synchrotron radiation-based x-ray reflection and scattering techniques for dimensional nanometrology". Measurement Science and Technology 22, n.º 9 (8 de agosto de 2011): 094032. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/22/9/094032.
Texto completoEndres, J., A. Diener, M. Wurm y B. Bodermann. "Investigations of the influence of common approximations in scatterometry for dimensional nanometrology". Measurement Science and Technology 25, n.º 4 (5 de marzo de 2014): 044004. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/25/4/044004.
Texto completoTesis sobre el tema "Dimensional Nanometrology"
Mrinalini, R. Sri Muthu. "A Probing System with Replaceable Tips for Three Dimensional Nano-Metrology". Thesis, 2017. http://etd.iisc.ernet.in/2005/3711.
Texto completoCapítulos de libros sobre el tema "Dimensional Nanometrology"
Villarrubia, John S. "Tip Characterization for Dimensional Nanometrology". En Applied Scanning Probe Methods, 147–68. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2004. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-35792-3_5.
Texto completoDanzebrink, Hans-Ulrich, Frank Pohlenz, Gaoliang Dai y Claudio Dal Savio. "Metrological Scanning Probe Microscopes - Instruments for Dimensional Nanometrology". En Nanoscale Calibration Standards and Methods, 1–21. Weinheim, FRG: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2006. http://dx.doi.org/10.1002/3527606661.ch1.
Texto completoKoenders, L., T. Dziomba, P. Thomsen-Schmidt y G. Wilkening. "Standards for the Calibration of Instruments for Dimensional Nanometrology". En Nanoscale Calibration Standards and Methods, 243–58. Weinheim, FRG: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2006. http://dx.doi.org/10.1002/3527606661.ch18.
Texto completoBarsic, Gorana, Vedran Simunovic y Marko Katic. "Ensuring Measurement Unity in the Field of Dimensional Nanometrology". En DAAAM Proceedings, 0841–42. DAAAM International Vienna, 2011. http://dx.doi.org/10.2507/22nd.daaam.proceedings.412.
Texto completoActas de conferencias sobre el tema "Dimensional Nanometrology"
Danzebrink, H. U., G. Dai, F. Pohlenz, T. Dziomba, S. Butefisch, J. Flugge y H. Bosse. "Dimensional nanometrology at PTB". En 2012 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC). IEEE, 2012. http://dx.doi.org/10.1109/i2mtc.2012.6229183.
Texto completoMartinez, Pol, Aitor Matilla, Cristina Cadevall, Carlos Bermudez, André Felgner y Roger Artigas. "Residual flatness error correction in three-dimensional imaging confocal microscopes". En Optical Micro- and Nanometrology, editado por Christophe Gorecki, Anand K. Asundi y Wolfgang Osten. SPIE, 2018. http://dx.doi.org/10.1117/12.2306903.
Texto completoIsoda, Kazutaka, Mizue Ebisawa, Yukitoshi Otani y Kohki Nagata. "Numerical analysis of angle-selective one-dimensional periodic structure for building energy management". En Optical Micro- and Nanometrology, editado por Christophe Gorecki, Anand K. Asundi y Wolfgang Osten. SPIE, 2018. http://dx.doi.org/10.1117/12.2307306.
Texto completoYacoot, Andrew, Richard Leach, Ben Hughes, Claudiu Giusca, Christopher Jones y Alan Wilson. "Dimensional nanometrology at the National Physical Laboratory". En International Symposium on Instrumentation Science and Technology, editado por Jiubin Tan y Xianfang Wen. SPIE, 2008. http://dx.doi.org/10.1117/12.807994.
Texto completoHuang, Jiebin, Peng Han, Chaoxiong Chen y Guanling Yang. "Multiple channeled filtering in one-dimensional photonic quantum-well and super-lattice structures". En Nanophotonics, Nanostructure, and Nanometrology II. SPIE, 2007. http://dx.doi.org/10.1117/12.757120.
Texto completoLazar, Josef, Miroslava Hola, Jan Hrabina, Jindřich Oulehla, Ondřej Číp, Miloslav Vychodil, Petra Sedlář y Milan Provazník. "Advanced interferometry systems for dimensional measurement in nanometrology". En Optics and Measurement Conference 2014, editado por Jana Kovačičinová y Tomáš Vít. SPIE, 2015. http://dx.doi.org/10.1117/12.2086613.
Texto completoDziomba, Thorsten, Ludger Koenders y Günter Wilkening. "Standardization in dimensional nanometrology: development of a calibration guideline for Scanning Probe Microscopy". En Optical Systems Design 2005. SPIE, 2005. http://dx.doi.org/10.1117/12.626018.
Texto completo