Artículos de revistas sobre el tema "AFM cantilever"
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Dannberg, Oliver y Thomas Fröhlich. "Steifigkeitsmessungen von AFM-Cantilevern". tm - Technisches Messen 88, s1 (24 de agosto de 2021): s3—s7. http://dx.doi.org/10.1515/teme-2021-0046.
Texto completoSlattery, Ashley D., Adam J. Blanch, Cameron J. Shearer, Andrew J. Stapleton, Renee V. Goreham, Sarah L. Harmer, Jamie S. Quinton y Christopher T. Gibson. "Characterisation of the Material and Mechanical Properties of Atomic Force Microscope Cantilevers with a Plan-View Trapezoidal Geometry". Applied Sciences 9, n.º 13 (27 de junio de 2019): 2604. http://dx.doi.org/10.3390/app9132604.
Texto completoZhao, Yu Wen, Yun Peng Song, Sen Wu y Xing Fu. "Accurate and Traceable Calibration of the Stiffness of Various AFM Cantilevers". Key Engineering Materials 645-646 (mayo de 2015): 817–23. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.645-646.817.
Texto completoCho, Ki Ho, Hak Joo Lee, Jae Hyun Kim, Jong Man Kim, Yong Kweon Kim y Chang Wook Baek. "A Study of Nano-Indentation Test Using Rhombus-Shaped Cantilever in Atomic Force Microscope". Key Engineering Materials 326-328 (diciembre de 2006): 207–10. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.326-328.207.
Texto completoDat, Le Tri, Ho Thanh Huy y Nguyen Duy Vy. "A Theoretical Study of Deflection of AFM Bimaterial Cantilevers Versus Irradiated Position". Communications in Physics 28, n.º 3 (14 de noviembre de 2018): 255. http://dx.doi.org/10.15625/0868-3166/28/3/12673.
Texto completoBoubekri, Rachida, Edmond Cambril, L. Couraud, Lorenzo Bernardi, Ali Madouri, David Martrou y Sébastien Gauthier. "High Frequency 3C-SiC AFM Cantilever Using Thermal Actuation and Metallic Piezoresistive Detection". Materials Science Forum 711 (enero de 2012): 80–83. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.711.80.
Texto completoMordue, Christopher W., Jonathan M. R. Weaver y Phillip S. Dobson. "Thermal induced deflection in atomic force microscopy cantilevers: analysis & solution". Measurement Science and Technology 34, n.º 12 (25 de agosto de 2023): 125013. http://dx.doi.org/10.1088/1361-6501/acf061.
Texto completoDamircheli, Mehrnoosh y Babak Eslami. "Design of V-shaped cantilevers for enhanced multifrequency AFM measurements". Beilstein Journal of Nanotechnology 11 (6 de octubre de 2020): 1525–41. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.11.135.
Texto completoLiu, Hao, Zuned Ahmed, Sasa Vranjkovic, Manfred Parschau, Andrada-Oana Mandru y Hans J. Hug. "A cantilever-based, ultrahigh-vacuum, low-temperature scanning probe instrument for multidimensional scanning force microscopy". Beilstein Journal of Nanotechnology 13 (11 de octubre de 2022): 1120–40. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.13.95.
Texto completoYeh, Meng Kao, Bo Yi Chen, Nyan Hwa Tai y Chien Chao Chiu. "Force Measurement by AFM Cantilever with Different Coating Layers". Key Engineering Materials 326-328 (diciembre de 2006): 377–80. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.326-328.377.
Texto completoKWEON, HYUNKYU y KIHO NAM. "MEASUREMENT OF AFM CANTILEVER SPRING CONSTANT BY USING THE SURFACE PROFILE". International Journal of Modern Physics B 24, n.º 18 (20 de julio de 2010): 3597–606. http://dx.doi.org/10.1142/s0217979210054865.
Texto completoMoore, Steven Ian, Michael G. Ruppert y Yuen Kuan Yong. "Multimodal cantilevers with novel piezoelectric layer topology for sensitivity enhancement". Beilstein Journal of Nanotechnology 8 (6 de febrero de 2017): 358–71. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.8.38.
