Artículos de revistas sobre el tema "Caractérisation des films adhésifs"
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Halioui, M., A. Bonnard y H. P. Lieurade. "Caractérisation des adhésifs structuraux". Matériaux & Techniques 79, n.º 11 (1991): 29–38. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199179110029.
Texto completoLurton, Y., F. Lesourd y C. Gay. "Résistance à la rupture des films adhésifs". Revue Francophone de Cicatrisation 1, n.º 1 (enero de 2017): 143. http://dx.doi.org/10.1016/s2468-9114(17)30333-x.
Texto completoAngélélis, Céline y Eric Felder. "Caractérisation mécanique des films minces". Matériaux & Techniques 84, n.º 9-10 (1996): 33–37. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199684090033.
Texto completoAngélélis, Céline y Eric Felder. "Caractérisation mécanique des films minces". Matériaux & Techniques 84, n.º 11-12 (1996): 23–28. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199684110023.
Texto completoMbaye, K., M. Pham Tu, N. T. Viet, L. Wartski y J. C. Villegier. "Elaboration et caractérisation en hyperfréquences de films minces de NbN". Revue de Physique Appliquée 20, n.º 7 (1985): 457–63. http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:01985002007045700.
Texto completoMeneau, C., Ph Goudeau, P. Andreazza, C. Andreazza-Vignolle y J. C. Pommier. "Caractérisation structurale et contraintes résiduelles de films d'AIN par diffraction des rayons X". Le Journal de Physique IV 08, PR5 (octubre de 1998): Pr5–153—Pr5–161. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998520.
Texto completoPetitjean, C., M. Grafouté, C. Rousselot, J. F. Pierson, O. Banakh y A. Cavaleiro. "Caractérisation de films colorés de Fe-O-N élaborés par pulvérisation magnétron réactive". Matériaux & Techniques 94, n.º 1 (2006): 23–29. http://dx.doi.org/10.1051/mattech:2006021.
Texto completoEve, Sophie, Florent Moisy, Rosine Coq Germanicus, Clara Grygiel, Eric Hug y Isabelle Monnet. "Caractérisation par nanoindentation du GaN irradié par des ions uranium de grande énergie". Matériaux & Techniques 105, n.º 1 (2017): 108. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/2017008.
Texto completoMimault, J., K. Bouslikhane, T. Girardeau y M. Jaouen. "Caractérisation structurale EXAFS et propriétés tribologiques de films minces nanocristallins à base Ni-Ti". Revue de Métallurgie 90, n.º 9 (septiembre de 1993): 1193. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199390091193.
Texto completoFischer, H., S. Andrieu, A. Barbara, A. Traverse y M. Piécuch. "Spectroscopie d’absorption X pour la caractérisation structurale de films minces et de superréseaux métalliques". Revue de Métallurgie 96, n.º 9 (septiembre de 1999): 1057–66. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199996091057.
Texto completoBendaoud, Abdelber, Amar Tilmatine, Karim Medles, Marius Blajan, Mustapha Rahli y Lucian Dascalescu. "Caractérisation expérimentale des électrodes couronne de type «dual»". Journal of Electrostatics 64, n.º 7-9 (julio de 2006): 431–36. http://dx.doi.org/10.1016/j.elstat.2005.10.024.
Texto completoZimmer, A., N. Stein, C. Boulanger y L. Johann. "Caractérisation par ellipsométrie spectroscopique de films minces de tellurure de bismuth obtenus par voie électrochimique". Journal de Physique IV (Proceedings) 122 (diciembre de 2004): 87–92. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004122013.
Texto completoAzzoug, Asma. "Elaboration et caractérisation des couches minces d'oxyde de cuivre : Application à la photo-dégradation de Méthyle Orange". Journal of Physical & Chemical Research 1, n.º 1 (1 de junio de 2022): 57–71. http://dx.doi.org/10.58452/jpcr.v1i1.32.
Texto completoBaborowski, J., M. Charbonnier y M. Romand. "Caractérisation par émission X de films d'oxyde et d'oxynitrure de chrome déposés par pulvérisation magnétron réactive". Le Journal de Physique IV 06, n.º C4 (julio de 1996): C4–429—C4–439. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996439.
Texto completoBaborowski, J., M. Charbonnier y M. Romand. "Caractérisation par émission X de films de carbone et de nitrure de carbone déposés par PVD". Le Journal de Physique IV 08, PR5 (octubre de 1998): Pr5–279—Pr5–286. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998535.
Texto completoSteinbrunn, A. y M. Bordignon. "Caractérisation de films minces de molybdène métallique déposé sur une face (100) de monoxyde de cobalt CoO". Thin Solid Films 168, n.º 1 (enero de 1989): 61–69. http://dx.doi.org/10.1016/0040-6090(89)90689-5.
Texto completoNewton, Pascal, Frédéric Houzé, Sophie Noël, Lionel Boyer, Pascal Viel y Gérard Lécayon. "Élaboration et caractérisation chimique, topographique, tribologique et électrique de films de polyacrylonitrile post-traités en vue d'applications en connectique". Journal de Physique III 5, n.º 6 (junio de 1995): 661–75. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1995153.
