Zeitschriftenartikel zum Thema „Test input“
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Keramati, Hossein, und Seyed-Hassan Mirian-Hosseinabadi. „Generating semantically valid test inputs using constrained input grammars“. Information and Software Technology 57 (Januar 2015): 204–16. http://dx.doi.org/10.1016/j.infsof.2014.09.007.
Der volle Inhalt der QuelleAndresen, BernhardH, und StanleyC Keeney. „4612499 Test input demultiplexing circuit“. Microelectronics Reliability 27, Nr. 2 (Januar 1987): 396. http://dx.doi.org/10.1016/0026-2714(87)90316-7.
Der volle Inhalt der QuelleVisser, Willem, Corina S. Pǎsǎreanu und Sarfraz Khurshid. „Test input generation with java PathFinder“. ACM SIGSOFT Software Engineering Notes 29, Nr. 4 (Juli 2004): 97–107. http://dx.doi.org/10.1145/1013886.1007526.
Der volle Inhalt der QuellePhan, Quoc-Sang. „Test input generation using separati logic“. ACM SIGSOFT Software Engineering Notes 43, Nr. 4 (02.01.2019): 55. http://dx.doi.org/10.1145/3282517.3302418.
Der volle Inhalt der QuellePomeranz, Irith. „Low-power test sets under test-related primary input constraints“. International Journal of Critical Computer-Based Systems 4, Nr. 3 (2013): 265. http://dx.doi.org/10.1504/ijccbs.2013.058396.
Der volle Inhalt der QuellePomeranz, I., und S. M. Reddy. „Random Test Generation With Input Cube Avoidance“. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 17, Nr. 1 (Januar 2009): 45–54. http://dx.doi.org/10.1109/tvlsi.2008.2001943.
Der volle Inhalt der QuelleWang, Zhiyu, Sihan Xu, Xiangrui Cai und Hua Ji. „Test Input Selection for Deep Neural Networks“. Journal of Physics: Conference Series 1693 (Dezember 2020): 012017. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/1693/1/012017.
Der volle Inhalt der QuelleMA, Xiaoxing, Jue WANG, Chang XU, Yanyan JIANG und Jian LU. „Automatic test-input generation for Android applications“. SCIENTIA SINICA Informationis 49, Nr. 10 (01.10.2019): 1234–66. http://dx.doi.org/10.1360/n112019-00003.
Der volle Inhalt der QuelleCseppentő, Lajos, und Zoltán Micskei. „Evaluating code-based test input generator tools“. Software Testing, Verification and Reliability 27, Nr. 6 (06.02.2017): e1627. http://dx.doi.org/10.1002/stvr.1627.
Der volle Inhalt der QuelleCelik, Ahmet, Sreepathi Pai, Sarfraz Khurshid und Milos Gligoric. „Bounded exhaustive test-input generation on GPUs“. Proceedings of the ACM on Programming Languages 1, OOPSLA (12.10.2017): 1–25. http://dx.doi.org/10.1145/3133918.
Der volle Inhalt der QuelleFleurey, Franck, Benoit Baudry, Pierre-Alain Muller und Yves Le Traon. „Qualifying input test data for model transformations“. Software & Systems Modeling 8, Nr. 2 (28.11.2007): 185–203. http://dx.doi.org/10.1007/s10270-007-0074-8.
Der volle Inhalt der QuelleRoy, Asim. „The hardest test for a theory of cognition: The input test“. Behavioral and Brain Sciences 26, Nr. 5 (Oktober 2003): 618–19. http://dx.doi.org/10.1017/s0140525x03350137.
Der volle Inhalt der QuelleWhite, Justin P., und Alessia Martini. „Frequency of Input“. Instructed Second Language Acquisition 3, Nr. 1 (15.04.2019): 3–27. http://dx.doi.org/10.1558/isla.36273.