Texto completoKorayem, M. H., M. Taheri y S. D. Ghahnaviyeh. "Sobol method application in dimensional sensitivity analyses of different AFM cantilevers for biological particles". Modern Physics Letters B 29, n.º 22 (20 de agosto de 2015): 1550123. http://dx.doi.org/10.1142/s0217984915501237.
Texto completoAgeev, Oleg A., Oleg I. Ilin, Alexei S. Kolomiytsev, Sergey A. Lisitsyn, Vladimir A. Smirnov y Evgeny G. Zamburg. "Formation of High Aspect Ratio Nanostructures Using Focused Ion Beam Induced Deposition of Carbon". Applied Mechanics and Materials 752-753 (abril de 2015): 154–58. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.752-753.154.
Texto completoMishra, Rohit, Wilfried Grange y Martin Hegner. "Rapid and Reliable Calibration of Laser Beam Deflection System for Microcantilever-Based Sensor Setups". Journal of Sensors 2012 (2012): 1–6. http://dx.doi.org/10.1155/2012/617386.
Texto completoDzedzickis, Andrius, Justė Rožėnė, Vytautas Bučinskas, Darius Viržonis y Inga Morkvėnaitė-Vilkončienė. "Characteristics and Functionality of Cantilevers and Scanners in Atomic Force Microscopy". Materials 16, n.º 19 (24 de septiembre de 2023): 6379. http://dx.doi.org/10.3390/ma16196379.
Texto completoLiang, Li-Na, Liao-Liang Ke, Yue-Sheng Wang, Jie Yang y Sritawat Kitipornchai. "Flexural Vibration of an Atomic Force Microscope Cantilever Based on Modified Couple Stress Theory". International Journal of Structural Stability and Dynamics 15, n.º 07 (31 de agosto de 2015): 1540025. http://dx.doi.org/10.1142/s0219455415400258.
Texto completoGhatkesar, Murali Krishna, Hector Hugo Perez Garza y Urs Staufer. "Hollow AFM cantilever pipette". Microelectronic Engineering 124 (julio de 2014): 22–25. http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2014.04.019.
Texto completoHosseini, Nahid, Matthias Neuenschwander, Oliver Peric, Santiago H. Andany, Jonathan D. Adams y Georg E. Fantner. "Integration of sharp silicon nitride tips into high-speed SU8 cantilevers in a batch fabrication process". Beilstein Journal of Nanotechnology 10 (29 de noviembre de 2019): 2357–63. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.10.226.
Texto completoGanser, Christian, Gerhard Fritz-Popovski, Roland Morak, Parvin Sharifi, Benedetta Marmiroli, Barbara Sartori, Heinz Amenitsch, Thomas Griesser, Christian Teichert y Oskar Paris. "Cantilever bending based on humidity-actuated mesoporous silica/silicon bilayers". Beilstein Journal of Nanotechnology 7 (28 de abril de 2016): 637–44. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.7.56.
Texto completoSone, Hayato, Shoichi Ichikawa, Yuji Matsubara, Mitsumasa Suzuki, Haruki Okano, Takashi Izumi y Sumio Hosaka. "Prototype of Frame-Type Cantilever for Biosensor and Femtogram Detection". Key Engineering Materials 459 (diciembre de 2010): 134–39. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.459.134.
Texto completoLee, Hak Joo, Ki Ho Cho, Jae Hyun Kim, Seung Woo Han, Byung Ik Choi, Chang Wook Baek, Jong Man Kim y Sung Hoon Choa. "Force-Calibrated AFM for Mechanical Test of Freestanding Thin Films". Key Engineering Materials 297-300 (noviembre de 2005): 275–79. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.297-300.275.
Texto completoMagonov, Sergei. "High-Resolution Imaging with Atomic Force Microscopy". Microscopy Today 12, n.º 5 (septiembre de 2004): 12–15. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500056248.
