Relevant bibliographies by topics / Рефлектометрія

Academic literature on the topic 'Рефлектометрія'

Author: Grafiati
Published: 30 May 2022
Last updated: 31 May 2022

Create a spot-on reference in APA, MLA, Chicago, Harvard, and other styles

Select a source type:

Contents

Consult the lists of relevant articles, books, theses, conference reports, and other scholarly sources on the topic 'Рефлектометрія.'

Next to every source in the list of references, there is an 'Add to bibliography' button. Press on it, and we will generate automatically the bibliographic reference to the chosen work in the citation style you need: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver, etc.

You can also download the full text of the academic publication as pdf and read online its abstract whenever available in the metadata.

Journal articles on the topic "Рефлектометрія"

1

Karpets, M. L., T. V. Tropin, L. A. Bulavin, and J. W. P. Schmelzer. "Neutron reflectometry for structural studies in thin films of polymer nanocomposites. Modeling." Nuclear Physics and Atomic Energy 19, no. 4 (December 25, 2018): 376–82. http://dx.doi.org/10.15407/jnpae2018.04.376.

Full text
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
2

Якухина, А. В., Д. В. Горелов, А. С. Кадочкин, С. С. Генералов, В. В. Амеличев, and В. В. Светухин. "Исследование влияния шероховатости боковых стенок световодного слоя из Si3N4 различной толщины на оптические потери в интегральном волноводе, сформированном на кварцевой подложке." Nanoindustry Russia 13, no. 7-8 (December 14, 2020): 450–57. http://dx.doi.org/10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.450.457.

Full text
Abstract:
В настоящей статье представлены результаты исследования влияния шероховатости боковых стенок световодного слоя из нитрида кремния толщиной 100 и 200 нм на оптические потери в интегральных волноводах шириной 3 и 8 мкм. Представлен расчет основных параметров шероховатости боковых стенок световодного слоя, оказывающих наибольшее влияние на оптические потери в волноводе, проведенный методом конечных временных разностей. На основании данного расчета была установлена оптимальная толщина световодного слоя из нитрида, позволяющая удерживать световой поток. За основу расчета при построении модели были взяты данные, полученные в ходе исследования РЭМ-снимков, изготовленных волноводных структур. Результаты приведенных расчетов согласуются с данными, полученными в результате исследования посредством рефлектометрии в частотной области рефлектометра обратного рассеяния изготовленных волноводов с толщиной световодного слоя из нитрида кремния 200 нм и шириной 3 и 8 мкм.
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
3

Bogachkov, I. V., and N. I. Gorlov. "IMPROVEMENT OF DEVICES FOR EARLY DIAGNOSTICS OF THE OPTICAL FIBERS STATE OF TELECOMMUNICATIONS SYSTEMS." Dynamics of Systems, Mechanisms and Machines 8, no. 4 (2020): 105–12. http://dx.doi.org/10.25206/2310-9793-8-4-105-112.

Full text
Abstract:
В работе обсуждаются вопросы построения схем бриллюэновских рефлектометров, рассмотрены алгоритмы обработки результатов измерений. Представленные в исследовании результаты позволяют улучшить алгоритмы обработки бриллюэновских рефлектограмм за счёт введения опорных каналов и опорной базы данных. Приведённые схемы бриллюэновских рефлектометров представляют интерес для совершенствования систем мониторинга оптических волокон.
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
4

Григорьев, В. В., В. Е. Кравцов, А. К. Митюрев, Е. А. Науменко, А. О. Погонышев, К. Б. Савкин, and С. В. Тихомиров. "Особенности метрологического обеспечения оптических рефлектометров." PHOTONICS Russia 13, no. 7 (November 20, 2019): 676–79. http://dx.doi.org/10.22184/1992-7296.fros.2019.13.7.676.679.

Full text
Abstract:
В статье представлены результаты исследовательских работ, направленных на обеспечение единства измерений параметров оптических рефлектометров. Описываются эталонная база и нормативно-­техническая документация, созданные специалистами ВНИИОФИ. Рассматриваются результаты внедрения и применения созданных эталонов. Также приводятся результаты исследований методов калибровки нового перспективного класса оптических рефлектометров, работающих в частотной области.
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
5

N.S., Kosarev, and Sipko A.I. "Application of GNSS-reflectometry for monitoring world ocean level." Geodesy and Aerophotosurveying 65, no. 1 (2021): 61–67. http://dx.doi.org/10.30533/0536-101x-2020-65-1-61-67.

Full text
Abstract:
Рассмотрен вопрос применения метода ГНСС-рефлектометрии для мониторинга уровня Мирового океана. Выполнен эксперимент по оценке точности определения уровня Атлантического океана на станции Роскоф (Франция). По результатам проведенного эксперимента установлено, что средняя квадратическая погрешность, определенная по результатам сравнения трехмесячных измерений, полученных по показаниям мареографа радарного типа и метода ГНСС-рефлектометрии, составила 0,617 м при среднем арифметическом значении 0,048 м.
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
6

Никитенко, Ю. В., А. В. Петренко, Н. А. Гундорин, Ю. М. Гледенов, and В. Л. Аксенов. "Изотопно-идентифицирующая рефлектометрия нейтронов." Кристаллография 60, no. 4 (2015): 518–32. http://dx.doi.org/10.7868/s0023476115030108.

