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Academic literature on the topic 'Diffraction des Rayons X synchrotron'

Author: Grafiati
Published: 25 May 2024

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Journal articles on the topic "Diffraction des Rayons X synchrotron"

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Ravy, Sylvain. "La diffraction cohérente des rayons X." Reflets de la physique, no. 34-35 (June 2013): 60–64. http://dx.doi.org/10.1051/refdp/201334060.

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2

Popescu, M., F. Sava, A. Lörinczi, I. N. Mihailescu, I. Cojocaru, and G. Mihailova. "Diffraction de rayons X sur le silicium poreux." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (October 1998): Pr5–31—Pr5–37. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998505.

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Cox, D. E. "Synchrotron X-Ray Powder Diffraction." MRS Bulletin 12, no. 1 (February 1987): 16–20. http://dx.doi.org/10.1557/s088376940006869x.

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Abstract:
X-ray powder diffraction is one of the most widely used techniques by scientists engaged in the synthesis, analysis, and characterization of solids. It is estimated that there are now about 25,000 users throughout the world, of which about one third are in the United States. Any single-phase polycrystalline material gives an x-ray pattern which can be regarded as a unique “fingerprint,” and modern automated search-and-match techniques used in conjunction with the Powder Diffraction File (maintained by the International Center for Diffraction Data, Swarthmore, PA) allow routine analysis of samples in minutes. From an x-ray pattern of good quality it is possible to determine unit cell parameters with high accuracy and impurity concentrations of 1-5%, so that powder techniques are extremely valuable in phase equilibrium studies and residual stress measurements, for example. In addition, a detailed analysis of line shapes gives information about physical properties such as the size and shape of the individual crystallites, microscopic strain, and stacking disorder.In the early days of crystallography many simple (and some not-so-simple) structures were solved from x-ray powder diffraction patterns, but the obvious limitations to the number of individual reflection intensities which can be estimated and the increasing sophistication of single-crystal techniques resulted in a decline in the importance of this application in the 1950s and 1960s.
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Bach, M., N. Broll, A. Cornet, and L. Gaide. "Diffraction X en traitements thermiques : dosage de l'austénite résiduelle par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 06, no. C4 (July 1996): C4–887—C4–895. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996485.

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5

Bourret, A. "Étude des interfaces enterrées par diffraction de rayons X." Le Journal de Physique IV 07, no. C6 (December 1997): C6–19—C6–29. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1997602.

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6

Abbas, S., A. Raho, and M. Kadi-Hanifi. "Caractérisation de solutions solides par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 10, PR10 (September 2000): Pr10–49—Pr10–54. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20001006.

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7

Kadi-Hanifi, M., H. Yousfi, and A. Raho. "Caractérisation de solutions solides par diffraction des rayons X." Revue de Métallurgie 90, no. 9 (September 1993): 1116. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199390091116.

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8

Grousson, Mathieu. "Amélie Juhin: tient théorie et expérience dans une seule main." Reflets de la physique, no. 57 (April 2018): 39. http://dx.doi.org/10.1051/refdp/201857039.

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Abstract:
Spécialiste de spectroscopie des rayons X, lauréate de la médaille de bronze du CNRS en 2016, cette physico-chimiste se sent aussi à l’aise auprès d’une ligne de lumière d’un synchrotron qu’avec des équations.
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9

Sutton, S. R., M. L. Rivers, and J. V. Smith. "Synchrotron x-ray fluorescence: diffraction interference." Analytical Chemistry 58, no. 11 (August 1986): 2167–71. http://dx.doi.org/10.1021/ac00124a013.

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10

Bonod, Nicolas. "Physicien célèbre : Max von Laue." Photoniques, no. 98 (September 2019): 18–19. http://dx.doi.org/10.1051/photon/20199818.

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Abstract:
Max von Laue est un physicien théoricien allemand spécialiste de la diffraction des ondes, de la relativité et de la superconductivité. Il propose en 1912 de sonder l’arrangement périodique de la matière avec des faisceaux de courtes longueurs d’onde, les rayons X ; et sera récompensé par le prix Nobel de Physique en 1914. La découverte de la diffraction des rayons X par des cristaux sera à l’origine d’avancées majeures dans les 100 ans qui suivirent, de la découverte de la structure de l’ADN à celle des quasi-cristaux.
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More sources

Dissertations / Theses on the topic "Diffraction des Rayons X synchrotron"

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Mastropietro, Francesca. "Imagerie de nanofils uniques par diffraction cohérente des rayons X." Phd thesis, Université de Grenoble, 2011. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00716410.

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Abstract:
L'imagerie par diffraction des rayons X cohérents (CDI) en condition de Bragg est utilise pour étudier la déformation de nano-objets uniques. Ceci est possible grâce au développement d'optique focalisante, comme les lentilles de Fresnel (FZP), produisant un faisceau sub-micronique coherent. Les nanostructure étudiées sont reconstruite avec des algorithmes d'inversion à partir de données de diffraction, sous la forme d'un objet complexe, ou l'amplitude correspond à la densité électronique 3D et la phase correspond a la projection de la déformation de l'objet (par rapport a un réseau cristallin parfait) dans la direction du vecteur de diffraction. Dans ce travail, nous avons étudié la déformation dans des nanofils hétérogènes (nanofil de GaAs avec une mono-couche de boîtes quantiques de InAs) et homogènes (silicium fortement contraint sur isolant (sSOI)). Lorsqu'un faisceau focalise de rayons X est utilise, 'a la fois l'amplitude et la phase de l'onde incidente doivent être connu pour une étude quantitative. Le faisceau focalise utilise pendant les expériences a été reconstruit avec la technique CDI, et les effets de cette fonction d'illumination sur l'imagerie de nanofils contraints ont été étudiés. Mots-clés: Imagerie par diffraction x cohérente, contrainte, nanofils, algorithms d'inversion.
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Menut, Denis. "Contribution au développement de la ligne MARS pour l’analyse au rayonnement synchrotron d’aciers à dispersion d’oxydes irradiés aux neutrons : évolution des phases secondaires sous irradiation." Caen, 2016. http://www.theses.fr/2016CAEN2020.

