Artículos de revistas sobre el tema "Augmented Metrology"
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Poon, Ting-Chung, Yaping Zhang, Liangcai Cao y Hiroshi Yoshikawa. "Editorial on Special Issue “Holography, 3-D Imaging and 3-D Display”". Applied Sciences 10, n.º 20 (11 de octubre de 2020): 7057. http://dx.doi.org/10.3390/app10207057.
Texto completoSiv, Julie, Rafael Mayer, Guillaume Beaugrand, Guillaume Tison, Rémy Juvénal y Guillaume Dovillaire. "Testing and characterization of challenging optics and optical systems with Shack Hartmann wavefront sensors". EPJ Web of Conferences 215 (2019): 06003. http://dx.doi.org/10.1051/epjconf/201921506003.
Texto completoNawab, Rahma y Angela Davies Allen. "Low-Cost AR-Based Dimensional Metrology for Assembly". Machines 10, n.º 4 (30 de marzo de 2022): 243. http://dx.doi.org/10.3390/machines10040243.
Texto completoKerst, Thomas, Mohammad Bitarafan, Laura Jokinen, Ilkka Alasaarela, Seppo Tillanen, David Zautasvili y Nikhil Pachhandara. "82‐3: Rapid AR/VR Device Eye‐Box Measurement Using a Wide‐FOV Lens". SID Symposium Digest of Technical Papers 54, n.º 1 (junio de 2023): 1155–57. http://dx.doi.org/10.1002/sdtp.16779.
Texto completoArpaia, Pasquale, Egidio De Benedetto, Concetta Anna Dodaro, Luigi Duraccio y Giuseppe Servillo. "Metrology-Based Design of a Wearable Augmented Reality System for Monitoring Patient’s Vitals in Real Time". IEEE Sensors Journal 21, n.º 9 (1 de mayo de 2021): 11176–83. http://dx.doi.org/10.1109/jsen.2021.3059636.
Texto completoGonçalves, GL, JU Delgado y FB Razuck. "The use of Augmented Reality for the teaching of dosimetry and metrology of ionizing radiation at IRD". Journal of Physics: Conference Series 1826, n.º 1 (1 de marzo de 2021): 012041. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/1826/1/012041.
Texto completoHo, P. T., J. A. Albajez, J. A. Yagüe y J. Santolaria. "Preliminary study of Augmented Reality based manufacturing for further integration of Quality Control 4.0 supported by metrology". IOP Conference Series: Materials Science and Engineering 1193, n.º 1 (1 de octubre de 2021): 012105. http://dx.doi.org/10.1088/1757-899x/1193/1/012105.
Texto completoZhao, Lei y Chaohao Wang. "50.2: Invited Paper: A Closer Look: Advancements in Near‐Eye Display Testing and Metrology". SID Symposium Digest of Technical Papers 54, S1 (abril de 2023): 354–60. http://dx.doi.org/10.1002/sdtp.16303.
Texto completoPrusakov, A. N., V. V. Popadyev y V. F. Pankin. "The Working Week of the International Federation of Surveyors under the motto “From digitalization to augmented reality”". Geodesy and Cartography 926, n.º 8 (20 de septiembre de 2017): 25–38. http://dx.doi.org/10.22389/0016-7126-2017-926-8-25-38.
Texto completoĆirić, Ivan, Milan Banić, Miloš Simonović, Aleksandar Miltenović, Dušan Stamenković y Vlastimir Nikolić. "TOWARDS MACHINE VISION BASED RAILWAY ASSETS PREDICTIVE MAINTENANCE". Facta Universitatis, Series: Automatic Control and Robotics 19, n.º 2 (8 de diciembre de 2020): 125. http://dx.doi.org/10.22190/fuacr2002125c.
Texto completoFisher, William P. "Bateson and Wright on Number and Quantity: How to Not Separate Thinking from Its Relational Context". Symmetry 13, n.º 8 (3 de agosto de 2021): 1415. http://dx.doi.org/10.3390/sym13081415.
Texto completoHo, Phuong Thao, José Antonio Albajez, Jorge Santolaria y José A. Yagüe-Fabra. "Study of Augmented Reality Based Manufacturing for Further Integration of Quality Control 4.0: A Systematic Literature Review". Applied Sciences 12, n.º 4 (13 de febrero de 2022): 1961. http://dx.doi.org/10.3390/app12041961.
Texto completoAbbasi, W. A., S. C. Ridgeway, P. D. Adsit, C. D. Crane y J. Duffy. "Investigation of a Special 6-6 Parallel Platform for Contour Milling". Journal of Manufacturing Science and Engineering 122, n.º 1 (1 de enero de 1998): 132–39. http://dx.doi.org/10.1115/1.538927.
Texto completoAnderson, Stephen A. "Innovative digital inspection methodology". APPEA Journal 60, n.º 1 (2020): 77. http://dx.doi.org/10.1071/aj19109.
Texto completoLee, Dong Hun, Yuxuan Zhang, Kwangsoo No, Han Wook Song y Sunghwan Lee. "(Digital Presentation) Multimodal Encapsulation of p-SnOx to Engineer the Carrier Density for Thin Film Transistor Applications". ECS Meeting Abstracts MA2022-02, n.º 15 (9 de octubre de 2022): 821. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-0215821mtgabs.
Texto completoEngel, Thomas. "3D-optical measurement techniques". Measurement Science and Technology, 2 de diciembre de 2022. http://dx.doi.org/10.1088/1361-6501/aca818.
Texto completoNguyen, Vinh, Xiaofeng Liu y Jeremy Marvel. "Augmented Reality Interface for Robot-Sensor Coordinate Registration". Journal of Computing and Information Science in Engineering, 8 de agosto de 2023, 1–7. http://dx.doi.org/10.1115/1.4063131.
Texto completoSchen, Michael A., G. T. Davis, F. I. Mopsik, W. L. Wu, W. E. Wallace, Jr Manning, C. A. Handwerker y D. T. Read. "Electronics Packaging Materials Research at NIST". MRS Proceedings 390 (1995). http://dx.doi.org/10.1557/proc-390-19.
Texto completoTóbiás, Roland, Tibor Furtenbacher, Irén Simkó, Attila G. Császár, Meissa L. Diouf, Frank M. J. Cozijn, Joey M. A. Staa, Edcel J. Salumbides y Wim Ubachs. "Spectroscopic-network-assisted precision spectroscopy and its application to water". Nature Communications 11, n.º 1 (6 de abril de 2020). http://dx.doi.org/10.1038/s41467-020-15430-6.
Texto completoMurray, Myles P., Laura S. Bruckman y Roger H. French. "Durability of Materials in a Stress-Response Framework: Acrylic Materials for Photovoltaic Systems". MRS Proceedings 1391 (2012). http://dx.doi.org/10.1557/opl.2012.1241.
Texto completoJuethner, Konrad, Ted Rose, Senthil Kumar, Jianming Cao, Gregory Savela, Chris J. Zuck y Parag Mathuria. "Finite Element Analysis of Bent Rotors". Journal of Engineering for Gas Turbines and Power, 2 de septiembre de 2022. http://dx.doi.org/10.1115/1.4055452.
Texto completoZhang, Wen-Hao, Jing-Wei Yu, Wule Zhu y Bing-Feng Ju. "Unified framework for geometric error compensation and shape-adaptive scanning in five-axis metrology systems". Measurement Science and Technology, 16 de mayo de 2024. http://dx.doi.org/10.1088/1361-6501/ad4c83.
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