Journal articles: 'Кантилевер'

1

Плескова, С. Н., О. И. Фомичев, Р. Н. Крюков, and И. С. Судакова. "НАНОВИБРАЦИИ КАНТИЛЕВЕРА АТОМНО-СИЛОВОГО МИКРОСКОПА КАК СИСТЕМА ДЕТЕКЦИИ АНТИБИОТИКОРЕЗИСТЕНТНОСТИ БАКТЕРИЙ В РЕЖИМЕ РЕАЛЬНОГО ВРЕМЕНИ." Биофизика 66, no. 6 (2021): 1116–22. http://dx.doi.org/10.31857/s0006302921060065.

Full text

Abstract:

Атомно-силовая микроскопия была использована для детекции нановибраций кантилевера, возникающих в результате метаболической активности Escherichia coli. Показано, что использование поли-L-лизина эффективно для закрепления бактерий на кантилевере с сохранением их метаболической активности. Варианса амплитуды колебаний кантилевера статистически значимо отличается между контролем (кантилевер, функционализированный поли-L-лизином) и опытом (кантилевер с фиксированными на нем бактериями). Продемонстрировано, что использование атомно-силовой микроскопии дает возможность определять антибиотикорезистентность штамма в течение часа, в отличие от методов, используемых в клинической практике и предоставляющих ответ об антибиотикорезистентности за несколько суток.

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

2

Аптуков, Валерий Нагимович, Valery Nagimovich Aptukov, Виктор Юрьевич Митин, and Victor Yurievich Mitin. "Оценка механических характеристик кристаллов соляных пород на основе математической модели процесса наноиндентирования на зондовом силовом микроскопе Dimension Icon." Вестник Самарского государственного технического университета. Серия «Физико-математические науки» 23, no. 2 (2019): 256–69. http://dx.doi.org/10.14498/vsgtu1658.

Full text

Abstract:

Зондовый силовой микроскоп (ЗСМ) Dimension Icon применяется как для оценки рельефа поверхности исследуемого образца, так и для получения силового отклика образца при взаимодействии кантилевера (индентора специальной формы, расположенного на конце упругой консоли) с поверхностью образца. При этом, в отличие от других приборов, например NanoTest-600, где в результате индентирования исследователь получает величину твердости и эффективного модуля упругости с помощью программного обеспечения, «зашитого» в данный прибор, ЗСМ позволяет получить только кривую отклонения индентора в зависимости от перемещения основания кантилевера. Зная коэффициент жесткости на изгиб упругой консоли, исследователь может самостоятельно определить кривую «усилие-перемещение» индентора на этапе нагрузки и разгрузки. Далее возникает задача интерпретации полученной кривой: каким образом можно оценить механические характеристики материала на ее основе? Ответ на этот вопрос зависит, в частности, от характера механического поведения материала. Для диапазона глубин индентирования, превышающих головную сферическую часть зонда кантилевера, при предположении упруго-идеально-пластической модели материала рассмотрена двумерная осесимметричная задача индентирования образца на этапе нагрузки и разгрузки. Численное моделирование осуществлено в пакете ANSYS в рамках контактной задачи в предположении абсолютно жесткого наконечника кантилевера. Путем обработки результатов вычислительного эксперимента предложена методика оценки предела текучести и модуля упругости поверхностных слоев образца. На основе данных ранее проведенных экспериментов получены конкретные значения механических характеристик для кристаллов соляных пород.

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

3

Маловичко, И. М. "Измерение жесткости АСМ-кантилевера по спектру тепловых шумов." Известия Российской академии наук. Серия физическая 77, no. 8 (2013): 1073–75. http://dx.doi.org/10.7868/s0367676513080243.

Full text

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

4

Казанцев, Д. В., and Е. А. Казанцева. "Четырехсегментный фотодиодный датчик изгиба кантилевера атомно-силового микроскопа." Приборы и техника эксперимента 2014, no. 5 (2014): 120–28. http://dx.doi.org/10.7868/s0032816214040041.

Full text

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

5

Яминский, И. В., А. И. Ахметова, and С. И. Орешкин. "Модернизированный сканирующий зондовый микроскоп "ФемтоСкан XI"." NANOINDUSTRY Russia 12, no. 6 (November 1, 2019): 370–72. http://dx.doi.org/10.22184/1993-8578.2019.12.6.370.372.