Der volle Inhalt der QuelleYASUDA, Chiaki, Hiroyuki FUYAMA, Shinichiro KAJII und Makoto SAKUNO. „224 Computation of Input Energy to Test Structure on Shaking Table Test“. Proceedings of the Dynamics & Design Conference 2003 (2003): _224–1_—_224–5_. http://dx.doi.org/10.1299/jsmedmc.2003._224-1_.
Der volle Inhalt der QuelleBiao, Wu, und Qi-Wei Ge. „Test Input Data Generation for Choiceless Program Nets“. ECTI Transactions on Computer and Information Technology (ECTI-CIT) 14, Nr. 1 (28.03.2020): 37–45. http://dx.doi.org/10.37936/ecti-cit.2020141.197859.
Der volle Inhalt der QuelleHeyes, C. M. „Imagination and imitation: Input, acid test, or alchemy?“ Behavioral and Brain Sciences 19, Nr. 1 (März 1996): 131–32. http://dx.doi.org/10.1017/s0140525x0004190x.
Der volle Inhalt der QuelleSchroeder, Patrick J., und Bogdan Korel. „Black-box test reduction using input-output analysis“. ACM SIGSOFT Software Engineering Notes 25, Nr. 5 (September 2000): 173–77. http://dx.doi.org/10.1145/347636.349042.
Der volle Inhalt der QuellePomeranz, I., und S. M. Reddy. „Test data compression based on input-output dependence“. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 22, Nr. 10 (Oktober 2003): 1450–55. http://dx.doi.org/10.1109/tcad.2003.818122.
Der volle Inhalt der QuelleKao, Tzu‐Cheng, Chung‐Yu Hung, Jian‐Hsing Lee, Chen‐Hsin Lien, Chien‐Wei Chiu, Kuo‐Hsuan Lo, Hung‐Der Su und Wu‐Te Weng. „Failure mechanism for input buffer under CDM test“. Electronics Letters 50, Nr. 9 (April 2014): 667–69. http://dx.doi.org/10.1049/el.2013.4094.
Der volle Inhalt der QuelleRinger, Talia, Dan Grossman, Daniel Schwartz-Narbonne und Serdar Tasiran. „A solver-aided language for test input generation“. Proceedings of the ACM on Programming Languages 1, OOPSLA (12.10.2017): 1–24. http://dx.doi.org/10.1145/3133915.
Der volle Inhalt der QuelleRosner, Nicolás, Valeria Bengolea, Pablo Ponzio, Shadi Abdul Khalek, Nazareno Aguirre, Marcelo F. Frias und Sarfraz Khurshid. „Bounded exhaustive test input generation from hybrid invariants“. ACM SIGPLAN Notices 49, Nr. 10 (31.12.2014): 655–74. http://dx.doi.org/10.1145/2714064.2660232.
Der volle Inhalt der QuelleFatimah, Khusnul Umi, Tarno Tarno und Abdul Hoyyi. „PEMILIHAN INPUT MODEL ADAPTIVE FUZZY INFERENCE SYSTEM (ANFIS) BERBASIS LAGRANGE MULTIPLIER TEST DILENGKAPI GUI MATLAB (Aplikasi pada Data Harga Beras Kualitas Rendah di Indonesia Periode Januari 2013 – Februari 2019)“. Jurnal Gaussian 8, Nr. 4 (29.11.2019): 451–61. http://dx.doi.org/10.14710/j.gauss.v8i4.26725.
Der volle Inhalt der QuelleSheng, Xiaoqin, Hans Kerkhoff, Amir Zjajo und Guido Gronthoud. „ADC Multi-Site Test Based on a Pre-test with Digital Input Stimulus“. Journal of Electronic Testing 28, Nr. 4 (August 2012): 393–404. http://dx.doi.org/10.1007/s10836-012-5309-0.
Der volle Inhalt der QuelleYubai, Kazuhiro, Shinya Terada und Junji Hirai. „Stability Test for Multivariable NCbT Using Input/Output Data“. IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems 131, Nr. 4 (2011): 773–80. http://dx.doi.org/10.1541/ieejeiss.131.773.