Full text
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
7

Соллер, Б. Дж., Д. К. Гиффорд, М. С. Вольф, and М. Э. Фроггатт. "Оптическая рефлектометрия обратного рассеяния (OBR)." PHOTONICS Russia 13, no. 5 (September 4, 2019): 452–60. http://dx.doi.org/10.22184/1993-7296.fros.2019.13.5.452.460.

Full text
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
8

Тимошенков, В. П., Д. В. Родионов, Н. А. Шелепин, and А. В. Селецкий. "СВЧ-РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ N-МОП КНИ-ТРАНЗИСТОРОВ." NANOINDUSTRY Russia 96, no. 3s (June 15, 2020): 353–55. http://dx.doi.org/10.22184/1993-8578.2020.13.3s.353.355.

Full text
Abstract:
Проведены исследования динамических параметров 180 нм n-МОП КНИ-транзисторов. Рассмотрены конструкции А-типа (контакт к активной области встроен в исток) и Н-типа (контакт к активной области выполнен в виде отдельного электрода). Показано, что транзисторы А-типа имеют существенно большее значение максимальной частоты усиления по току (FT), чем транзисторы Н-типа. The paper highlights dynamic parameters of n-MOS SOI (180 nm) transistors. Two designs of transistors are considered: A-type, in which a contact to the active region is built into the source, and H-type, in which this contact is made as a separate electrode. The studies have been carried out by using the reflectometry method. It has been shown that A-type transistors have a significantly higher value of frequency (FT) than H-type transistors.
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
9

Жакетов, В. Д., Е. Читану, and Ю. В. Никитенко. "НЕЙТРОННЫЕ РЕФЛЕКТОМЕТРИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ПЛЕНОК ZNO, "Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования"." Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, no. 7 (2018): 27–33. http://dx.doi.org/10.7868/s0207352818070041.

Full text
Abstract:
Методом нейтронной рефлектометрии исследованы текстурированные и допированные алюминием пленки ZnO. Пленки представляют собой квазипериодические структуры с периодом несколько нанометров. Пленки неоднородны в поверхностном слое толщиной 10-20 нм.
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
10

Плешанов, Н. К. "К рефлектометрии нейтронов с прецессирующими спинами." Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, no. 12 (2019): 8–19. http://dx.doi.org/10.1134/s0207352819090117.

Full text
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
More sources

Dissertations / Theses on the topic "Рефлектометрія"

1

Рубцов, Владислав Генадійович. "Метод фазової рефлектометрії." Магістерська робота, Хмельницький національний університет, 2020. http://elar.khnu.km.ua/jspui/handle/123456789/9629.

Full text
Abstract:
Метою роботи є розробка методу фазової рефлектометрії кабельних ліній із покращеними характеристиками, що дозволяють вимірювати дальність до двох і більше пошкоджень із низькою похибкою. Завданням роботи є: провести аналіз методів рефлектометрії; дослідити проходження гармонійних сигналів в кабельній лінії за наявності декількох пошкоджень; розробити метод фазової рефлектометрії; дослідити похибки вимірювання відстаней; розробити структурні схеми вимірювальних приладів.
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
2

Борисенко, Євген Анатолійович, and С. П. Корж. "Дослідження методу підвищення точності рефлектометру." Thesis, Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут", 2018. http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/46821.

Full text
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
3

Пазуха, Ірина Михайлівна, Ирина Михайловна Пазуха, and Iryna Mykhailivna Pazukha. "Дослідження структури багатошарової плівкової системи на основі Сu та Сr методом рентгенівської рефлектометрії." Thesis, Видавництво СумДУ, 2007. http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/15221.

Full text
Abstract:
Дослідження структури багатошарових плівкових систем проводилось методом рентгенівської рефлектометрії. Даний метод спектроскопічний і базується на вимірюванні відбиваючої здатності рентгенівських променів поверхнею матеріалу, що досліджується, поблизу кута повного зовнішнього відбиття. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/15221
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

Conference papers on the topic "Рефлектометрія"

1

Харасов, Д. Р., И. А. Чурилин, С. П. Никитин, О. Е. Наний, and В. Н. Трещиков. "Влияние эффекта вынужденного комбинационного рассеяния на дальность работы и чувствительность когерентного рефлектометра." In Российский семинар по волоконным лазерам. ИАиЭ СО РАН, 2018. http://dx.doi.org/10.31868/rfl2018.208-210.

Full text
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
2

Лукина, Е. А., А. И. Гуляев, and П. Л. Журавлева. "Применение методов высокоразрешающей электронной микроскопии, рентгеновской рефлектометрии и наноиндентирования для исследования покрытий и граничных слоев." In XXVIII Российская конференция по электронной микроскопии и VI школа молодых учёных "Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов". Crossref, 2020. http://dx.doi.org/10.37795/rcem.2020.92.43.016.

Full text
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
3

Ткаченко, А. Ю., Н. Н. Смолянинов, М. И. Скворцов, И. А. Лобач, and С. И. Каблуков. "Опрос ВБР датчиков с помощью когерентного оптического частотного рефлектометра на основе волоконного лазера с самосканированием длины волны." In Международный семинар по волоконным лазерам. ИАиЭ СО РАН, 2020. http://dx.doi.org/10.31868/rfl2020.143-144.

Full text
APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles
You might also be interested in the extended bibliographies on the topic 'Рефлектометрія' for particular source types:
Journal articles
We offer discounts on all premium plans for authors whose works are included in thematic literature selections. Contact us to get a unique promo code!

To the bibliography