Texto completoLEE, HAK-JOO, JAE-HYUN KIM, KIHO CHO, JAE-YOON KANG, CHANG-WOOK BAEK, JONG-MAN KIM y SUNG-HOON CHOA. "SYMMETRIC AFM CANTILEVER FOR MECHANICAL CHARACTERIZATION OF Mo THIN FILM". International Journal of Modern Physics B 20, n.º 25n27 (30 de octubre de 2006): 3781–86. http://dx.doi.org/10.1142/s0217979206040362.
Texto completoCha, Wujoon, Matthew F. Campbell, Akshat Jain y Igor Bargatin. "Hollow AFM Cantilever with Holes". Engineering Proceedings 4, n.º 1 (14 de abril de 2021): 13. http://dx.doi.org/10.3390/micromachines2021-09544.
Texto completoTang, Chen Zhi. "A Method to Fabricate Thin Micro Silicon Cantilever Based on Optical Lithography with AZ 1518". Key Engineering Materials 645-646 (mayo de 2015): 1093–98. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.645-646.1093.
Texto completoSchumacher, Zeno, Yoichi Miyahara, Laure Aeschimann y Peter Grütter. "Improved atomic force microscopy cantilever performance by partial reflective coating". Beilstein Journal of Nanotechnology 6 (3 de julio de 2015): 1450–56. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.6.150.
Texto completoGrigoriadis, Kyriakos, Alexandros Palaiologos, Anastasios Zavos y Pantelis G. Nikolakopoulos. "A Tribological Simulation for a Typical Carbon Coated AFM Cantilever Interacting with a Monolayer Graphene Sheet". MATEC Web of Conferences 188 (2018): 01029. http://dx.doi.org/10.1051/matecconf/201818801029.
Texto completoGiessibl, Franz. "Probing the Nature of Chemical Bonds by Atomic Force Microscopy". Molecules 26, n.º 13 (3 de julio de 2021): 4068. http://dx.doi.org/10.3390/molecules26134068.
Texto completoZauscher, Stefan. "Putting a Sphere on an Atomic Force Microscope Cantilever Tip". Microscopy Today 5, n.º 10 (diciembre de 1997): 6. http://dx.doi.org/10.1017/s155192950006065x.
Texto completoTortonese, M. y F. J. Giessibl. "Atomic-Force Microscopy with piezoresistive cantilevers". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994): 1064–65. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100173054.
Texto completoCleveland, Jason. "Anomalous Changes in Tip Height in Tapping AFM". Microscopy Today 8, n.º 4 (mayo de 2000): 36–37. http://dx.doi.org/10.1017/s155192950006346x.
Texto completoFicek, Mateusz, Maciej J. Głowacki, Krzysztof Gajewski, Piotr Kunicki, Ewelina Gacka, Krystian Sycz, Mariusz Mrózek et al. "Integration of Fluorescent, NV-Rich Nanodiamond Particles with AFM Cantilevers by Focused Ion Beam for Hybrid Optical and Micromechanical Devices". Coatings 11, n.º 11 (29 de octubre de 2021): 1332. http://dx.doi.org/10.3390/coatings11111332.
Texto completoDillon, Eoghan, Kevin Kjoller y Craig Prater. "Lorentz Contact Resonance Imaging for Atomic Force Microscopes: Probing Mechanical and Thermal Properties on the Nanoscale". Microscopy Today 21, n.º 6 (noviembre de 2013): 18–24. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929513000989.
Texto completoLopez-Ayon, G. Monserratt, David J. Oliver, Peter H. Grutter y Svetlana V. Komarova. "Deconvolution of Calcium Fluorescent Indicator Signal from AFM Cantilever Reflection". Microscopy and Microanalysis 18, n.º 4 (30 de julio de 2012): 808–15. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927612000402.
Texto completoWu, Jianhua, Ying Fang, Dong Yang y Cheng Zhu. "Thermo-Mechanical Responses of a Surface-Coupled AFM Cantilever". Journal of Biomechanical Engineering 127, n.º 7 (15 de agosto de 2005): 1208–15. http://dx.doi.org/10.1115/1.2073647.
