Zeitschriftenartikel zum Thema „Thin film stacking“
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JIANG, B., J. L. PENG, L. A. BURSILL und H. WANG. „MICROSTRUCTURE AND PROPERTIES OF FERROELECTRIC Bi4Ti3O12 THIN FILMS“. Modern Physics Letters B 13, Nr. 26 (10.11.1999): 933–45. http://dx.doi.org/10.1142/s0217984999001147.
Der volle Inhalt der QuelleLee, Jin Woo, Yun Hae Kim und Chang Wook Park. „Electrical and Optical Properties of ZnO:Ag Thin-Films Depend on Lamination Formation by DC Magnetron Sputtering“. Advanced Materials Research 1110 (Juni 2015): 211–17. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.1110.211.
Der volle Inhalt der QuelleArnold, Marcel, Z. L. Wang, W. Tong, B. K. Wagner, S. Schön und C. J. Summers. „Creation of Stacking Faults at Substrate Steps in Zns Thin Films Epitaxially Grown on GaAs (001)“. Microscopy and Microanalysis 3, S2 (August 1997): 633–34. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600010059.
Der volle Inhalt der QuelleMcIntyre, P. C., und M. J. Cima. „Microstructural inhomogeneities in chemically derived Ba2YCu3O7−x thin films: Implications for flux pinning“. Journal of Materials Research 9, Nr. 11 (November 1994): 2778–88. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1994.2778.
Der volle Inhalt der QuelleLiu, Y., B. W. Robertson und D. J. Sellmyer. „HREM study of epitaxy in Co-Sm // Cr thin films“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13.08.1995): 488–89. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100138816.
Der volle Inhalt der QuelleNguyen, Thang, Walter Varhue, Edward Adams, Mark Lavoie und Stephen Mongeon. „Growth of heteroepitaxial GaSb thin films on Si(100) substrates“. Journal of Materials Research 19, Nr. 8 (August 2004): 2315–21. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2004.0307.
Der volle Inhalt der QuelleWang, Xintai, Sara Sangtarash, Angelo Lamantia, Hervé Dekkiche, Leonardo Forcieri, Oleg V. Kolosov, Samuel P. Jarvis et al. „Thermoelectric properties of organic thin films enhanced by π–π stacking“. Journal of Physics: Energy 4, Nr. 2 (23.03.2022): 024002. http://dx.doi.org/10.1088/2515-7655/ac55a3.
Der volle Inhalt der QuelleTajari Mofrad, Mohammad Reza, Jaber Derakhshandeh, Ryoichi Ishihara, Alessandro Baiano, Johan van der Cingel und Kees Beenakker. „Stacking of Single-Grain Thin-Film Transistors“. Japanese Journal of Applied Physics 48, Nr. 3 (23.03.2009): 03B015. http://dx.doi.org/10.1143/jjap.48.03b015.
Der volle Inhalt der QuelleWada, Takahiro, Takayuki Negami und Mikihiko Nishitani. „Growth defects in CuInSe2 thin films“. Journal of Materials Research 9, Nr. 3 (März 1994): 658–62. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1994.0658.
Der volle Inhalt der QuelleHua, Zhong, Xiangcheng Meng, Yaming Sun, Wanqiu Yu und Dong Long. „Properties of Cu2ZnSnS4 thin films prepared by magnetron sputtering and sulfurizing the precursors with different stacking sequences“. Modern Physics Letters B 28, Nr. 26 (10.10.2014): 1450210. http://dx.doi.org/10.1142/s0217984914502108.
Der volle Inhalt der QuelleSeo, Soon-Min, Changhoon Baek und Hong H. Lee. „Stacking of Organic Thin Film Transistors: Vertical Integration“. Advanced Materials 20, Nr. 10 (19.05.2008): 1994–97. http://dx.doi.org/10.1002/adma.200701770.
Der volle Inhalt der QuelleWANG, Y. R., J. A. KUBBY und W. J. GREENE. „THIN FILM ELECTRON INTERFEROMETRY“. Modern Physics Letters B 05, Nr. 21 (10.09.1991): 1387–405. http://dx.doi.org/10.1142/s0217984991001696.
Der volle Inhalt der QuelleKong, G., M. O. Jones, J. S. Abell, P. P. Edwards, S. T. Lees, K. E. Gibbons, I. Gameson und M. Aindow. „Microstructure of laser-ablated superconducting La2CuO4Fx thin films on SrTiO3“. Journal of Materials Research 16, Nr. 11 (November 2001): 3309–16. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2001.0455.
