Academic literature on the topic 'Рефлектометрія'
Create a spot-on reference in APA, MLA, Chicago, Harvard, and other styles
Consult the lists of relevant articles, books, theses, conference reports, and other scholarly sources on the topic 'Рефлектометрія.'
Next to every source in the list of references, there is an 'Add to bibliography' button. Press on it, and we will generate automatically the bibliographic reference to the chosen work in the citation style you need: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver, etc.
You can also download the full text of the academic publication as pdf and read online its abstract whenever available in the metadata.
Journal articles on the topic "Рефлектометрія"
Karpets, M. L., T. V. Tropin, L. A. Bulavin, and J. W. P. Schmelzer. "Neutron reflectometry for structural studies in thin films of polymer nanocomposites. Modeling." Nuclear Physics and Atomic Energy 19, no. 4 (December 25, 2018): 376–82. http://dx.doi.org/10.15407/jnpae2018.04.376.
Full textЯкухина, А. В., Д. В. Горелов, А. С. Кадочкин, С. С. Генералов, В. В. Амеличев, and В. В. Светухин. "Исследование влияния шероховатости боковых стенок световодного слоя из Si3N4 различной толщины на оптические потери в интегральном волноводе, сформированном на кварцевой подложке." Nanoindustry Russia 13, no. 7-8 (December 14, 2020): 450–57. http://dx.doi.org/10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.450.457.
Full textBogachkov, I. V., and N. I. Gorlov. "IMPROVEMENT OF DEVICES FOR EARLY DIAGNOSTICS OF THE OPTICAL FIBERS STATE OF TELECOMMUNICATIONS SYSTEMS." Dynamics of Systems, Mechanisms and Machines 8, no. 4 (2020): 105–12. http://dx.doi.org/10.25206/2310-9793-8-4-105-112.
Full textГригорьев, В. В., В. Е. Кравцов, А. К. Митюрев, Е. А. Науменко, А. О. Погонышев, К. Б. Савкин, and С. В. Тихомиров. "Особенности метрологического обеспечения оптических рефлектометров." PHOTONICS Russia 13, no. 7 (November 20, 2019): 676–79. http://dx.doi.org/10.22184/1992-7296.fros.2019.13.7.676.679.
Full textN.S., Kosarev, and Sipko A.I. "Application of GNSS-reflectometry for monitoring world ocean level." Geodesy and Aerophotosurveying 65, no. 1 (2021): 61–67. http://dx.doi.org/10.30533/0536-101x-2020-65-1-61-67.
Full textНикитенко, Ю. В., А. В. Петренко, Н. А. Гундорин, Ю. М. Гледенов, and В. Л. Аксенов. "Изотопно-идентифицирующая рефлектометрия нейтронов." Кристаллография 60, no. 4 (2015): 518–32. http://dx.doi.org/10.7868/s0023476115030108.
Full textСоллер, Б. Дж., Д. К. Гиффорд, М. С. Вольф, and М. Э. Фроггатт. "Оптическая рефлектометрия обратного рассеяния (OBR)." PHOTONICS Russia 13, no. 5 (September 4, 2019): 452–60. http://dx.doi.org/10.22184/1993-7296.fros.2019.13.5.452.460.
Full textТимошенков, В. П., Д. В. Родионов, Н. А. Шелепин, and А. В. Селецкий. "СВЧ-РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ N-МОП КНИ-ТРАНЗИСТОРОВ." NANOINDUSTRY Russia 96, no. 3s (June 15, 2020): 353–55. http://dx.doi.org/10.22184/1993-8578.2020.13.3s.353.355.
Full textЖакетов, В. Д., Е. Читану, and Ю. В. Никитенко. "НЕЙТРОННЫЕ РЕФЛЕКТОМЕТРИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ПЛЕНОК ZNO, "Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования"." Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, no. 7 (2018): 27–33. http://dx.doi.org/10.7868/s0207352818070041.
Full textПлешанов, Н. К. "К рефлектометрии нейтронов с прецессирующими спинами." Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, no. 12 (2019): 8–19. http://dx.doi.org/10.1134/s0207352819090117.
Full textDissertations / Theses on the topic "Рефлектометрія"
Рубцов, Владислав Генадійович. "Метод фазової рефлектометрії." Магістерська робота, Хмельницький національний університет, 2020. http://elar.khnu.km.ua/jspui/handle/123456789/9629.
Full textБорисенко, Євген Анатолійович, and С. П. Корж. "Дослідження методу підвищення точності рефлектометру." Thesis, Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут", 2018. http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/46821.
Full textПазуха, Ірина Михайлівна, Ирина Михайловна Пазуха, and Iryna Mykhailivna Pazukha. "Дослідження структури багатошарової плівкової системи на основі Сu та Сr методом рентгенівської рефлектометрії." Thesis, Видавництво СумДУ, 2007. http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/15221.
Full textConference papers on the topic "Рефлектометрія"
Харасов, Д. Р., И. А. Чурилин, С. П. Никитин, О. Е. Наний, and В. Н. Трещиков. "Влияние эффекта вынужденного комбинационного рассеяния на дальность работы и чувствительность когерентного рефлектометра." In Российский семинар по волоконным лазерам. ИАиЭ СО РАН, 2018. http://dx.doi.org/10.31868/rfl2018.208-210.
Full textЛукина, Е. А., А. И. Гуляев, and П. Л. Журавлева. "Применение методов высокоразрешающей электронной микроскопии, рентгеновской рефлектометрии и наноиндентирования для исследования покрытий и граничных слоев." In XXVIII Российская конференция по электронной микроскопии и VI школа молодых учёных "Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов". Crossref, 2020. http://dx.doi.org/10.37795/rcem.2020.92.43.016.
Full textТкаченко, А. Ю., Н. Н. Смолянинов, М. И. Скворцов, И. А. Лобач, and С. И. Каблуков. "Опрос ВБР датчиков с помощью когерентного оптического частотного рефлектометра на основе волоконного лазера с самосканированием длины волны." In Международный семинар по волоконным лазерам. ИАиЭ СО РАН, 2020. http://dx.doi.org/10.31868/rfl2020.143-144.
Full text