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Journal articles on the topic 'Diffraction de surface des rayons X'

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Author: Grafiati

Published: 8 June 2024

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1

Hlawka, F., G. Q. Song, and A. Cornet. "Utilisation de la diffraction de rayons X pour l'étude de traitements de surface laser." Le Journal de Physique IV 06, no. C4 (July 1996): C4–123—C4–126. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996412.

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2

Arnaud, Y., M. Brunel, A. M. De Becdelivre, and P. Thevenard. "Étude par diffraction de rayons X en incidence rasante (GIXD) de surfaces métalliques implantées en azote." Journal de Chimie Physique 84 (1987): 341–45. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1987840341.

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3

Valot, Christophe, Vincent Vignal, Roland Oltra, and Nicolas Mary. "Caractérisation des gradients locaux de contraintes à la surface des aciers inoxydables par diffraction des rayons X et simulation numérique." Annales de Chimie Science des Matériaux 29, no. 3 (May 31, 2004): 19–31. http://dx.doi.org/10.3166/acsm.29.3.19-31.

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4

Andreazza, P., X. de Buchere, and R. Erre. "Diffraction des rayons X en incidence rasante pour l'analyse des transformations structurales de surfaces d'aciers induites par implantation ionique multiple." Le Journal de Physique IV 06, no. C4 (July 1996): C4–399—C4–408. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996436.

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5

Barbier, A., G. Renaud, O. Robach, and P. Guénard. "La diffraction de rayons X en incidence rasante à l'ESRF : application à l'étude de surfaces et d'interfaces à base d'oxydes." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (October 1998): Pr5–203—Pr5–213. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998526.

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6

Chevereau, Élodie, Lionel Limousy, Patrick Dutournié, and Patrick Bourseau. "Réalisation et modification des propriétés de sélectivité d’une membrane minérale d’ultrafiltration : étude de la rétention de solutions salines." Revue des sciences de l’eau 25, no. 1 (March 28, 2012): 21–30. http://dx.doi.org/10.7202/1008533ar.

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Abstract:

De par leurs caractéristiques structurales bien connues, les zéolithes sont fréquemment utilisées pour leur capacité à catalyser, à échanger des ions ou à adsorber certaines molécules. Ces matériaux sont également utilisés comme phase active pour réaliser des membranes. Dans ce travail, une membrane céramique d’ultrafiltration a été réalisée en imprégnant de la Mordenite (phase active) sur un support en alumine. La structure et les caractéristiques morphologiques de cette membrane ont été étudiées (diffraction de rayons X, BET / BJH (Brunauer-Emmett-Teller et Brunauer-Joyner-Hallenda), microscopie électronique à balayage). Des mesures de potentiels zêta et d’écoulement ont été réalisées sur la phase active en présence de différentes solutions salines, afin de caractériser qualitativement et quantitativement les charges de surface de la phase active de la membrane. La sélectivité de la membrane vis-à-vis de solutions salines pures a été étudiée sur un pilote d’ultrafiltration de laboratoire. Aucune rétention n’a été observée lors de la filtration d’une solution de chlorure de sodium. Compte tenu des propriétés électriques de la membrane (fortement chargée négativement), une expérience de filtration a été réalisée en présence d’un sel divalent (Na2CO3). Dans ces conditions, une rétention importante a été observée. Après rinçage à l’eau pure, un nouvel essai de filtration a été réalisé en présence de solution de sel monovalent (NaCl) et a conduit à un taux de rétention de l’ordre de 10 % . Ce phénomène semble être lié au traitement et à la présence d’ions carbonates. Après un lavage acide, la membrane finit par retrouver ses propriétés initiales. Pour conclure, une membrane Mordenite d’ultrafiltration a été réalisée avec des propriétés de filtration qui peuvent être réversiblement modifiées par un simple traitement chimique.

7

Ravy, Sylvain. "La diffraction cohérente des rayons X." Reflets de la physique, no. 34-35 (June 2013): 60–64. http://dx.doi.org/10.1051/refdp/201334060.