Texto completoZhang, Gai Mei, Li Ping Yang, Chen Qiang, Yuan Wei, Jian Dong Lu y Dong Sheng Jiang. "Analysis on the Contact Mechanics between Tip and Sample in Atomic Force Acoustic Microscope Method". Advanced Materials Research 800 (septiembre de 2013): 325–29. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.800.325.
Texto completoRabe, U., S. Hirsekorn, M. Reinstädtler, T. Sulzbach, Ch Lehrer y W. Arnold. "Influence of the cantilever holder on the vibrations of AFM cantilevers". Nanotechnology 18, n.º 4 (12 de diciembre de 2006): 044008. http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/18/4/044008.
Texto completoLiu, Shujie, Shuichi Nagasawa, Satoru Takahashi y Kiyoshi Takamasu. "Development of a Multi-Ball-Cantilever AFM for Measuring Resist Surface". Journal of Robotics and Mechatronics 18, n.º 6 (20 de diciembre de 2006): 698–704. http://dx.doi.org/10.20965/jrm.2006.p0698.
Texto completoDai, Gao Liang, F. Pohlenz, H. U. Danzebrink y L. Koenders. "Dimensional Measurements for Micro- and Nanotechnology". Key Engineering Materials 381-382 (junio de 2008): 7–10. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.381-382.7.
Texto completoDannberg, Oliver, Michael Kühnel y Thomas Fröhlich. "Entwicklung einer Cantileverkalibriereinrichtung". tm - Technisches Messen 87, n.º 10 (25 de octubre de 2020): 622–29. http://dx.doi.org/10.1515/teme-2020-0064.
Texto completoLindsay, S. M. "Direct Magnetic Excitation of Cantilevers for Dynamic Force Microscocopy in Liquids". Microscopy and Microanalysis 5, S2 (agosto de 1999): 1002–3. http://dx.doi.org/10.1017/s143192760001833x.
Texto completoStappers, Linda y Jan Fransaer. "Colloidal Probe AFM Measurements of the Electrophoretic Force". Key Engineering Materials 314 (julio de 2006): 1–6. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.314.1.
Texto completoGibson, Christopher T., Brandon L. Weeks, Chris Abell, Trevor Rayment y Sverre Myhra. "Calibration of AFM cantilever spring constants". Ultramicroscopy 97, n.º 1-4 (octubre de 2003): 113–18. http://dx.doi.org/10.1016/s0304-3991(03)00035-4.
Texto completoRichter, C., P. Weinzierl, W. Engl, C. Penzkofer, B. Irmer y T. Sulzbach. "Cantilever probes for high speed AFM". Microsystem Technologies 18, n.º 7-8 (29 de febrero de 2012): 1119–26. http://dx.doi.org/10.1007/s00542-012-1454-8.
Texto completoGuerre, Roland, Ute Drechsler y Daniel Jubin et Michel Despont. "Low-cost AFM cantilever manufacturing technology". Journal of Micromechanics and Microengineering 18, n.º 11 (26 de septiembre de 2008): 115013. http://dx.doi.org/10.1088/0960-1317/18/11/115013.
Texto completoXie, H. Y. "Frequency shifts of cantilever in AFM". Applied Surface Science 252, n.º 2 (octubre de 2005): 372–78. http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2005.01.014.
Texto completoLübbe, Jannis, Matthias Temmen, Philipp Rahe, Angelika Kühnle y Michael Reichling. "Determining cantilever stiffness from thermal noise". Beilstein Journal of Nanotechnology 4 (28 de marzo de 2013): 227–33. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.4.23.
Texto completoBeltrán, F. J. Espinoza, J. Muñoz-Saldaña, D. Torres-Torres, R. Torres-Martínez y G. A. Schneider. "Atomic force microscopy cantilever simulation by finite element methods for quantitative atomic force acoustic microscopy measurements". Journal of Materials Research 21, n.º 12 (diciembre de 2006): 3072–79. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2006.0379.
Texto completoXie, Ping, Lei Zhang y Qing Ze Zou. "Resonance Suppression on Nanoscale Viscoelasticity Measurement". Advanced Materials Research 528 (junio de 2012): 75–79. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.528.75.
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