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Abstract:
La Diffraction des Rayons X couplée à la Spectroscopie d’Absorption des rayons X sur la ligne MARS du synchrotron SOLEIL sont mises en œuvre pour l’étude des évolutions microstructurales des phases oxydes présentes dans les aciers ODS irradiés en réacteur. Deux nuances d’acier ODS d’ancienne génération (DY et MA957) irradiées jusqu’à de fortes fluences (~75 dpa) aux neutrons ont pu être étudiées. Ces expériences ont nécessité un développement spécifique de la ligne MARS, notamment d’un porte-échantillon, permettant de franchir une étape majeure du point de vue des outils de caractérisation nucléarisés au CEA. Ainsi, la DRX apporte des résultats originaux sur la nature cristallographique et les microstructures des phases précipitées de taille intermédiaire (autour de 100 nm), les phases nanoprécipitées (entre 1 et 10 nm) ne pouvant être observables dans ces conditions d’analyse (matériaux et configuration expérimentale). Par ailleurs, la SAX ne peut être discriminante lorsque l’élément sonde entre dans la composition de différentes phases précipitées. Néanmoins, la stabilité de la coordinance 5 du Ti est démontrée, quelles que soient les conditions d’irradiation. L’étude expérimentale n’accédant pas aux précipités nanométriques, l’alternative est la simulation numérique du comportement sous irradiation des oxydes d’intérêts, confrontée à des observation d’oxydes massifs irradiés aux ions : dans ces conditions, la structure fluorine lacunaire est une phase intermédiaire de la transition cristal-amorphe de la structure pyrochlore quelles que soient les conditions d’irradiation et le rapport des rayons cationiques, la coordinance du Ti tendant vers 5 dans l’état amorphe
X-Ray Diffraction coupled with X-ray Absorption Fine Structure analyses at the MARS beamline of the synchrotron SOLEIL facility were used to study the microstructural evolution of oxides phases found in ODS steels irradiated in Material Testing Reactors. Two hold generations of ODS steel grades (DY and MA957) irradiated up to high fluencies (~75 dpa) were studied. These experiments have required specific developments, in particular a dedicated sample holder. An important milestone was overcome integrating the MARS beamline to the nuclearized facilities accessible for CEA. First, XRD analysis provide new results concerning intermediate sizes of precipitates (around 100 nm) essentially from crystallographic point of view, the nano-sized oxides (from 1 to 10 nm) being not detected, due to the material itself, sample preparation as thin foil and experimental set-up calibration. Secondly, XAFS analysis is not a discriminating technique as soon as the absorber atom is involved in the chemical composition of various precipitates found in ODS. Nevertheless, the stability of the Ti with a coordination number of 5 is evidenced whatever the irradiation conditions. As our experimental study was not able to detect the nano-sized oxides, an alternative way is to perform modeling approach of the behavior of massive oxides under irradiation, compared to experimental analyses under ion irradiations. We have shown that the defect-fluorite is an intermediate phase of the crystal-to-amorphous phase transition of the pyrochlore oxide structure, whatever the irradiation conditions and the ratio of the cationic radii, the Ti coordination number remaining around 5 in the amorphous state
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Lauraux, Florian. "Etudes nano-mécaniques in situ de nanostructures métalliques utilisant le rayonnement synchrotron." Electronic Thesis or Diss., Aix-Marseille, 2020. http://www.theses.fr/2020AIXM0441.

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Abstract:
Dans cette thèse, le comportement nano-mécanique d’ilots d'Au sub-micrométriques est étudié par nano-indentation in-situ en utilisant le microscope à force atomique SFINX en combinaison avec la microdiffraction de Laue et l’imagerie par diffraction cohérente des rayons X en condition de Bragg (BCDI). Ces études de couplage des rayons X à la nano-indentation ont été menés sur des lignes synchrotron, les lignes ID01 et BM32 à l'ESRF (Grenoble). De nouvelles méthodes ont été développées dans le cadre de cette thèse : une nouvelle technique de mesure de la force appliquée in situ qui repose sur le mesure de la déflexion de la poutre AFM en silicium par microdiffraction de Laue fournissant une résolution de force de 90 nN. Une technique d'imagerie par diffraction cohérente des rayons X en condition de Bragg à plusieurs longueurs d'ondes (Multi Wavelength BCDI) qui permet un BCDI in situ réel pendant les tests nano-mécaniques. Les tests mécaniques couplés à la micro diffraction de Laue ont permis de déterminer la densité de dislocation dans un cristal d'or en fonction de la force appliquée mettant en évidence un recuit mécanique par la baisse de la densité des dislocations géométriquement nécessaires (GND). La technique de MW-BCDI a été utilisée lors de l'indentation in situ d'un mono cristal d'Au et a permis de visualiser en 3D l'évolution des dislocations. Elle a aussi montré la disparition des dislocations après un déchargement complet, laissant derrière elle un cristal d'or sans défaut. Ces expériences de couplage in situ permettent d'apporter de nouveaux éléments de réponse concernant la nucléation des premiers défauts dans des nano-structures métalliques CFC
The nano-mecanic behavior of Au sub-micronic islands has been studied by in situ nano-indentation using the atomic force microscope SFINX coupled with the Laue X ray microdiffraction and the Bragg coherent diffraction imaging (BCDI°techniques. These coupled studies have been led on synchrotron beamlines, ID01 and BM32 at the ESRF (France Grenoble). New methods have been developped during this PHD work : a mesure of the in situ applied force by measuring the deflexion of the AFM Si cantilever by Laue microdiffraction with a resolution of 90 nm. A brand new multi-wavelength BCDI approach allowing real in situ nano-mecanical tests coupled with X ray diffraction. The mecanical tests coupled with Laue microdiffraction led to the determination of defaults density in a Au nanocristal function of the applied force, which demonstrated a mecanical annealing by the drop of the GNDs. The mw-BCDI has also be coupled with nanoindentation tests on a Au nano-cristal, which allowed us to visualize in 3D the evolution and the nucleation of dislocations. It also showed the disapearing of the dislocations after a full unloading, leaving the nano-cristal with no defaults. These in situ coupled experiments will shed some new light about the nucleation of the first defaults in metalic FCC nanostructures
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Masiello, Fabio. "Diffraction et imagerie aux rayons X en utilisant un faisceau cohérent : applications aux optiques rayons X et au cristaux comportant des hétérogénéités de phase." Phd thesis, Université de Grenoble, 2011. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00609216.