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8

Popescu, M., F. Sava, A. Lörinczi, I. N. Mihailescu, I. Cojocaru, and G. Mihailova. "Diffraction de rayons X sur le silicium poreux." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (October 1998): Pr5–31—Pr5–37. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998505.

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9

Bach, M., N. Broll, A. Cornet, and L. Gaide. "Diffraction X en traitements thermiques : dosage de l'austénite résiduelle par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 06, no. C4 (July 1996): C4–887—C4–895. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996485.

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10

Bourret, A. "Étude des interfaces enterrées par diffraction de rayons X." Le Journal de Physique IV 07, no. C6 (December 1997): C6–19—C6–29. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1997602.

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11

Abbas, S., A. Raho, and M. Kadi-Hanifi. "Caractérisation de solutions solides par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 10, PR10 (September 2000): Pr10–49—Pr10–54. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20001006.

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12

Kadi-Hanifi, M., H. Yousfi, and A. Raho. "Caractérisation de solutions solides par diffraction des rayons X." Revue de Métallurgie 90, no. 9 (September 1993): 1116. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199390091116.

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13

Bonod, Nicolas. "Physicien célèbre : Max von Laue." Photoniques, no. 98 (September 2019): 18–19. http://dx.doi.org/10.1051/photon/20199818.

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Abstract:

Max von Laue est un physicien théoricien allemand spécialiste de la diffraction des ondes, de la relativité et de la superconductivité. Il propose en 1912 de sonder l’arrangement périodique de la matière avec des faisceaux de courtes longueurs d’onde, les rayons X ; et sera récompensé par le prix Nobel de Physique en 1914. La découverte de la diffraction des rayons X par des cristaux sera à l’origine d’avancées majeures dans les 100 ans qui suivirent, de la découverte de la structure de l’ADN à celle des quasi-cristaux.

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Brunel, M., and F. de Bergevin. "Diffraction d'un faisceau de rayons X en incidence très rasante." Acta Crystallographica Section A Foundations of Crystallography 42, no. 5 (September 1, 1986): 299–303. http://dx.doi.org/10.1107/s010876738609921x.

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15

Kahloun, C., K. F. Badawi, and A. Diou. "Incertitude sur l'analyse des contraintes par diffraction des rayons X." Revue de Physique Appliquée 25, no. 12 (1990): 1225–38. http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:0199000250120122500.

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16

Bulteel, D., E. Garcia-Diaz, J. Durr, L. Khouchaf, C. Vernet, and J. M. Siwak. "Étude d'un granulat alcali-réactif par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 10, PR10 (September 2000): Pr10–513—Pr10–520. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20001055.

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17

Louër, D. "Microstructure et profil des raies de diffraction des rayons X." Journal de Physique IV (Proceedings) 103 (February 2003): 321–37. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:200300013.

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Lara-Ortiz, Laura, Fredy Fabián Parada-Becerra, Ely Dannier Valbuena-Niño, Piotr A. Tsygankov, Valeriy Dugar-Zhabon, and Arturo Plata-Gómez. "Temperature behaviour on deposition of the titanium nitride thin films on the H13 steel by the electric arc discharge in vacuum." Respuestas 22, no. 2 (July 1, 2017): 14. http://dx.doi.org/10.22463/0122820x.1167.

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Abstract:

AbstractObjective: In this present research work the behaviour of temperature of the substrate manufactured in AISI H13 steel, in the range of and , during of surface deposition of titanium nitride (TiN) thin films by the technique of cathodic arc in vacuum. Results: The physical properties of the TiN films were obtained and analysed by the techniques of micro-indentation, Atomic Force Microscopy (AFM) and X-Ray Diffraction (XRD). Conclusion: It was determined that the increase in the temperature of the substrate during the deposition of TiN films improves the mechanical properties of the surface of the steel of type AISI H13, where the highest hardness was present in the coating deposited at a temperature of , which has a preferential orientation in the plane determined by the XRD patterns.Keyword: Coatings, Metal substrates, Substrate temperatureResumenObjetivo: En el presente trabajo de investigación se estudia el comportamiento de la temperatura del sustrato, fabricado en acero de tipo AISI H13, en el rango de y , durante la deposición superficial de películas delgadas de nitruro de titanio (TiN) por la técnica de arco catódico en vacío. Resultados: Las propiedades físicas de las películas de TiN fueron obtenidas y analizadas mediante las técnicas la micro-indentación, microscopía de fuerza atómica (AFM) y la difracción de rayos x (DRX). Conclusión: Se determinó que el incremento en la temperatura del sustrato durante la deposición de las películas de TiN, mejora las propiedades mecánicas de la superficie del acero de tipo AISI H13, donde la mayor dureza se presentó en el recubrimiento depositado a una temperatura de , el cual tiene una orientación preferencial en el plano determinada por los patrones de DRX.Palabra Clave: Revestimientos, Sustratos metálicos, Temperatura del sustrato Resumo Objetivo: No presente pesquisa é estudado o comportamento da temperatura do substrato, feito de aço de tipo AISI H13, no intervalo de e , durante a deposição superfície das películas finas de nitreto de titânio (TiN) por meio da técnica de arco catico em vácuo. Resultados: As propriedades físicas dos filmes de TiN foram obtidos e analisados pelas técnicas de micro-indentação, microscopia de força atómica (AFM) e difracção de raios-X (DRX). Conclusão: determinou-se que o aumento de temperatura do substrato durante a deposição do filme de TiN, melhora as propriedades mecânicas da superfície do aço de tipo AISI H13, onde a maior dureza foi apresentada no revestimento depositado a uma temperatura de , que tem uma orientação preferida no plano determinados pelos padrões de DRX.Palavras-chave: Revestimentos, Substratos metálicos, Temperatura do sustrato

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de Vries, J. L. "Historique de la diffraction et de la fluorescence des rayons X." Le Journal de Physique IV 06, no. C4 (July 1996): C4–695—C4–701. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996467.

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Edhokkar, Fadhila, Ahmed Hadrich, Mohsen Graia, and Tahar Mhiri. "Ba1.01Sr0.99P2O7: un nouveau site Ba2+révélé par diffraction des rayons X." Acta Crystallographica Section C Crystal Structure Communications 68, no. 12 (November 29, 2012): i86—i88. http://dx.doi.org/10.1107/s0108270112047002.

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Abstract:

Single crystals of barium strontium diphosphate, Ba1.01Sr0.99P2O7, were prepared by a solid-state reaction. The compound is isostructural with α-Ba2P2O7, α-Sr2P2O7and BaPbP2O7. The structure has only one diphosphate group of the dichromate type that is repeated by symmetry to form sheets. These sheets present mirror planes perpendicular to theaaxis, situated atx= {1 \over 4} and {3 \over 4}. All the cations and three of the five independent O atoms are located on these mirror planes. The Ba2+cations are nine-coordinated by O atoms. The Ba2+and Sr2+cations are distributed on three different sites, in contrast with the isostructural compounds where only two sites are fully occupied. The refined site occupancies sum to a Ba:Sr ratio of 1.0133 (18):0.9867 (13), which leads to the reported deviation from the BaSrP2O7stoichiometry. The Raman spectrum of the compound is also reported and discussed.

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Authier, André. "Une découverte qui a changé le monde : la diffraction des rayons X." Reflets de la physique, no. 39 (May 2014): 24–29. http://dx.doi.org/10.1051/refdp/201439024.

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22

Popescu, M., W. Hoyer, M. Stegarescu, A. Cornet, and N. Broll. "Diffraction de rayons X sur les plaquettes de fer durcies par cyanuration." Journal de Physique IV (Proceedings) 118 (November 2004): 351–53. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004118041.

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Chacon, C., O. Isnard, and J. F. Bérar. "Étude structurale des composés YCo4-xNixB par diffraction anomale des rayons X." Journal de Physique IV (Proceedings) 118 (November 2004): 419–29. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004118049.

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Maeder, G. "Développements actuels de la détermination des contraintes par diffraction des rayons X." Matériaux & Techniques 76, no. 9-10 (1988): 5–12. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/198876090005.

