Journal articles on the topic 'Caractérisation des films adhésifs'
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Halioui, M., A. Bonnard, and H. P. Lieurade. "Caractérisation des adhésifs structuraux." Matériaux & Techniques 79, no. 11 (1991): 29–38. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199179110029.
Full textLurton, Y., F. Lesourd, and C. Gay. "Résistance à la rupture des films adhésifs." Revue Francophone de Cicatrisation 1, no. 1 (January 2017): 143. http://dx.doi.org/10.1016/s2468-9114(17)30333-x.
Full textAngélélis, Céline, and Eric Felder. "Caractérisation mécanique des films minces." Matériaux & Techniques 84, no. 9-10 (1996): 33–37. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199684090033.
Full textAngélélis, Céline, and Eric Felder. "Caractérisation mécanique des films minces." Matériaux & Techniques 84, no. 11-12 (1996): 23–28. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199684110023.
Full textMbaye, K., M. Pham Tu, N. T. Viet, L. Wartski, and J. C. Villegier. "Elaboration et caractérisation en hyperfréquences de films minces de NbN." Revue de Physique Appliquée 20, no. 7 (1985): 457–63. http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:01985002007045700.
Full textMeneau, C., Ph Goudeau, P. Andreazza, C. Andreazza-Vignolle, and J. C. Pommier. "Caractérisation structurale et contraintes résiduelles de films d'AIN par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (October 1998): Pr5–153—Pr5–161. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998520.
Full textPetitjean, C., M. Grafouté, C. Rousselot, J. F. Pierson, O. Banakh, and A. Cavaleiro. "Caractérisation de films colorés de Fe-O-N élaborés par pulvérisation magnétron réactive." Matériaux & Techniques 94, no. 1 (2006): 23–29. http://dx.doi.org/10.1051/mattech:2006021.
Full textEve, Sophie, Florent Moisy, Rosine Coq Germanicus, Clara Grygiel, Eric Hug, and Isabelle Monnet. "Caractérisation par nanoindentation du GaN irradié par des ions uranium de grande énergie." Matériaux & Techniques 105, no. 1 (2017): 108. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/2017008.
Full textMimault, J., K. Bouslikhane, T. Girardeau, and M. Jaouen. "Caractérisation structurale EXAFS et propriétés tribologiques de films minces nanocristallins à base Ni-Ti." Revue de Métallurgie 90, no. 9 (September 1993): 1193. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199390091193.
Full textFischer, H., S. Andrieu, A. Barbara, A. Traverse, and M. Piécuch. "Spectroscopie d’absorption X pour la caractérisation structurale de films minces et de superréseaux métalliques." Revue de Métallurgie 96, no. 9 (September 1999): 1057–66. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199996091057.
Full textBendaoud, Abdelber, Amar Tilmatine, Karim Medles, Marius Blajan, Mustapha Rahli, and Lucian Dascalescu. "Caractérisation expérimentale des électrodes couronne de type «dual»." Journal of Electrostatics 64, no. 7-9 (July 2006): 431–36. http://dx.doi.org/10.1016/j.elstat.2005.10.024.
Full textZimmer, A., N. Stein, C. Boulanger, and L. Johann. "Caractérisation par ellipsométrie spectroscopique de films minces de tellurure de bismuth obtenus par voie électrochimique." Journal de Physique IV (Proceedings) 122 (December 2004): 87–92. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004122013.
Full textAzzoug, Asma. "Elaboration et caractérisation des couches minces d'oxyde de cuivre : Application à la photo-dégradation de Méthyle Orange." Journal of Physical & Chemical Research 1, no. 1 (June 1, 2022): 57–71. http://dx.doi.org/10.58452/jpcr.v1i1.32.
Full textBaborowski, J., M. Charbonnier, and M. Romand. "Caractérisation par émission X de films d'oxyde et d'oxynitrure de chrome déposés par pulvérisation magnétron réactive." Le Journal de Physique IV 06, no. C4 (July 1996): C4–429—C4–439. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996439.
Full textBaborowski, J., M. Charbonnier, and M. Romand. "Caractérisation par émission X de films de carbone et de nitrure de carbone déposés par PVD." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (October 1998): Pr5–279—Pr5–286. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998535.
Full textSteinbrunn, A., and M. Bordignon. "Caractérisation de films minces de molybdène métallique déposé sur une face (100) de monoxyde de cobalt CoO." Thin Solid Films 168, no. 1 (January 1989): 61–69. http://dx.doi.org/10.1016/0040-6090(89)90689-5.
Full textNewton, Pascal, Frédéric Houzé, Sophie Noël, Lionel Boyer, Pascal Viel, and Gérard Lécayon. "Élaboration et caractérisation chimique, topographique, tribologique et électrique de films de polyacrylonitrile post-traités en vue d'applications en connectique." Journal de Physique III 5, no. 6 (June 1995): 661–75. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1995153.