Der volle Inhalt der QuelleZeng, Shuang, Jing Yang, Qingqing Liu, Jiawei Bai, Wei Bai, Yuanyuan Zhang und Xiaodong Tang. „Dielectric Spectroscopy of Non-Stoichiometric SrMnO3 Thin Films“. Inorganics 12, Nr. 3 (27.02.2024): 71. http://dx.doi.org/10.3390/inorganics12030071.
Der volle Inhalt der QuelleYan, Y., K. M. Jones und M. M. Al-Jassim. „Transmission Electron Microscopy Study of Planar Defects in Polycrystalline CdTe Thin Films“. Microscopy and Microanalysis 7, S2 (August 2001): 556–57. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600028853.
Der volle Inhalt der QuelleThanikaikarasan, S., T. Mahalingam, S. R. Srikumar, Tae Kyu Kim, Yong Deak Kim, Subramaniam Velumani und Rene Asomoza. „Microstructural Characterization of Electro-Deposited CdSe Thin Films“. Advanced Materials Research 68 (April 2009): 44–51. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.68.44.
Der volle Inhalt der QuelleHee, Kwon Ahn, Young Ho Kim, Keun Gil Sang, Soo Paik Dong und Dong Heon Kang. „Characteristics of Lead Free Ferroelectric Thin Films Consisted of (Na0.5Bi0.5)TiO3 and Bi4Ti3O12“. Advanced Materials Research 684 (April 2013): 307–11. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.684.307.
Der volle Inhalt der QuelleChakraborty, Jay, Tias Maity, Kishor Kumar und S. Mukherjee. „Microstructure, Stress and Texture in Sputter Deposited TiN Thin Films: Effect of Substrate Bias“. Advanced Materials Research 996 (August 2014): 855–59. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.996.855.
Der volle Inhalt der QuelleHuang, T. C., A. Segmuller, W. Lee, V. Lee, D. Bullock und R. Karimi. „X-ray Diffraction Analysis of High Tc Superconducting Thin Films“. Advances in X-ray Analysis 32 (1988): 269–78. http://dx.doi.org/10.1154/s0376030800020577.
Der volle Inhalt der QuelleWen, J. G., C. Traeholt und H. W. Zandbergen. „Stacking sequence of YBa2Cu3O7 thin film on SrTiO3 substrate“. Physica C: Superconductivity 205, Nr. 3-4 (Februar 1993): 354–62. http://dx.doi.org/10.1016/0921-4534(93)90402-c.
Der volle Inhalt der QuelleLei, Chao, Shu Chen und Allan H. MacDonald. „Magnetized topological insulator multilayers“. Proceedings of the National Academy of Sciences 117, Nr. 44 (19.10.2020): 27224–30. http://dx.doi.org/10.1073/pnas.2014004117.
Der volle Inhalt der QuelleZhou, Jing, Jie Zhu, Wen Chen, Jie Shen, Qiong Lei und Hui Min He. „Effect of Stacking Layers on the Structure and Properties of Ca(Mg1/3Nb2/3)O3 / CaTiO3 Thin Films“. Key Engineering Materials 421-422 (Dezember 2009): 115–18. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.421-422.115.
Der volle Inhalt der QuelleRobertson, B. W., und Y. Liu. „Stacking sequences of the crystallites in Co-Sm films“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 54 (11.08.1996): 714–15. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100166038.
Der volle Inhalt der QuelleYoneya, Makoto, Satoshi Matsuoka, Jun’ya Tsutsumi und Tatsuo Hasegawa. „Self-assembly of donor–acceptor semiconducting polymers in solution thin films: a molecular dynamics simulation study“. Journal of Materials Chemistry C 5, Nr. 37 (2017): 9602–10. http://dx.doi.org/10.1039/c7tc01014a.
Der volle Inhalt der QuelleNordin, Norfaizul Izwan, Rosminazuin Ab Rahim und Aliza Aini Md Ralib. „Flexible PVDF thin film as piezoelectric energy harvester“. Bulletin of Electrical Engineering and Informatics 8, Nr. 2 (01.06.2019): 443–49. http://dx.doi.org/10.11591/eei.v8i2.1423.
Der volle Inhalt der QuelleHsu, Chih-Chieh, Po-Tsun Liu, Kai-Jhih Gan, Dun-Bao Ruan und Simon M. Sze. „Oxygen Concentration Effect on Conductive Bridge Random Access Memory of InWZnO Thin Film“. Nanomaterials 11, Nr. 9 (27.08.2021): 2204. http://dx.doi.org/10.3390/nano11092204.