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Louër, D. "La diffraction des rayons X par les poudres cent ans après Röntgen." Le Journal de Physique IV 06, no. C4 (July 1996): C4–57—C4–69. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996407.

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KOBAYASHI, Shintaro. "Surface X-ray Diffraction." Journal of the Japan Society of Colour Material 87, no. 1 (2014): 31–35. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai.87.31.

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Takahashi, Toshio. "X-ray surface diffraction." Bulletin of the Japan Institute of Metals 28, no. 3 (1989): 203–7. http://dx.doi.org/10.2320/materia1962.28.203.

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Robinson, I. K. "Surface X-ray diffraction." Acta Crystallographica Section A Foundations of Crystallography 43, a1 (August 12, 1987): C205. http://dx.doi.org/10.1107/s0108767387080024.

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Robinson, I. K., and D. J. Tweet. "Surface X-ray diffraction." Reports on Progress in Physics 55, no. 5 (May 1, 1992): 599–651. http://dx.doi.org/10.1088/0034-4885/55/5/002.

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Périnet, Guy. "III. Détermination par diffraction des rayons X de la température de cuisson d'ossements." Gallia préhistoire 30, no. 1 (1987): 149. http://dx.doi.org/10.3406/galip.1987.2372.

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Marcos, Angel. "Etude minéralogique des sédiments du Golfe Normand-Breton par diffraction des rayons X." Norois 130, no. 1 (1986): 179–85. http://dx.doi.org/10.3406/noroi.1986.4304.

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Meneau, C., Ph Goudeau, P. Andreazza, C. Andreazza-Vignolle, and J. C. Pommier. "Caractérisation structurale et contraintes résiduelles de films d'AIN par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (October 1998): Pr5–153—Pr5–161. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998520.

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Faure, Ph, N. Rambert, S. Ragot, A. Gueugnot, C. Genestier, B. Sitaud, and J. P. Itié. "Caractérisation structurale sous haute pression et en température par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (October 1998): Pr5–481—Pr5–487. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998561.

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34

Popescu, M., F. Sava, A. Cornet, and N. Broll. "Étude de la structure des alliages vitreux Ag-As2S3par diffraction de rayons X." Journal de Physique IV (Proceedings) 12, no. 6 (July 2002): 47–50. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20020211.

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van Meerssche, M., J. P. Declercq, G. Germain, R. Bouché, and M. Draguet-Brughmans. "Détermination par Diffraction de Rayons X de la Structure de la Méphénytoïne C12H14N2O2." Bulletin des Sociétés Chimiques Belges 91, no. 3 (September 1, 2010): 199–204. http://dx.doi.org/10.1002/bscb.19820910304.

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Chen, Haydn. "Surface/Interface X-Ray Diffraction." Materials Science Forum 189-190 (July 1995): 95–106. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.189-190.95.

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Stepanov, S. A., E. A. Kondrashkina, and D. V. Novikov. "X-ray surface back diffraction." Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 301, no. 2 (March 1991): 350–57. http://dx.doi.org/10.1016/0168-9002(91)90478-9.

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Chen, Haydn. "Surface/interface X-ray diffraction." Materials Chemistry and Physics 43, no. 2 (February 1996): 116–25. http://dx.doi.org/10.1016/0254-0584(95)01618-5.

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39

Durand, N., L. Bimbault, K. F. Badawi, and Ph Goudeau. "Mesure par diffraction des rayons X des microdéformations dans des films minces texturés d'Au." Journal de Physique III 4, no. 6 (June 1994): 1025–32. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1994183.

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40

Convert, F., and B. Miège. "Généralisation de l'analyse quantitative des phases par diffraction de rayons X en dispersion d'énergie." Le Journal de Physique IV 10, PR10 (September 2000): Pr10–33—Pr10–47. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20001005.

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41

Martinetto, P., M. Anne, E. Dooryhée, G. Tsoucaris, and Ph Walter. "Les formulations cosmétiques de l'Egypte ancienne retrouvées grâce à la diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 10, PR10 (September 2000): Pr10–465—Pr10–472. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20001049.