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Abstract:
Les propriétés exceptionnelles des sources de rayonnement synchrotron ont été et sont de plus en plus exploités dans des disciplines très différentes, allant de l'archéologie à la chimie, de la science des matièraux a la biologie, de la médecine à la physique. Parmi ces propriétés, il est important de mentionner la haute brillance, le spectre continu, le haut degré de polarisation, la structure temporelle, la petite taille de la source et la petite divergence du faisceau. Ces dernières propriètèes entraînant une forte cohérence transversale du rayonnement produit. La cohérence du faisceau a permis le développement des nouvelles techniques comme par exemple, l'imagerie à contraste de phase, la spectroscopie à corrélation des photons et l'imagerie par diffraction des photons cohérents. Par conséquent, il est de première importance que les éléments optiques puissent préserver cette propriété, perturbant le moins possible la front d'onde. Ce travail de thèse se constitue de trois parties. Dans la premiere partie, je vais présenter le travail effectué au sein du groupe optique de l'ESRF dans la caractérisation des cristaux de diamant synthétique de haute qualité prévus pour des applications aux optiques pour les rayons X. Cet caractérisation a été effectué en utilisant différentes techniques rayons X complémentaires, telles que la diffractométrie à haute résolution, la topographie, la diffraction en incidence rasante, la réflectométrie et des mesures de préservation de cohérence en utilisant l'effet Talbot. Dans la deuxième partie, je expose les résultats obtenu dans l'étude du comportement à haute température des domaines ferroélectriques dans un cristal périodiquement polarisé. Dans cet type d'étude, basé sur la diffraction de Bragg-Fresnel, est nécessaire un haute cohérence du faisceau. Dans la troisième partie, je présents des résultats obtenu dans la caractérisation des diamants prévus pour des applications autres que les optique rayons X.
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Cook, Phil K. "Microfocused X-ray methodologies for the biogeochemical study of archaeological and modern otoliths." Thesis, Paris 11, 2015. http://www.theses.fr/2015PA112203/document.

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Abstract:
Les otolithes, croissances aragonitiques de l'oreille interne des poissons téléostéens, peuvent être utilisés comme traceurs des variations de l’environnement rencontrées par un individu au cours de sa vie. Un ensemble d’otolithes de Sciaenidae et d’Ariidae archéologiques et modernes a été étudié dans le but d'améliorer les méthodes de reconstruction paléo-environnementale utilisant les otolithes et les autres biominéraux carbonatés stratifiés. L'incorporation du strontium, l'élément lié à l'environnement le plus facilement accessible, a été étudiée par analyses ponctuelles et par cartographie de spectroscopie d'absorption des rayons X (XAS). Une approche multivariée de cartographie rapide de l'environnement chimique a été mise en place pour déterminer le mode d’incorporation du Sr sur une superficie de 0,25 mm² avec une résolution micrométrique. Ces résultats démontrent pour la première fois avec une résolution latérale micrométrique sur des distances millimétriques que le Sr se substitue aléatoirement au calcium dans le réseau de l'aragonite, indépendamment de la concentration en Sr, de l’âge de l’individu ou de la période géologique. D’autre part, des cartes élémentaires sur des zones atteignant 2,6 mm² ont été collectées à des résolutions latérales micrométriques avec plusieurs techniques d'émission de rayons X (émissions provoquées par les particules des rayons X (PIXE) et fluorescence des rayons X par rayonnement synchrotron (SR-µXRF)). Ces cartes permettent l'examen détaillé de l'histoire de la vie d'un individu et de la taphonomie de l'échantillon avec une haute résolution temporelle, tout en identifiant les défauts ou les éléments abiogéniques. Enfin, la diffraction des rayons X par rayonnement synchrotron (SR-XRD) a été utilisée pour cartographier la texture cristalline sur des sections complètes d'otolithes afin d’approfondir notre connaissance de la structure interne et de la croissance des otolithes. Ces développements fournissent des outils précieux pour de futures études des biominéraux, mais plus généralement pour les sciences des matériaux. La sélection et la mise en œuvre de ces méthodes ont été réalisées dans le but d’exploiter au maximum leur fort potentiel pour l'étude des biocarbonates stratifiés, tout en tenant compte des approches existantes et en cherchant à en améliorer certains aspects tels que la profondeur d'information, la résolution latérale, la sensibilité, et les dégâts d’irradiation provoqués par les faisceau. Ce travail démontre la stabilité et l'homogénéité de l'incorporation du Sr par substitution aléatoire au Ca dans l’aragonite biogénique des otolithes modernes et archéologiques. Des cartes multi-élémentaires ont été collectées à l'aide de la SR-µXRF dans un temps raisonnable de quelques heures, et permettent de distinguer une contamination ou des défauts dans l'échantillon, mais également de corréler les cartes obtenues à des observations microscopiques des sections pour fournir une résolution temporelle. Les orientations préférentielles des cristallites composant les sections d'otolithes ont été analysées par la méthode d’acquisition rapide « flyscan », permettant de réduire le temps de mesure à quelques minutes au lieu des quelques heures nécessaires auparavant
Otoliths, aragonitic growths in the inner ear of teleost fishes, can be used as proxies for the water conditions experienced by an individual over its lifetime. A set of archaeological Sciaenidae and Ariidae otoliths and modern counterparts was studied with the objective of improving palaeoenvironmental reconstruction methodologies using otoliths and other incremental carbonate biominerals. The incorporation of strontium, the most accessible environment-related element, was studied by X-ray absorption spectroscopy (XAS) point analyses and mapping. A fast multivariate chemical environment mapping approach was implemented to determine the mode of Sr incorporation over an area of 0.25 mm² with micrometric resolution. XAS results demonstrate for the first time with a micrometric lateral resolution over millimetric distances that strontium randomly substitutes for calcium in the aragonite lattice, independent of strontium concentration, or individual or geological age. Elemental maps on areas up to 2.6 mm² were produced with micrometric lateral resolution X-ray emission techniques (Particle-induced X-ray emission (PIXE) and synchrotron X-ray fluorescence (SR-µXRF)). These maps permit the detailed examination of an individual’s life history and sample taphonomy with a high temporal resolution while also identifying defects or abiogenic elements. Synchrotron X-ray diffraction (SR-XRD) was used to map the crystal texture on complete otolith sections and may deepen understanding of otolith internal structure and growth processes, as well as providing a valuable tool for future studies of biominerals and advanced materials. The selection and implementation of methods were carried out with a view to maximise the potential contribution to the study of stratified biocarbonates, considering and seeking to complement existing approaches in aspects including information depth, lateral resolution, sensitivity, and beam damage. This work demonstrates the stability and homogeneity of Sr incorporation by random substitution for Ca in biogenic aragonite in both modern and archaeological otoliths. Multielemental maps were collected using SR-µXRF in a reasonable time scale of a few to several hours, with the ability to distinguish contamination and defects in the sample, as well as to correlate the maps to microscopic observations of the sections to provide temporal resolution. The preferential orientations of crystallites composing the otolith sections were analysed using the rapid acquisition ‘flyscan’ method, which reduces measurement time to minutes rather than hours
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Malard, Benoît. "Caractérisation multiéchelle par diffraction de neutrons et rayonnement synchrotron de la transformation martensitique sous contrainte dans un alliage à mémoire de forme CuAlBe." Paris, ENSAM, 2008. https://pastel.archives-ouvertes.fr/pastel-00004479.