Der volle Inhalt der QuelleOKITA, Tsuyoshi, Yasuhide KOBAYASHI und Shogo TANAKA. „Adaptive Control for Linear Systems by Using Test Input“. Transactions of the Society of Instrument and Control Engineers 27, Nr. 12 (1991): 1358–65. http://dx.doi.org/10.9746/sicetr1965.27.1358.
Der volle Inhalt der QuellePomeranz, Irith. „Sequential Test Generation Based on Preferred Primary Input Cubes“. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 36, Nr. 2 (Februar 2017): 351–55. http://dx.doi.org/10.1109/tcad.2016.2568210.
Der volle Inhalt der QuellePomeranz, Irith. „Reducing the input test data volume under transparent scan“. IET Computers & Digital Techniques 8, Nr. 1 (Januar 2014): 1–10. http://dx.doi.org/10.1049/iet-cdt.2013.0067.
Der volle Inhalt der QuelleWANG, X. A., Y. F. XU und W. C. LOU. „Solar Collector Parameter Identification by Step Input Test Procedure“. International Journal of Solar Energy 4, Nr. 6 (Januar 1986): 327–34. http://dx.doi.org/10.1080/01425918608909868.
Der volle Inhalt der QuelleSun, Hanqiu. „A behavioural test-bed using a dataglove input device“. Virtual Reality 1, Nr. 2 (Dezember 1995): 109–16. http://dx.doi.org/10.1007/bf02009727.
Der volle Inhalt der QuelleDel Grosso, C., G. Antoniol, E. Merlo und P. Galinier. „Detecting buffer overflow via automatic test input data generation“. Computers & Operations Research 35, Nr. 10 (Oktober 2008): 3125–43. http://dx.doi.org/10.1016/j.cor.2007.01.013.
Der volle Inhalt der QuelleKuhn, D. Richard, Raghu N. Kacker und Yu Lei. „Measuring and specifying combinatorial coverage of test input configurations“. Innovations in Systems and Software Engineering 12, Nr. 4 (14.11.2015): 249–61. http://dx.doi.org/10.1007/s11334-015-0266-2.
Der volle Inhalt der QuellePage, RobertE. „4658209 Universal test board, serial input (for synthesizer testing)“. Microelectronics Reliability 27, Nr. 6 (Januar 1987): 1041. http://dx.doi.org/10.1016/0026-2714(87)90888-2.
Der volle Inhalt der QuelleDodier, Robert H., und Gregor P. Henze. „Statistical Analysis of Neural Networks as Applied to Building Energy Prediction“. Journal of Solar Energy Engineering 126, Nr. 1 (01.02.2004): 592–600. http://dx.doi.org/10.1115/1.1637640.
Der volle Inhalt der QuelleToma, Alexandru, und Cristian Morarescu. „Detection of Short-Step Pulses Using Practical Test-Functions and Resonance Aspects“. Mathematical Problems in Engineering 2008 (2008): 1–15. http://dx.doi.org/10.1155/2008/543457.
Der volle Inhalt der QuelleSmallwood, David. „Minimum Input Trace for Multiple Input Multiple Output Linear Systems“. Journal of the IEST 56, Nr. 2 (01.10.2013): 57–67. http://dx.doi.org/10.17764/jiet.56.2.41344333010617q6.
Der volle Inhalt der QuelleProvost, Julien, Jean-Marc Roussel und Jean-Marc Faure. „Generation of Single Input Change Test Sequences for Conformance Test of Programmable Logic Controllers“. IEEE Transactions on Industrial Informatics 10, Nr. 3 (August 2014): 1696–704. http://dx.doi.org/10.1109/tii.2014.2315972.
Der volle Inhalt der QuellePomeranz, Irith. „Use of input necessary assignments for test generation based on merging of test cubes“. IET Computers & Digital Techniques 9, Nr. 2 (März 2015): 106–12. http://dx.doi.org/10.1049/iet-cdt.2014.0009.