Full text

Abstract:

Визуализацию живой клетки можно осуществить с помощью атомно-силовой микроскопии, однако деформация мягкой и чувствительной поверхности образца за счет взаимодействия с кантилевером приводит к некоторым затруднениям. Осуществить бесконтактное сканирование можно с помощью капиллярной микроскопии, которая позволяет визуализировать поверхность клетки с разрешением 3–6 нм и практически без силового воздействия.

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

6

Кононенко, О. В., С. И. Божко, В. Н. Матвеев, В. И. Левашов, М. А. Князев, and В. Т. Волков. "Измерение поля иглы магнитного кантилевера с помощью наноразмерного датчика экстраординарного эффекта Холла." Известия Российской академии наук. Серия физическая 78, no. 9 (2014): 1064–66. http://dx.doi.org/10.7868/s0367676514090130.

Full text

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

7

Kiselev, G., P. Gorelkin, A. Erofeev, D. Kolesov, and I. Yaminsky. "Detection of viruses using piezoelectric cantilevers." Nanoindustry Russia, no. 4 (2015): 62–67. http://dx.doi.org/10.22184/1993-8578.2015.58.4.62.67.

Full text

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

8

Novak, A. V., V. R. Novak, and A. V. Rumyantsev. "Features of the Manufacturing Process of Silicon Tips for Cantilevers." Proceedings of Universities. Electronics 26, no. 3-4 (2021): 234–45. http://dx.doi.org/10.24151/1561-5405-2021-26-3-4-234-245.

Full text

Abstract:

Sample surface examination in atomic force microscopy is carried out using cantilevers having the form of elastic consoles with sharp needle (tip) at the free end. Quality of images obtained from atomic force microscope (AFM) heavily depends on tip sharpness degree. Silicon cantilevers made based on wet anisotropic etching are widely used in atomic force microscopy. This paper studies the dependence of the shape and size of the resulting tip on the concentration of KOH in the solution, as well as the effect of pyrogenic oxidation and oxidation in a dry oxygen atmosphere on the sharpness of the tip during the sharpening process. It was shown that when 70 % concentration is used, tips with the highest aspect ratio and maximum height are obtained. In this case, the shape of the needle is an octagonal pyramid, the lateral faces of which are formed by eight crystallographic planes from {311} and {131}. It was found that in a two-stage sharpening process, consisting of pyrogenic oxidation and oxidation in a dry oxygen atmosphere, it is possible to form sufficiently sharp probes with a tip radius of 2–5 nm and an apex angle of 14–24°. It has been established that a one-stage sharpening process based on pyrogenic oxidation provides only the production of probes with a radius of about 14 nm. Comparative tests of the manufactured probes in obtaining AFM images of a test sample of a polycrystalline silicon film with hemispherical grains (HSG-Si) were presented. Research study has revealed that such a statistical parameter as the relative increment of the surface area Sdr is the most sensitive to probe sharpness for surfaces of the HSG-Si film type.

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

9

Анкудинов, А. В., М. М. Халисов, В. А. Пеннияйнен, С. А. Подзорова, К. И. Тимощук, and Б. В. Крылов. "Эффект длины зонда на кантилевере атомно-силового микроскопа в измерениях механических свойств нативных нейронов." Письма в журнал технической физики 44, no. 15 (2018): 38. http://dx.doi.org/10.21883/pjtf.2018.15.46438.17351.

Full text

Abstract:

AbstractLiving sensory neurons were studied by atomic force microscopy in the PeakForce QNM mode under near-physiological conditions. The dependence of the measured apparent Young modulus of cells on the ratio of the probe height to the beam length on a used cantilever was revealed. A qualitative explanation based on the analysis of beam strains in two limit cases, in which the probe slides over a studied object and the probe sticks to the latter, was given to the obtained result. It was proposed to classify native cells by the character of their interaction with the probe (sliding or sticking).

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

10

Симонов, Валерий Николаевич, Valerii Nikolaevich Simonov, Н. Л. Матисон, N. L. Matison, Ольга Владимировна Бойцова, Ol'ga Vladimirovna Boytsova, Екатерина Борисовна Маркова, and Ekaterina Borisovna Markova. "Моделирование колебаний нанопористых микрокантилеверов из анодного оксида алюминия для биохимических сенсоров." Математическое моделирование 32, no. 8 (June 30, 2020): 31–42. http://dx.doi.org/10.20948/mm-2020-08-03.