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Abstract:
Les Alliages à Mémoire de Forme (AMF) présentent un comportement très différent des matériaux habituels. Leurs propriétés exceptionnelles, comme l’effet mémoire et la superélasticité, sont étroitement associées aux caractéristiques de la transformation martensitique dans ces alliages. Les évolutions microstructurale associés à cette transformation jouent un rôle considérable sur la nature des propriétés macroscopiques observées. La caractérisation fine de ces évolutions constitue un enjeu important dans la compréhension des interactions entre microstructure et propriétés. Dans ce contexte, ce travail expérimental, réalisé sur un AMF superélastique de type CuAlBe, montre que les techniques de diffractions aux grands instruments permettent de réaliser des analyses microstructurales sur une très large gamme d’échelle. Cette approche d’analyses multiéchelles in-situ a permis d’obtenir plusieurs résultats marquants. A l’échelle macroscopique et grâce à la diffraction de neutron à l’ILL, la contribution associée à la présence de martensite stabilisée et celle liée à la déformation plastique a été déterminée au cours de cycles successifs. Une conséquence importante de cette détermination a été d’établir que dans les AMF, l’élargissement des raies de diffraction, observé au cours des chargements, a pour origine principale un mécanisme d’augmentation des hétérogénéités intragranulaires, un mécanisme directement lié à la transformation de phase. Les analyses réalisées aux échelles fines ont permis de mettre en évidence ce mécanisme particulier. Ainsi l’utilisation du microscope 3DXRD et de la microdiffraction Laue à l’ESRF, a montré que la transformation martensitique s’accompagne d’une rotation non négligeable du réseau cristallin de l’austénite à l’échelle du grain dans le polycristal et d’une fragmentation de l’austénite en plusieurs sous-domaines d’orientation différente. Ce mécanisme est largement réversible avec la transformation inverse
The Shape Memory Alloys (SMA) have different mechanical properties than usual materials. Their exceptional properties such as superelasticity and shape memory are closely associated with the characteristic of the martensitic transformation in these alloys. The microstructural evolutions associated with this transformation play a considerable role in the nature of the observed macroscopic behaviour. The precise description of these evolutions is an important part of the understanding of the interactions between the microstructure and the macroscopic properties. In this context, diffractometric analyses allow us to obtain useful information on the volume fraction evolution the lattice strains and grain rotations. The use of neutron, synchrotron X-ray and hard X-Ray radiation appears to be the only alternative for quantifying the martensitic transformation at multiple length scales via reliable complementary measurements performed in a laboratory. This work, on superelastic CuAlBe SMA, contributes to the development experimental methodologies on biphasic alloys and sets up new in-situ multiscale analyses on the field of the martensitic transformation. At the macroscopic scale, the transfer stress loading from one to the other phase has been followed when the transformation begins. The plastic and residual transformation strains have been determined from the residual macroscopic strain. At the grain level, the formation and the rotation of small austenitic domains have been measured when the martensitic transformation starts. During unloading, the inverse rotation and the reconstitution of one austenitic domain have been observed. At the microscopic level, the rotations of the small austenitic domains have been confirmed and localized. The increase of the austenite crystal plane mosaicity has been tracked
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Gallard, Manon. "Etude in situ de la cristallisation et des contraintes dans des nanostructures de GeTe par diffraction du rayonnement X synchrotron." Electronic Thesis or Diss., Aix-Marseille, 2019. http://www.theses.fr/2019AIXM0037.

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Abstract:
Les matériaux à changement de phase (PCM, Phase Change Materials) sont utilisés dans les dispositifs mémoires PCRAM (Phase-Change Random Access Memory), dans lesquels l’information est stockée par l’état du PCM (cristallin ou amorphe, correspondant aux deux états d’information 0/1). La lecture se fait par la mesure de la résistance du PCM qui est très différente suivant son état amorphe ou cristallin. L’optimisation et la fiabilité de ces dispositifs mémoires repose sur une compréhension fine des mécanismes physiques à l’œuvre lors de la transition amorphe-cristal. Pendant cette thèse, un système modèle (GeTe) a été caractérisé in situ au synchrotron. Le comportement thermoélastique et le mécanisme de cristallisation ont été étudiés pour plusieurs géométries d’échantillon : des films minces (épaisseurs de 100 nm à 5 nm), des nano-piliers (diamètre 50 nm à 250 nm, 50 nm de haut) et des agrégats (diamètre 10 nm)
Phase Change Materials (PCM) are used in PCRAM (Phase-Change Random Access Memory) devices, where the information is stored by the PCM state (crystalline or amorphous, corresponding to the two binary information states, 0/1). The stored data is read as the resistivity of the PCM which differs strongly whether it is in amorphous or crystalline state. A detailed understanding of the physical mechanisms during the amorphous to crystal phase transition is of utmost importance for the optimization and the reliability improvement of these memory devices. In this work, a model system (GeTe) was in situ characterized at a synchrotron facility. The thermoelastic behaviour and crystallization mechanism were studied for several sample geometries: thin films (thicknesses of 100 nm down to 5 nm), nano-pillars (diameter 50 nm to 250 nm, 50 nm height) and clusters (diameter of 10 nm)
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Jal, Emmanuelle. "Réflectivité magnétique résonante de rayons X mous : une sonde de la distribution d'aimantation complexe au sein de films minces." Phd thesis, Université de Grenoble, 2013. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00952868.