Der volle Inhalt der QuelleJo, Yongjin, Jonghan Lee, Chaewon Kim, Junhyeok Jang, Inchan Hwang, John Hong und Mi Jung Lee. „Engineered molecular stacking crystallinity of bar-coated TIPS-pentacene/polystyrene films for organic thin-film transistors“. RSC Advances 13, Nr. 4 (2023): 2700–2706. http://dx.doi.org/10.1039/d2ra05924j.
Der volle Inhalt der QuelleMarshall, A. F., K. Char, R. W. Barton, A. Kapitulnik und S. S. Laderman. „Microstructural interaction of Y2Ba4Cu8O16 stacking faults within YBa2Cu3O7−x“. Journal of Materials Research 5, Nr. 10 (Oktober 1990): 2049–55. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1990.2049.
Der volle Inhalt der QuelleYuk, J. M., J. Y. Lee, T. W. Kim, D. I. Son und W. K. Choi. „Effects of thermal annealing on the microstructural properties of the lower region in ZnO thin films grown on n-Si (001) substrates“. Journal of Materials Research 23, Nr. 4 (April 2008): 1082–86. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2008.0141.
Der volle Inhalt der QuelleHarada, T., T. Nagai, M. Oishi und Y. Masahiro. „Sputter-grown c-axis-oriented PdCoO2 thin films“. Journal of Applied Physics 133, Nr. 8 (28.02.2023): 085302. http://dx.doi.org/10.1063/5.0136749.
Der volle Inhalt der QuelleHatton, Peter, Ali Abbas, Piotr Kaminski, Sibel Yilmaz, Michael Watts, Michael Walls, Pooja Goddard und Roger Smith. „Inert gas bubble formation in magnetron sputtered thin-film CdTe solar cells“. Proceedings of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences 476, Nr. 2239 (Juli 2020): 20200056. http://dx.doi.org/10.1098/rspa.2020.0056.
Der volle Inhalt der QuelleWalls, J. M., A. Abbas, G. D. West, J. W. Bowers, P. J. M. Isherwood, P. M. Kaminski, B. Maniscalco, W. S. Sampath und K. L. Barth. „The Effect of Annealing Treatments on Close Spaced Sublimated Cadmium Telluride Thin Film Solar Cells“. MRS Proceedings 1493 (2013): 147–52. http://dx.doi.org/10.1557/opl.2012.1704.
Der volle Inhalt der QuelleLee, Junho, Jaeyong Kim und Myeongkyu Lee. „High-purity reflective color filters based on thin film cavities embedded with an ultrathin Ge2Sb2Te5 absorption layer“. Nanoscale Advances 2, Nr. 10 (2020): 4930–37. http://dx.doi.org/10.1039/d0na00626b.
Der volle Inhalt der QuelleHuo, Xiaoye, Zhenhai Wang, Mengqi Fu, Jiye Xia und Shengyong Xu. „A sub-200 nanometer wide 3D stacking thin-film temperature sensor“. RSC Advances 6, Nr. 46 (2016): 40185–91. http://dx.doi.org/10.1039/c6ra06353e.
Der volle Inhalt der QuelleDel Caño, T., J. Duff und R. Aroca. „Molecular Spectra and Molecular Organization in Thin Solid Films of Bis(Neopentylimido) Perylene“. Applied Spectroscopy 56, Nr. 6 (Juni 2002): 744–50. http://dx.doi.org/10.1366/000370202760077478.
Der volle Inhalt der QuelleRaineri, Vito, Corrado Bongiorno, Salvatore di Franco, Raffaella Lo Nigro, Emanuele Rimini und Filippo Giannazzo. „Surface Corrugation and Stacking Misorientation in Multilayers of Graphene on Nickel“. Solid State Phenomena 178-179 (August 2011): 125–29. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.178-179.125.
Der volle Inhalt der QuelleChen, Jihua, David C. Martin und John E. Anthony. „Morphology and molecular orientation of thin-film bis(triisopropylsilylethynyl) pentacene“. Journal of Materials Research 22, Nr. 6 (Juni 2007): 1701–9. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2007.0220.
Der volle Inhalt der QuelleRoy, I., und S. Hazra. „Solvent dependent ordering of poly(3-dodecylthiophene) in thin films“. Soft Matter 11, Nr. 18 (2015): 3724–32. http://dx.doi.org/10.1039/c5sm00595g.
Der volle Inhalt der QuelleChen, H. J. H., B. B. L. Yeh, H. C. Pan und J. S. Chen. „ZnO transparent thin-film transistors with HfO2/Ta2O5 stacking gate dielectrics“. Electronics Letters 44, Nr. 3 (2008): 186. http://dx.doi.org/10.1049/el:20083215.