Full text

Abstract:

Описаны результаты исследования колебаний микрокантилеверов (МК), выполненных из нанопористого анодного оксида алюминия и составляющих основу биохимических сенсоров. Конечно-элементное моделирование колебаний МК выявило источники появления в частотном спектре резонансов, не соответствующих колебаниям кантилевера и осложняющих разработку сенсоров. Впервые показано, что такими источниками являются резонансы колебаний основания МК на упругом слое компаунда, используемого для присоединения основания к подложке. Получены приблизительные соотношения между параметрами МК, основания и компаундного слоя, обеспечивающие присутствие в спектре только рабочих мод колебаний МК. Для обеспечения чистого спектра необходимо соблюдение одного из двух условий или их сочетания: достаточно жесткого крепления МК к подложке и достаточно малых размеров основания. Обеспечение чистого спектра достигается безотносительно к жесткости крепления МК, если длина основания не превышает: для 3-й, 4-й и 5-й гармоник рабочей моды МК соответственно 0.6, 0.43 и 0.33 длины МК.

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

11

Novak, A. V., and V. R. Novak. "Investigation of Electrochemical Stop-Etching Process of Silicon at Cantilevers Fabrication." Proceedings of Universities. ELECTRONICS 25, no. 1 (February 2020): 31–39. http://dx.doi.org/10.24151/1561-5405-2020-25-1-31-39.

Full text

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

12

Акопян, Н. Х. "ИЗМЕРЕНИЕ ПРОФИЛЯ МИКРОРЕЛЬЕФА НАНОПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛА ПОСРЕДСТВОМ ИЗМЕНЕНИЯ МОЩНОСТИ РАССЕИВАЕМОЙ ИМ ВНУТРЕННЕЙ ЭНЕРГИИ." MECHANICS, MACHINE SCIENCE, MACHINE-BUILDING, 2021, 52. http://dx.doi.org/10.53297/18293387-2021.1-52.

Full text

Abstract:

Развитие промышленных стран невозможно без создания современной высокотехнологичной отрасли промышленности. Это означает, что нанотехнологии определяют направление движения исследований – ключевые структуры технологических процессов нанообъектов. Данный факт обусловливает актуальность исследования поверхностных явлений и свойств получаемых материалов. Разнообразие создаваемых новых материалов ставит практические задачи по созданию универсальных методов исследования поверхностных взаимодействий, чтобы получить достоверные и надѐжные результаты при минимальных затратах времени и усилий. В процессе определения сил взаимодействия между остриѐм иглы кантилевера и материалом возникают силы отталкивания и притяжения, которые влияют на кривую сила – расстояние, что, в свою очередь, меняет параметры колебаний амплитуды и фазы. Для получения правильного изображения рельефа поверхности в полуконтактном режиме в систему микроскопа введены четырѐхсекционный фотодиод и сканер, снабжѐнный обратной связью и двойным сервоприводом, управляемый пропорционально-интегрально-дифференциальным регулятором (ПИД - регулятором). При подаче напряжения на кантилевер между его остриѐм иглы и поверхностью материала появляется заряд, который следует за его движением. Явление повторяется без подачи напряжения, когда расстояние между концом иглы кантилевера и поверхностью материала близко к 1 нм. Энергия рассеивается по поверхности материала, меняя силы взаимодействия в точке контакта, которая зависит от расстояния и несовпадения структуры поверхности. Эта энергия аналогична явлениям упругого гистерезиса, имеющим нелинейную функцию. Наблюдается явление гистерезиса, где амплитуда, частота и фаза колебаний содержат информацию о рассеивании энергии, и поэтому систему необходимо рассматривать согласно закону о сохранении энергии. Представлена расчѐтная схема динамической модели, приведены формулы для расчѐта средней мощности рассеиваемой энергии при движении кантилевера, определена формула расчѐта для величины мощности между концом иглы кантилевера и поверхностью

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

13

"Локальный спектральный анализ полупроводниковых нанокристаллов." Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019», May 24, 2019, 39. http://dx.doi.org/10.34077/rcsp2019-39.

Full text

Abstract:

Предложен новый метод локального спектрального анализа полупроводниковых наноструктур, основанный на обнаруженном гигантском комбинационное рассеяние света (КРС) полупроводниковыми наноструктурами, расположенными на поверхности массива нанокластеров Au, вблизи металлизированного кантилевера атомно-силового микроскопа (АСМ). В зазоре между металлическими нанокластерами и острием кантилевера АСМ микроскопа, где расположена полупроводниковая наноструктура, возникает сильное увеличение локального поля («горячая точка») и, как следствие, резкое усиление сигнала КРС. В эксперименте наблюдается гигантское усиление сигнала КРС локализованными продольными и поверхностными оптическими фононами (LO и SO) в нанокристаллах (НК) CdSe (коэффициент усиления 106). Картирование сигнала КРС на частоте оптических фононов CdSe позволило изучить эффекты локальных электромагнитных полей на фононный спектр нанокристаллов CdSe с пространственным разрешением 2 нм [1], определить фононный спектр отдельных нанокристаллов CdSe размером 6 нм [2], что находится далеко за дифракционным пределом (Рис.1б). Показано, что максимальное усиление сигнала наблюдается от торцов нанокластеров Au, имеющих цилиндрическую форму, где локальное электромагнитное поле максимально.