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Abstract:
Cette thèse traite de l'étude de films ultra minces de Fe par réflectivité magnétique résonante de rayons X mous (SXRMR). La technique de SXRMR associe les effets magnéto-optiques aux propriétés de diffusions des rayons X, ce qui permet sonder les propriétés magnétiques avec une résolution spatiale en profondeur. Un profil magnétique résolu en profondeur est donc dérivé des expériences, permettant d'étudier les effets des interfaces sur l'homogénéité des propriétés magnétiques. Dans un premier temps nous présentons l'étude d'un film mince de Fe sur un substrat vicinal d'Ag(116) recouvert par quinze monocouches d'Au. Cette étude révèle que l'aimantation est augmentée de 20 à 30$\%$ dans les deux à trois monocouches proches des interfaces d'Au et d'Ag, quelque soit la température et l'épaisseur de la couche de Fe. Nous avons également mis en évidence une inhomogénéité de la composante hors du plan à basse température pour des échantillons ayant un axe de facile perpendiculaire aux marches : la composante de l'aimantation hors du plan est de plus en plus grande lorsqu'on se rapproche du substrat vicinal d'Ag. Dans un deuxième temps, nous présentons l'étude d'un film mince de six monocouches de Fe sur du Cu(100) et recouvert par une couche d'Au. En utilisant une approche originale de contrainte sur les paramètres magnétiques, nous avons pû mettre en évidence que la dépendance de l'aimantation en fonction de la température n'était pas la même selon la position de la monocouches dans le film mince de Fe, comme prédit théoriquement par Sandratski.
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Bouscaud, Denis. "Développement de la microdiffraction Kossel pour l'analyse des déformations et contraintes à l'échelle du micromètrecristallins : applications à des matériaux cristallins." Paris, ENSAM, 2012. http://www.theses.fr/2012ENAM0012.

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Abstract:
La diffraction des rayons X est une technique non destructive fréquemment utilisée en sciences des matériaux pour déterminer les contraintes résiduelles à une échelle macroscopique. Du fait de la complexité croissante des nouveaux matériaux et de leurs applications, il devient nécessaire de connaître l'état de déformation / contrainte à une échelle plus petite. Dans ce sens, un outil expérimental appelé microdiffraction Kossel a été développé au sein d'un microscope électronique à balayage. Il permet de déterminer l'orientation cristallographique et les déformations / contraintes avec une résolution spatiale de plusieurs micromètres. Des analyses ont aussi été réalisées avec un rayonnement synchrotron. Une méthodologie expérimentale a été développée de manière à optimiser l'acquisition des clichés et leur post-traitement. La procédure de détermination des contraintes a été validée en comparant les états de contrainte de monocristaux sous chargement mécanique in situ, obtenus en microdiffraction Kossel et avec des techniques de diffraction classiques. La microdiffraction Kossel a ensuite été appliquée à des matériaux polycristallins en diminuant progressivement la taille des grains analysés. Des hétérogénéités intergranulaires assez marquées ont par exemple été mesurées sur un acier IF. Des mesures ont enfin été réalisées sur des couches minces représentatives des composants de la microélectronique
X-ray diffraction is a non-destructive method frequently used in materials science to analyse the stress state at a macroscopic scale. Due to the growing complexity of new materials and their applications, it is necessary to know the strain and stress state at a lower scale. Thus, a Kossel microdiffraction experimental set-up was developed inside a scanning electron microscope. It allows to obtain the crystallographic orientation as well as the strains and stresses within a volume of a few cubic micrometers. Some experiments were also performed using a synchrotron radiation. An experimental procedure was developed to optimize the acquisition of Kossel line patterns and their post-processing. The stress calculation from Kossel patterns was validated by comparing the stress state of single crystals during in situ mechanical loading, obtained by Kossel microdiffraction and with classical diffraction methods. Then Kossel microdiffraction was applied to polycrystalline samples by gradually decreasing the grain size. Intergranular stress heterogeneities were for example measured in an interstitial-free steel. Experiments were finally carried out in thin layer samples representative of microelectronic components
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Fraczkiewicz, Alexandra. "Développement de la tomographie par rayons X en synchrotron pour l'industrie : application à l'analyse de défaillance en intégration 3D." Thesis, Université Grenoble Alpes (ComUE), 2017. http://www.theses.fr/2017GREAY088/document.

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Abstract:
Ce travail de thèse vise à développer de nouvelles techniques de caractérisation pour l'intégration 3D en micro-électronique. Plus précisément, ce travail porte sur l'imagerie 3D de tels objets et la mesure des contraintes par diffraction de Bragg, réalisées sur de récentes lignes de lumière de l'ESRF (European Synchrotron Radiation Facility).L'intégration 3D a pour but de répondre aux besoins de performances de la micro-électronique, en empilant les différents éléments constituant les puces au lieu de les placer les uns à côté des autres; ceci permet de limiter la place qu'ils occupent et la longueur des connections. Pour ce faire, de nouvelles connections entre puces ont du être développées, telles que les piliers de cuivre et les pads de cuivre, utilisés dans le cas du collage hybride. Afin de maîtriser leurs procédé de fabrication, il est important de pouvoir caractériser ces objets, à la fois par des moyens d'imagerie et de mesure de la déformation dans les puces. Ces mesures doivent permettre un large champ de vue (100 µm), ainsi qu'une haute résolution (50 nm). De plus, afin de satisfaire les besoins en temps de l'industrie micro-électronique, les techniques choisies doivent être aussi rapides et automatiques que possible.Pour satisfaire ces besoins, plusieurs techniques ont été étudiés durant ces travaux de thèse.Une technique d'imagerie 3D par Slice and View, inspirée de la technique classique du FIB/SEM et implémentée dans un PFIB (Plasma Focused Ion Beam), a été développée durant ces travaux de thèse. Elle permet aujourd'hui l'acquisition de larges volumes de manière automatique. De même, le procédé d'analyse des mesures de tomographies réalisées sur la ligne de lumière ID16A de l'ESRF a été adapté, afin de limiter au maximum l'intervention humain et le temps global d'analyse.Des mesures de déformations ont également été menées à l'ESRF, sur une ligne de nano-diffraction, ID01. Ces expériences ont été réalisées sur des empilements dédiés au collage, hybride ou direct. Il a été possible de mesurer en une seule expérience les déformations présentes dans deux couches de silicium, et de réaliser des mesures textit{in situ} dans le cuivre.Dans les travaux de thèse présentés ici, nous montrons les possibilités de techniques synchrotron (imagerie et mesure de déformations) pour la caractérisation d'objets issus de l'intégration 3D. Nous montrons que certaines adaptations des techniques existante peuvent permettre des analyses routinières à haute résolution pour le milieu de la micro-électronique
This PhD thesis aims at developing new characterization techniques for 3D integration in microelectronics. More specifically, the focus is set on recent ESRF (European Synchrotron Radiation Facility) beamlines, both for 3D imaging by tomography and for strain measurements by Bragg diffraction.3D integration aims at reducing the global microelectronics devices footprint and connections length, by stacking the dies on top of one another instead of setting them one to another. This new geometry however requires new connections, such as copper pillars (CuP) and copper pads, used in hybrid bonding. The monitoring of their fabrication process requires their imaging in three dimensions, and the measure of the strain inside them. Those measurements must be conducted on large areas (100 µm2), with high resolution (500 nm for strain and 100 nm for imaging). Moreover, given the industrial context of this study, the characterization methods must be as routine and automatic as possible.To answer those needs, several techniques have been developed in this work.Two 3D imaging techniques have been made compatible with the requirements of 3D integration characterization. A Slice and View procedure has been implemented inside a single beam PFIB, leading to large volumes 3D automated imaging. The tomography workflow accessible on the ID6A beamline of the ESRF has been adapted, in order to limit the human intervention and beam times. This leads to possible statistical measurements on this beamline.Strain measurements have been conducted on the ID01 beamline of the ESRF, on silicon and copper stacks meant for direct and hybrid bonding. They allowed for simultenous local strain measurements in two independent layers of silicon, and textit{in situ} measurements in copper.In this work, we show the possibilities of synchrotron based techniques (here, tomography and Bragg diffraction) for the chacracterization of 3D integration devices. We show that, provided some adjustments, these techniques can be used routinely for the microelectronics field
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Books on the topic "Diffraction des Rayons X synchrotron"