Texto completoHidalgo, M., J. Guillot, MF Llauro-Darricades, H. Waton y R. Pétiaud. "Caractérisation par la mesure des T1ρ(H) de films obtenus à partir de latex préparés par polymérisation en émulsion". Journal de Chimie Physique 89 (1992): 505–11. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1992890505.
Texto completoHosseini-Sadrabadi, Hamid, Sebastien Volcy, Bruno Chareyre, Christophe Dano, Luc Sibille y Pierre Riegel. "Un pénétromètre à pointe contrôlé en force ou en déplacement pour une caractérisation étendue des sols". Revue Française de Géotechnique, n.º 178 (2024): 1. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024004.
Texto completoTsikounas, Myriam y Sébastien Lepajolec. "La jeunesse irrégulière sur grand écran : un demi-siècle d’images". Revue d’histoire de l’enfance « irrégulière » N° 4, n.º 1 (1 de enero de 2002): 87–110. http://dx.doi.org/10.3917/rhei.004.0087.
Texto completoBasile, Françoise, Jean Bergner, Claude Bombart, Pascale Nallet, Elisabeth Chassaing y Gérard Lorang. "Quantification de l'analyse en profondeur par spectrométrie d'électrons Auger et pulvérisation ionique : caractérisation des interfaces des films multicouches Cu–Co". Microscopy Microanalysis Microstructures 8, n.º 4-5 (1997): 301–14. http://dx.doi.org/10.1051/mmm:1997123.
Texto completoDezert, Théo, Sérgio Palma-Lopes, Jean-Robert Courivaud, Yannick Fargier y Christophe Vergniault. "Fusion de données géophysiques (TRE et MASW) et géotechniques (granulométrie) pour la caractérisation de digues en terre". Revue Française de Géotechnique, n.º 178 (2024): 4. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024007.
Texto completoAkani, M., C. E. Benouis y M. Benzohra. "Caractérisation électrique des interfaces P+-Si-poly/N-c-Si réalisées par dépôt LPCVD de films fortement dopés $in~situ$ au bore". Journal de Physique III 3, n.º 8 (agosto de 1993): 1675–87. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993228.
Texto completoAkani, M., C. E. Benouis y M. Benzohra. "Caractérisation électrique des interfaces P+ - Si - poly/N-c-Si réalisées par dépôt LPCVD de films fortement dopés in situ au bore". Journal de Physique III 3, n.º 11 (noviembre de 1993): 2163. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993278.
Texto completoRossi, Jérôme. "Essai de caractérisation de l’évolution des musiques super-héroïques de Batman (1989) à The Dark Knight Rises (2012)". Revue musicale OICRM 5, n.º 2 (30 de noviembre de 2018): 15–47. http://dx.doi.org/10.7202/1054146ar.
Texto completoKoch, Delphine y Philippe Molinié. "Une application de la cartographie de potentiel à la caractérisation des matériaux. Étalement de charge et effets anormaux sur des films de polyéthylène téréphtalate". Revue internationale de génie électrique 9, n.º 4-5 (30 de octubre de 2006): 449–63. http://dx.doi.org/10.3166/rige.9.449-463.
Texto completoBonnotte, E., P. Delobelle, L. Bornier, B. Trolard y G. Tribillon. "Mise en œuvre de deux méthodes interférométriques pour la caractérisation mécanique des films minces par l'essai de gonflement. Applications au cas du silicium monocristallin". Journal de Physique III 5, n.º 7 (julio de 1995): 953–83. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1995169.
Texto completoCharbonnier, M., D. Leonard, Y. Goepfert y M. Romand. "Caractérisation par spectrométrie photoélectronique (XPS) et spectrométrie d'émission X (XRFS et LEEIXS) de films minces de Ni ou Cu electroless déposés sur substrats polymères". Journal de Physique IV (Proceedings) 118 (noviembre de 2004): 193–202. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004118023.
Texto completoGupta, Mridula, V. K. Sharma, A. Kapoor y K. N. Tripathi. "Fabrication and characterization of polycarbonate thin film optical waveguides". Journal of Optics 28, n.º 1 (febrero de 1997): 37–40. http://dx.doi.org/10.1088/0150-536x/28/1/007.
Texto completoCourivaud, Jean-Robert, Laurent del Gatto, Kamal El Kadi Abderrezzak, Christophe Picault, Mark Morris y Stéphane Bonelli. "Le projet Overcome : comprendre et modéliser les processus d’érosion par surverse des digues et barrages en remblai constitués de matériaux grossiers à granulométries étalées". Revue Française de Géotechnique, n.º 178 (2024): 6. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024009.
Texto completoDARQUE-CERETTI, Evelyne, Eric FELDER y Bernard MONASSE. "Caractérisation physico-chimique de revêtements et films minces à applications tribologiques". Frottement, usure et lubrification, marzo de 2012. http://dx.doi.org/10.51257/a-v1-tri5110.
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