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

14

"Пьезоэлектрическое возбуждение колебаний наномеханических резонаторов с двумерным электронным газом / Шевырин А.А., Погосов А.Г., Бакаров А.К.,Шкляев А.А., Куросу М., Ямагучи Х." Тезисы докладов XIV РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ ПО ФИЗИКЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВ «ПОЛУПРОВОДНИКИ-2019», August 20, 2019, 471. http://dx.doi.org/10.34077/semicond2019-471.

Full text

Abstract:

Экспериментально показано, что резонансные колебания наномеханических резонаторов на основе гетероструктур AlGaAs/GaAs с двумерным электронным газом допускают пьезоэлектрическое on-chip возбуждение путем подачи переменного напряжения между двумерным электронным газом и металлическим затвором, покрывающим поверхность. Продемонстрировано возбуждение как изгибных, так и крутильных колебаний резонаторов толщиной 166 нм, имеющих форму кантилеверов и мостиков, при комнатной температуре. Выявлены две особенности, которые следует принимать во внимание при уменьшении размеров пьезоэлектрически возбуждаемых резонаторов. Во-первых, паразитное ослабление возбуждающего электрического сигнала становится основным фактором, ограничивающим эффективность возбуждения на резонансных частотах, возрастающих до мегагерцового диапазона при уменьшении размера. Во-вторых, тонкие и относительно длинные мостики на основе гетероструктур AlGaAs/GaAs подвержены эйлеровской неустойчивости из-за продольного сжатия. Продемонстрировано, что такая неустойчивость не препятствует возбуждению при сжатиях, близких к критическому. Однако, большое по величине сверхкритическое сжатие может приводить к полному подавлению пьезоэлектрически индуцируемых колебаний. Предложен метод, позволяющий избежать такого подавления.

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

15

Бебихов, Ю. В. "НЕСТАНДАРТНЫЕ ДИСКРЕТНЫЕ МОДЕЛИ КЛЕЙНА-ГОРДОНА." Фундаментальные проблемы современного материаловедения, no. 4 (January 23, 2020). http://dx.doi.org/10.25712/astu.1811-1416.2019.04.013.

Full text

Abstract:

Локализованные нелинейные возбуждения, такие как топологические солитоны и бризеры, играют важную роль во многих областях физики, и очень часто они рассматриваются в дискретных средах. Например, в физике твердого тела они используются для описания доменных стенок, дислокаций и краудионов в кристаллах. Они также рассматриваются в макроскопических моделях связанных маятников и массивах микромеханических кантилеверов. Во многих приложениях подвижность уединенных волн является важной проблемой. Известно, что для дискретных уравнений кинковые решения имеют две равновесные конфигурации, одна с максимальной потенциальной энергией (неустойчивая), а другая, с минимальной энергией (устойчивая). Разница между энергиями кинков в этих двух конфигурациях определяет высоту барьера Пайерлса-Набарро. Максимальный градиент этого потенциала определяет минимальную силу, необходимую для ускорения кинка. Чтобы уменьшить силу, необходимую для ускорения кинка, необходимо уменьшить максимальный градиент статического потенциала Пайерлса-Набарро, в идеале сделав его равным нулю. В ряде работ была показана возможность построения дискретных версий уравнения Клейна-Гордона со статическим потенциалом Пайерлса-Набарро в точности равным нулю. В таких системах сколь угодно малая внешняя сила будет ускорять кинки. В данном обзоре будет рассмотрено два из известных методов, которые дают дискретные модели Клейна-Гордона без статического потенциала Пайерлса-Набарро. Также будут упомянуты законы сохранения, выполняемые для данных дискретных уравений. В частности, будут представлены модель Спейта и Уорда, сохраняющая энергию и модель Кеврекидиса, сохраняющая импульс.

APA, Harvard, Vancouver, ISO, and other styles

Journal articles on the topic 'Кантилевер'

Create a spot-on reference in APA, MLA, Chicago, Harvard, and other styles