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Japan) Foton Fakutorī Kenkyūkai (2011 Tsukuba-shi. "GISAS-hō no tenkai" yōshishū: PF Kenkyūkai. Tsukuba-shi, Ibaraki-ken, Japan: High Energy Accelerator Research Organization, 2011.

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2

service), SpringerLink (Online, ed. Applications of synchrotron light to scattering and diffraction in materials and life sciences. Berlin: Springer, 2009.

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3

Gratings, mirrors, and slits: Beamline design for soft X-ray synchrotron radiation sources. Amsterdam: Gordon and Breach Science Publishers, 1997.

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4

L, Bish David, and Post Jeffrey Edward, eds. Modern powder diffraction. Washington, D.C: Mineralogical Society of America, 1989.

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5

RX, 2003 (2003 Strasbourg France). Rayons X et matière: RX 2003 : Strasbourg, France, 9-11 décembre 2003. Les Ulis codex A, France: EDP Sciences, 2004.

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6

Bruce, Steiner, and United States. National Aeronautics and Space Administration., eds. X-ray diffraction imaging (topography) of electrooptic crystals by synchrotron radiation. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1988.

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7

Bruce, Steiner, and United States. National Aeronautics and Space Administration., eds. X-ray diffraction imaging (topography) of electrooptic crystals by synchrotron radiation. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1988.

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8

Maharaj, H. P. Appareils d'analyse aux rayons X - exigences et recommandations en matière de sécurité. Ottawa, Ont: Direction de l'hygiène du milieu, 1994.

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9

W, Wyckoff Harold, Hirs, C. H. W. 1923-, and Timasheff Serge N. 1926-, eds. Diffraction methods for biological macromolecules. Orlando, Fla: Academic Press, 1985.

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10

N, Broll, Cornet A, and Denier P, eds. Rayons X et matière: RX 99, ENSAIS, École National Supérieure des Arts et Industries, Strasbourg, France, 7-10 décembre 1999. Les Ulis, France: EDP Sciences, 2000.

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Book chapters on the topic "Diffraction des Rayons X synchrotron"

1

Riekel, C. "Real Time Synchrotron Radiation Diffraction Experiments on Polymers." In Chemical Crystallography with Pulsed Neutrons and Synchroton X-rays, 443–85. Dordrecht: Springer Netherlands, 1988. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-009-4027-7_22.

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2

Lightfoot, Philip, Anthony K. Cheetham, and Arthur W. Sleight. "The Structure of MnPO 4.H 2 O by Synchrotron X-Ray Powder Diffraction." In Chemical Crystallography with Pulsed Neutrons and Synchroton X-rays, 569–70. Dordrecht: Springer Netherlands, 1988. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-009-4027-7_29.

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3

Hovestreydt, E., E. Parthé, and U. Benedict. "Endix — a computer program to simulate energy dispersive X-ray and synchrotron powder diffraction diagram." In Chemical Crystallography with Pulsed Neutrons and Synchroton X-rays, 571–72. Dordrecht: Springer Netherlands, 1988. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-009-4027-7_30.

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4

Harding, Marjorie M. "The Use of Synchrotron Radiation for Laue Diffraction and for the Study of Very Small Crystals." In Chemical Crystallography with Pulsed Neutrons and Synchroton X-rays, 537–61. Dordrecht: Springer Netherlands, 1988. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-009-4027-7_25.

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5

Withers, Philip J. "Synchrotron X-ray Diffraction." In Practical Residual Stress Measurement Methods, 163–94. Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd, 2013. http://dx.doi.org/10.1002/9781118402832.ch7.

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6

Paolasini, Luigi. "Resonant and Magnetic X-Ray Diffraction." In Synchrotron Radiation, 361–87. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-55315-8_12.

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7

Viterbo, Davide, and Giuseppe Zanotti. "X-Ray Diffraction by Crystalline Materials." In Synchrotron Radiation, 241–73. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-55315-8_8.

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8

Cheetham, A. K. "Pulsed Neutron Powder Diffraction." In Chemical Crystallography with Pulsed Neutrons and Synchroton X-rays, 137–58. Dordrecht: Springer Netherlands, 1988. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-009-4027-7_7.

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9

Gozzo, Fabia. "Synchrotron X-Ray Powder Diffraction." In NATO Science for Peace and Security Series B: Physics and Biophysics, 65–82. Dordrecht: Springer Netherlands, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-5580-2_7.

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10

Pannetier, J. "Real-Time Neutron Powder Diffraction." In Chemical Crystallography with Pulsed Neutrons and Synchroton X-rays, 313–55. Dordrecht: Springer Netherlands, 1988. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-009-4027-7_14.

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Conference papers on the topic "Diffraction des Rayons X synchrotron"

1

Mills, Dennis M. "Time-resolved x-ray diffraction and spectroscopy using synchrotron radiation." In International Laser Science Conference. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1986. http://dx.doi.org/10.1364/ils.1986.fh3.