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42

Plévert, J., and D. Louër. "Formes de pics de diffraction des rayons X par des solides à cristallisation fine." Journal de Chimie Physique 87 (1990): 1427–40. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1990871427.

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43

KIKUTA, SEISHI. "Characterization of surface structure. X-ray surface diffraction." Nihon Kessho Gakkaishi 29, no. 2 (1987): 112–14. http://dx.doi.org/10.5940/jcrsj.29.112.

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Hélary, Doriane, Evelyne Darque-Ceretti, Anne Bouquillon, Marc Aucouturier, and Gabriel Monge. "Contribution de la diffraction de rayons X sous incidence rasante à l'étude de céramiques lustrées." Revue d'Archéométrie 27, no. 1 (2003): 115–22. http://dx.doi.org/10.3406/arsci.2003.1047.

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Villain, P., P. Goudeau, P. O. Renault, and K. F. Badawi. "Détermination du module d'Young dans des films minces de tungstène par diffraction des rayons X." Journal de Physique IV (Proceedings) 12, no. 6 (July 2002): 147–54. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20020222.

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Schuster, I., J. Pécaut, and K. Tran. "La diffraction des rayons X au service de la conservation des bois archéologiques gorgés d'eau." Journal de Physique IV (Proceedings) 118 (November 2004): 377–84. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004118044.

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Tinant, B., R. Touillaux, J. P. Declercq, M. van Meerssche, G. Leroy, and J. Weiler. "Étude Structurale Des Stilbènes I. Structures Par Diffraction de Rayons X de Trois α-Cyanostilbènes." Bulletin des Sociétés Chimiques Belges 92, no. 2 (September 1, 2010): 101–10. http://dx.doi.org/10.1002/bscb.19830920203.

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Roshchupkin, Dmitry, Luc Ortega, Olga Plotitcyna, Ivo Zizak, Simone Vadilonga, Dmitry Irzhak, and Evgenii Emelin. "X-ray diffraction by surface acoustic waves." Journal of Applied Crystallography 54, no. 1 (February 1, 2021): 180–94. http://dx.doi.org/10.1107/s1600576720015319.

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Abstract:

The possibilities are presented of X-ray diffraction methods for studying the propagation of surface acoustic waves (SAWs) in solids, including diffraction under total external reflection conditions and Bragg diffraction, using acoustically modulated X-ray multilayer mirrors and crystals. SAW propagation was studied using both meridional and sagittal diffraction geometries where the SAW wavevectors and X-ray photons are collinear or perpendicular, respectively. SAW propagation in a crystal leads to sinusoidal modulation of the crystal lattice and the appearance of diffraction satellites on the rocking curve. The intensities and angular positions of these diffraction satellites are determined by the SAW wavelength, amplitude and attenuation. Therefore, diffraction methods allow the analysis of the SAW propagation process and determination of SAW parameters. The influence of X-ray energy on diffraction by acoustically modulated crystals is studied for the first time. It is shown that changes in the X-ray energy can change the angular region where diffraction satellites exist under conditions of total external reflection. By contrast, in the Bragg diffraction region changes in the X-ray photon energy lead to changes in the X-ray penetration depth into the crystal and redistribution of the diffracted intensity among diffraction satellites, but do not change the angular divergence between diffraction satellites on the rocking curve. It is also shown that, in X-ray diffraction on acoustically modulated crystals on a number of successive reflections, a decrease in interplanar spacing leads to an increase in the number of diffraction satellites and a redistribution of diffracted radiation between them.

49

Sauvage-Simkin, M., R. Pinchaux, and J. Massies. "Surface Studies with X-Ray Diffraction." Physica Scripta T29 (January 1, 1989): 177–82. http://dx.doi.org/10.1088/0031-8949/1989/t29/033.

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50

Grey, François, and Robert Feidenhans’l. "Surface Crystallography by X-ray Diffraction." Europhysics News 19, no. 7-8 (1988): 94–98. http://dx.doi.org/10.1051/epn/19881907094.

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