Full textHidalgo, M., J. Guillot, MF Llauro-Darricades, H. Waton, and R. Pétiaud. "Caractérisation par la mesure des T1ρ(H) de films obtenus à partir de latex préparés par polymérisation en émulsion." Journal de Chimie Physique 89 (1992): 505–11. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1992890505.
Full textHosseini-Sadrabadi, Hamid, Sebastien Volcy, Bruno Chareyre, Christophe Dano, Luc Sibille, and Pierre Riegel. "Un pénétromètre à pointe contrôlé en force ou en déplacement pour une caractérisation étendue des sols." Revue Française de Géotechnique, no. 178 (2024): 1. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024004.
Full textTsikounas, Myriam, and Sébastien Lepajolec. "La jeunesse irrégulière sur grand écran : un demi-siècle d’images." Revue d’histoire de l’enfance « irrégulière » N° 4, no. 1 (January 1, 2002): 87–110. http://dx.doi.org/10.3917/rhei.004.0087.
Full textBasile, Françoise, Jean Bergner, Claude Bombart, Pascale Nallet, Elisabeth Chassaing, and Gérard Lorang. "Quantification de l'analyse en profondeur par spectrométrie d'électrons Auger et pulvérisation ionique : caractérisation des interfaces des films multicouches Cu–Co." Microscopy Microanalysis Microstructures 8, no. 4-5 (1997): 301–14. http://dx.doi.org/10.1051/mmm:1997123.
Full textDezert, Théo, Sérgio Palma-Lopes, Jean-Robert Courivaud, Yannick Fargier, and Christophe Vergniault. "Fusion de données géophysiques (TRE et MASW) et géotechniques (granulométrie) pour la caractérisation de digues en terre." Revue Française de Géotechnique, no. 178 (2024): 4. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024007.
Full textAkani, M., C. E. Benouis, and M. Benzohra. "Caractérisation électrique des interfaces P+-Si-poly/N-c-Si réalisées par dépôt LPCVD de films fortement dopés $in~situ$ au bore." Journal de Physique III 3, no. 8 (August 1993): 1675–87. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993228.
Full textAkani, M., C. E. Benouis, and M. Benzohra. "Caractérisation électrique des interfaces P+ - Si - poly/N-c-Si réalisées par dépôt LPCVD de films fortement dopés in situ au bore." Journal de Physique III 3, no. 11 (November 1993): 2163. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993278.
Full textRossi, Jérôme. "Essai de caractérisation de l’évolution des musiques super-héroïques de Batman (1989) à The Dark Knight Rises (2012)." Revue musicale OICRM 5, no. 2 (November 30, 2018): 15–47. http://dx.doi.org/10.7202/1054146ar.
Full textKoch, Delphine, and Philippe Molinié. "Une application de la cartographie de potentiel à la caractérisation des matériaux. Étalement de charge et effets anormaux sur des films de polyéthylène téréphtalate." Revue internationale de génie électrique 9, no. 4-5 (October 30, 2006): 449–63. http://dx.doi.org/10.3166/rige.9.449-463.
Full textBonnotte, E., P. Delobelle, L. Bornier, B. Trolard, and G. Tribillon. "Mise en œuvre de deux méthodes interférométriques pour la caractérisation mécanique des films minces par l'essai de gonflement. Applications au cas du silicium monocristallin." Journal de Physique III 5, no. 7 (July 1995): 953–83. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1995169.
Full textCharbonnier, M., D. Leonard, Y. Goepfert, and M. Romand. "Caractérisation par spectrométrie photoélectronique (XPS) et spectrométrie d'émission X (XRFS et LEEIXS) de films minces de Ni ou Cu electroless déposés sur substrats polymères." Journal de Physique IV (Proceedings) 118 (November 2004): 193–202. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004118023.
Full textGupta, Mridula, V. K. Sharma, A. Kapoor, and K. N. Tripathi. "Fabrication and characterization of polycarbonate thin film optical waveguides." Journal of Optics 28, no. 1 (February 1997): 37–40. http://dx.doi.org/10.1088/0150-536x/28/1/007.
Full textCourivaud, Jean-Robert, Laurent del Gatto, Kamal El Kadi Abderrezzak, Christophe Picault, Mark Morris, and Stéphane Bonelli. "Le projet Overcome : comprendre et modéliser les processus d’érosion par surverse des digues et barrages en remblai constitués de matériaux grossiers à granulométries étalées." Revue Française de Géotechnique, no. 178 (2024): 6. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024009.
Full textDARQUE-CERETTI, Evelyne, Eric FELDER, and Bernard MONASSE. "Caractérisation physico-chimique de revêtements et films minces à applications tribologiques." Frottement, usure et lubrification, March 2012. http://dx.doi.org/10.51257/a-v1-tri5110.
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