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Abstract:
Although the pulsed nature of the radiation emitted from storage rings has for some time been exploited for studies in the visible vacuum ultraviolet region of the spectrum, only recently have synchrotron radiation users begun experiments that emphasize time resolution. Time-resolved x-ray experiments performed at synchrotron radiation sources fall naturally into two categories, those which do not depend on the actual time structure of the emitted radiation but rather rely on the high flux, and those which take explicit advantage of the modulated or pulsed nature of the x-ray beam. Although not always the case, experiments of the latter group generally have a finer time resolution and it is with these experiments that this presentation is concerned. Pulse durations of 100-1000 ps are most typical for synchrotron radiation sources with repetition rates from 0.5 to 50 MHz. These characteristics combined with the continuous spectral distribution make synchrotron radiation a highly attractive source when compared with other sources of pulsed x rays. In fact synchrotron radiation has been used both as a pump and a probe beam for the study of transient phenomena. Shorter pulses and high flux per pulse may soon be a reality with construction of advanced photon sources planned for the near future.
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Mills, Dennis M. "Time-resolved x-ray diffraction and spectroscopy using synchrotron radiation." In OSA Annual Meeting. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1986. http://dx.doi.org/10.1364/oam.1986.fh3.

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Abstract:
Although the pulsed nature of the radiation emitted from storage rings has for some time been exploited for studies in the visible vacuum ultraviolet region of the spectrum, only recently have synchrotron radiation users begun experiments that emphasize time resolution. Time-resolved x-ray experiments performed at synchrotron radiation sources fall naturally into two categories, those which do not depend on the actual time structure of the emitted radiation but rather rely on the high flux, and those which take explicit advantage of the modulated or pulsed nature of the x-ray beam. Although not always the case, experiments of the latter group generally have a finer time resolution and it is with these experiments that this presentation is concerned. Pulse durations of 100–1000 ps are most typical for synchrotron radiation sources with repetition rates from 0.5 to 50 MHz. These characteristics combined with the continuous spectral distribution make synchrotron radiation a highly attractive source when compared with other sources of pulsed x rays. In fact synchrotron radiation has been used both as a pump and a probe beam for the study of transient phenomena. Shorter pulses and high flux per pulse may soon be a reality with construction of advanced photon sources planned for the near future.
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Zanini, F. "ARCHAEOLOGICAL APPLICATIONS OF SYNCHROTRON RADIATION AT ELETTRA." In Знаки и образы в искусстве каменного века. Международная конференция. Тезисы докладов [Электронный ресурс]. Crossref, 2019. http://dx.doi.org/10.25681/iaras.2019.978-5-94375-308-4.33.

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Abstract:
The use of synchrotron radiation for the analysis of samples of historical and artistic importance (archaeology, palaeontology, conservation sciences, palaeo-environments) has been increasing over the past years, and experiments related to the study of our cultural heritage (CH) have been routinely performed at many beamlines of Elettra, the Italian synchrotron radiation facility. Fundamental parameters such as the high photon flux, the small source size and the low divergence typical of synchrotrons make it a very efficient source for a range of advanced spectroscopy and imaging techniques, adapted to the dishomogeneity and complexity of the materials under study. The continuous tunability of the source (from infrared to X-rays) is essential for techniques based on a fine tuning of the probing energy to reach high chemical sensitivity such as XANES, EXAFS, STXM, UV/VIS spectrometry. Moreover, the small source size attained in the vertical plane leads to spatial coherence of the photon source itself, giving rise to a series of imaging methods already crucial to the field. The increasing number of scientific publications shows that microfocused hard X-ray spectroscopy (absorption, fluorescence, diffraction), full-field X-ray tomography and infrared spectroscopy are the most popular synchrotron techniques in the field. The Elettra laboratory now offers a platform dedicated to CH researchers in order to support both the proposal application phase and the different steps of the experiment, from sample preparation to data analysis. We will present this activity and the main instrumental setups and experimental techniques in use at Elettra, and describe their impact for the science being applied to ancient materials using synchrotron rad
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Tischler, J. Z., and B. C. Larson. "Time-resolved x-ray scattering using synchrotron sources." In OSA Annual Meeting. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1991. http://dx.doi.org/10.1364/oam.1991.md1.

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Abstract:
The pulsed time structure, high intensity, and tight collimation of synchrotron x-ray sources provide new opportunities for the investigation of transient physical properties. The time structure of the x-rays from a synchrotron source is typically 150-ps long pulses separated by 300 ns. By triggering an experiment in sync with these x-ray bursts, measurements can be made with 150-ps resolution as long as the x-ray detector can resolve the 300-ns pulse spacing. Using streak cameras, time resolution down to picoseconds can be achieved by time resolving within a single bunch since the peak intensity within a bunch is ~3 × 1016 photons/s. Next generation sources such as an undulator at the Advanced Photon Source will be 100–1000 times brighter than presently available sources. Nanosecond studies of pulsed laser melting and regrowth of Si and Ge are described, and related experiments involving high-heat flow and supercooled liquid structure are discussed. Single shot crystallography and experiments using the pulsed time structure for neV energy resolution x-ray diffraction via Mossbauer transitions are also discussed.
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Webster, P. J., Z. Chen, D. J. Hughes, A. Steuwer, B. Malard, N. Ratel, M. N. James, and S. P. Ting. "Engineering Applications of Synchrotron X-Rays and Neutrons and the FaME38 Project." In ASME 2004 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2004. http://dx.doi.org/10.1115/imece2004-62451.

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Abstract:
Large Central Scientific Facilities such as the ESRF (the European Synchrotron Radiation Facility) and ILL (the European centre for neutron research), were set up to provide scientists with the advanced facilities they need to exploit neutron and synchrotron X-ray beams for scientific research. Engineers also conduct research at these Facilities, but this is less common as most practicing engineers generally have little or no knowledge of neutron or X-ray scattering, or of their considerable potential for engineering research, model validation, material development and for fatigue and failure analysis. FaME38 is the new joint support Facility for Materials Engineering, located at ILL-ESRF, set up to encourage and to facilitate engineering research by engineers at these facilities. It provides a technical and knowledge centre, a materials support laboratory, and the additional equipment and resources that academic and industrial engineers need for materials engineering research to become practicable, efficient and routine. It enables engineers to add the most advanced scientific diffraction and imaging facilities to their portfolio of diagnostic tools. These include non-destructive internal and through-surface strain scanning, phase analysis, radiography and tomography of engineering components. Synchrotron X-ray and neutron diffraction strain mapping is particularly suited for the rigorous experimental, non-destructive, validation of Finite Element and other computer model codes used to predict residual stress fields that are critical to the performance and lifetimes of engineering components. This paper discusses the FaME38 facility and demonstrates its utility in gaining fundamental insight into mechanical engineering problems through examples, including studies of railway rails, welds and peened surfaces that demonstrate the potential of neutron of synchrotron X-ray strain scanning for the determination of residual stress fields in a variety of engineering materials and critical components.
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Rao, Donepudi V., Zhong Zhong, Tetsuya Yuasa, Takao Akatsuka, Tohoru Takeda, and Giuliana Tromba. "Images of the Rat bone, Vertebra and Test phantom Using Diffraction-Enhanced Imaging Technique with 20, 30 and 40 keV Synchrotron X-rays." In SYNCHROTRON RADIATION INSTRUMENTATION: Ninth International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation. AIP, 2007. http://dx.doi.org/10.1063/1.2436455.