Der volle Inhalt der QuelleYoo, Su-Hyun, Keith T. Butler, Aloysius Soon, Ali Abbas, John M. Walls und Aron Walsh. „Identification of critical stacking faults in thin-film CdTe solar cells“. Applied Physics Letters 105, Nr. 6 (11.08.2014): 062104. http://dx.doi.org/10.1063/1.4892844.
Der volle Inhalt der QuelleDing, Q., W. Tian, M. K. Lee, E. B. Eom und X. Q. Pan. „Interfacial Structure of Metastable 4H-BaRuO3 Thin Film on (111) SrTiO3 Substrate“. Microscopy and Microanalysis 6, S2 (August 2000): 1066–67. http://dx.doi.org/10.1017/s143192760003782x.
Der volle Inhalt der QuelleMamidi, Narsimha, Ramiro Velasco Delgadillo, Aldo Gonzáles Ortiz und Enrique Barrera. „Carbon Nano-Onions Reinforced Multilayered Thin Film System for Stimuli-Responsive Drug Release“. Pharmaceutics 12, Nr. 12 (13.12.2020): 1208. http://dx.doi.org/10.3390/pharmaceutics12121208.
Der volle Inhalt der QuelleGwaydi, January S., Hezekiah B. Sawa, Egidius R. Rwenyagila, Nathanael R. Komba, Talam E. Kibona, Nuru R. Mlyuka, Margaret E. Samiji und Lwitiko P. Mwakyusa. „Influence of Stacking Order on the Structural and Optical Properties of Cu2ZnSnS4 Absorber Layer Prepared from DC-Sputtered Oxygenated Precursors“. Tanzania Journal of Science 50, Nr. 1 (30.04.2024): 115–25. http://dx.doi.org/10.4314/tjs.v50i1.9.
Der volle Inhalt der QuelleQin, Houyun, Chang Liu, Chong Peng, Mingxin Lu, Yiming Liu, Song Wei, Hongbo Wang, Nailin Yue, Wei Zhang und Yi Zhao. „Rapid-deposited high-performance submicron encapsulation film with in situ plasma oxidized Al layer inserted“. Applied Physics Express 15, Nr. 4 (22.03.2022): 046503. http://dx.doi.org/10.35848/1882-0786/ac44cc.
Der volle Inhalt der QuelleTaoka, Yuki, Terumichi Hayashi, Pasomphone Hemthavy, Kunio Takahashi und Shigeki Saito. „Development of a bipolar electrostatic chuck with a compliant beam-array assembly having four 3D-printed layers for large film handling“. Engineering Research Express 4, Nr. 1 (21.01.2022): 015010. http://dx.doi.org/10.1088/2631-8695/ac4a49.
Der volle Inhalt der QuelleCho, Hae Seok, Min Hong Kim und Hyeong Joon Kim. „Preferred orientation and microstructure of Ni-Zn-Cu ferrite thin films deposited by rf magnetron sputtering“. Journal of Materials Research 9, Nr. 9 (September 1994): 2425–33. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1994.2425.
Der volle Inhalt der QuelleWilliams, B. E., und J. T. Glass. „Characterization of diamond thin films: Diamond phase identification, surface morphology, and defect structures“. Journal of Materials Research 4, Nr. 2 (April 1989): 373–84. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1989.0373.
Der volle Inhalt der QuelleNam, Sung Pill, Sung Gap Lee, Seong Gi Bae und Young Hie Lee. „Electrical Properties BaTiO3 Thick Films with an Interlayer SrTiO3 Thin Films“. Solid State Phenomena 124-126 (Juni 2007): 659–62. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.124-126.659.
Der volle Inhalt der QuelleJana, Santanu, Rodrigo Martins und Elvira Fortunato. „Stacking-Dependent Electrical Transport in a Colloidal CdSe Nanoplatelet Thin-Film Transistor“. Nano Letters 22, Nr. 7 (28.03.2022): 2780–85. http://dx.doi.org/10.1021/acs.nanolett.1c04822.
Der volle Inhalt der QuelleXiao, Yiqun, Jun Yuan, Guodong Zhou, Ka Chak Ngan, Xinxin Xia, Jingshuai Zhu, Yingping Zou, Ni Zhao, Xiaowei Zhan und Xinhui Lu. „Unveiling the crystalline packing of Y6 in thin films by thermally induced “backbone-on” orientation“. Journal of Materials Chemistry A 9, Nr. 31 (2021): 17030–38. http://dx.doi.org/10.1039/d1ta05268c.
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