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Bale, Hrishikesh, and Jay C. Hanan. "High Residual Stress Between Zirconia Grains Observed With Laue Micro-Diffraction." In ASME 2009 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2009. http://dx.doi.org/10.1115/imece2009-11640.

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Abstract:
Highly focused synchrotron X-rays were used to measure residual stresses in dental grade yttria stabilized zirconia. The technique uses a sub-micron polychromatic beam to produce Laue diffraction spots. Diffraction spots from individual grains of zirconia provide the deviatoric stress tensor of the residual stress. Significant local grain-grain stresses were observed nearly 10–15% of the 1500 grains examined exhibiting stresses above 500 MPa. These residual stresses influence crack propagation and fracture.
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Schoenlein, R. W., A. H. Chin, T. E. Glover, C. V. Shank, W. P. Leemans, P. Volfbeyn, K. J. Kim, and S. Chattopadhyay. "Femtosecond X-rays Generated via Thomson Scattering of Terawatt Laser Pulses with Relativistic Electrons." In International Conference on Ultrafast Phenomena. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1996. http://dx.doi.org/10.1364/up.1996.wa.4.

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Abstract:
We have developed a unique source of femtosecond x-rays operating in the ~300 fs, ~0.5 Å regime, which will allow us to apply x-ray techniques with ultrafast time resolution to directly probe the structural dynamics of materials. The study of atomic motion on the fundamental time scale of a vibrational period, h/kT~100 fs, is important for understanding processes such as chemical reactions, vibrational energy transfer, phase transitions, and surface dynamics. Our understanding of these processes has been limited by lack of appropriate tools for probing the ultrafast motion of atoms. X-ray techniques such as diffraction and extended x-ray absorption fine structure (EXAFS) are powerful probes of atomic structure, and are widely used with synchrotron x-ray sources. However, the time resolution provided by high-brightness synchrotrons is nearly three orders of magnitude too slow to directly observe fundamental atomic motion. Conversely, femtosecond lasers can measure the optical properties of materials on a 10 fs time scale but optical properties are poor indicators of atomic motion. Femtosecond x-ray pulses will allow us to directly probe atomic motion in condensed matter on an ultrafast time scale.
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Nielsen, S. F., C. Gundlach, E. M. Lauridsen, R. V. Martins, H. F. Poulsen, S. Schmidt, and D. Juul Jensen. "Metal Microstructures in Four Dimensions." In ASME 2004 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2004. http://dx.doi.org/10.1115/imece2004-62435.

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Abstract:
By Three Dimensional X-ray Diffraction (3DXRD) microscopy it is possible to characterize microstructures non-destructively in 3 dimensions. The measurements are furthermore typically so fast that dynamics may be monitored in-situ, giving also the 4th dimension, namely the time. The 3DXRD technique is based on diffraction of high energy x-rays from third generation synchrotron sources. In the present paper the 3DXRD technique is described and it’s potentials are illustrated by examples relating to elastic and plastic strains, recovery, recrystallization and grain growth.
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Armstrong, Nicholas, Peter A. Lynch, Sitarama R. Kada, Pavel Cizek, Justin A. Kimpton, and Ross A. Antoniou. "Bayesian Analysis of In-Situ High-Resolution X-Ray Diffraction Synchrotron Experiments of Ti-6Al-4V Specimens Undergoing Tensile Loading." In ASME Turbo Expo 2019: Turbomachinery Technical Conference and Exposition. American Society of Mechanical Engineers, 2019. http://dx.doi.org/10.1115/gt2019-91230.

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Abstract:
Abstract Linking the accumulation of microstructural damage prior to crack initiation to the lifing of aero-engines components would help to better predict the time that a component spends in this crack initiation stage. We present the results and analysis of in-situ high-resolution X-ray diffraction (XRD) experiments of a Ti-6Al-4V specimen that experienced tensile loading using medium energy synchrotron X-rays (≤ 21 keV) carried out at the Australian Synchrotron. The XRD analysis characterised XRD line-broadening due to the build-up of dislocations and the formation of crystallites in α- and β-Ti-6Al-4V specimens. Using Bayesian XRD analysis methods, the density, spatial arrangement of dislocations, and crystallite size information for α- and β-phases of the Ti-6Al-4V was extracted from the XRD line-profiles, as a function of applied load. The XRD analysis was then compared and validated with transmission electron microscopy (TEM) analysis of the specimen before and after the loading. Comparison of the TEM and XRD analysis reveals broad agreement in terms of the microstructural damage of Ti-6Al-4V specimens.
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Reports on the topic "Diffraction des Rayons X synchrotron"

1

McBride, M. Determining the Structure of Biomaterials Interfaces using Synchrotron-based X-ray Diffraction. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), January 2002. http://dx.doi.org/10.2172/15005554.

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2

Miao, J. Taking X-Ray Diffraction to the Limit: Macromolecular Structures from Femtosecond X-Ray Pulses and Diffraction Microscopy of Cells with Synchrotron Radiation. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), June 2004. http://dx.doi.org/10.2172/826961.

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3

Miller, Matthew, and Paul Dawson. A Mechanical Loading/Synchrotron X-Ray Diffraction System for In-Situ Determination of Lattice Strains. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, March 2005. http://dx.doi.org/10.21236/ada430973.

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4

Prilliman, Stephen Gerald. Synchrotron X-ray diffraction studies of phase transitions and mechanical properties of nanocrystalline materials at high pressure. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), January 2003. http://dx.doi.org/10.2172/825137.

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5

Goncharov, A., J. Zaug, and J. Crowhurst. Advanced Photon Source Activity Report 2003: Report of Work Conducted at the APS, January 2003-December 2003, Synchrotron x-ray diffraction at the APS, Sector 16 (HPCAT). Office of Scientific and Technical Information (OSTI), January 2005. http://dx.doi.org/10.2172/15014502.

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