Der volle Inhalt der QuellePomeranz, Irith. „Combined input test data volume reduction for mixed broadside and skewed‐load test sets“. IET Computers & Digital Techniques 10, Nr. 3 (Mai 2016): 138–45. http://dx.doi.org/10.1049/iet-cdt.2015.0117.
Der volle Inhalt der QuelleMiropolsky, S., und S. Frei. „Reproducing system-level bulk current injection test in direct power injection setup for multiple-port DUTs“. Advances in Radio Science 11 (04.07.2013): 177–82. http://dx.doi.org/10.5194/ars-11-177-2013.
Der volle Inhalt der QuelleAzizi, Arash. „Effects of Non-negotiated Pre-modified Input, Negotiation of Input without Output, and Negotiation of Input plus Pushed Output on EFL Learners’ Vocabulary Learning“. Journal of Language Teaching and Research 7, Nr. 4 (01.07.2016): 773. http://dx.doi.org/10.17507/jltr.0704.19.
Der volle Inhalt der QuelleWatanabe, Yuichi. „INPUT, INTAKE, AND RETENTION“. Studies in Second Language Acquisition 19, Nr. 3 (September 1997): 287–307. http://dx.doi.org/10.1017/s027226319700301x.
Der volle Inhalt der QuelleZhang, Xin, und Xiu Li Du. „Operational Modal Test of an Arch Bridge“. Advanced Materials Research 446-449 (Januar 2012): 3233–38. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.446-449.3233.
Der volle Inhalt der QuelleShelke, Sneha, und Sangeeta Nagpure. „Generation of String Test Input from Web using Regular Expression“. International Journal of Computer Applications 99, Nr. 18 (20.08.2014): 44–46. http://dx.doi.org/10.5120/17476-8375.
Der volle Inhalt der QuelleKnudsen, Torben. „Preliminary Test for Nonlinear Input Output Relations in SISO Systems“. IFAC Proceedings Volumes 33, Nr. 15 (Juni 2000): 175–80. http://dx.doi.org/10.1016/s1474-6670(17)39746-x.
Der volle Inhalt der QuelleMorelli, Eugene A. „Flight Test Validation of Optimal Input Design Using Pilot Implementation“. IFAC Proceedings Volumes 27, Nr. 8 (Juli 1994): 1007–12. http://dx.doi.org/10.1016/s1474-6670(17)47840-2.
Der volle Inhalt der QuelleZhang, Boyan, Deyu Li und Chunlei Li. „Seismic input model of high slope and its test verification“. IOP Conference Series: Earth and Environmental Science 304, Nr. 4 (18.09.2019): 042010. http://dx.doi.org/10.1088/1755-1315/304/4/042010.
Der volle Inhalt der QuellePark, Ho Cheol, Su Whan Sung und Jietae Lee. „Modeling of Hammerstein−Wiener Processes with Special Input Test Signals“. Industrial & Engineering Chemistry Research 45, Nr. 3 (Februar 2006): 1029–38. http://dx.doi.org/10.1021/ie050540a.
Der volle Inhalt der QuelleBehnamfar, Farhad, und Mohammadreza Najar. „Combined Dynamic Actuator–Shake Table Test with Optimized Input Energy“. Journal of Engineering Mechanics 144, Nr. 3 (März 2018): 04018004. http://dx.doi.org/10.1061/(asce)em.1943-7889.0001376.
Der volle Inhalt der QuelleBosscher, Peter J., und Dale R. Showers. „Effect of Soil Type on Standard Penetration Test Input Energy“. Journal of Geotechnical Engineering 113, Nr. 4 (April 1987): 385–89. http://dx.doi.org/10.1061/(asce)0733-9410(1987)113:4(385).
Der volle Inhalt der QuelleDuque-Carrillo, J. F., und R. Perez-Aloe. „High-bandwidth CMOS test buffer with very small input capacitance“. Electronics Letters 26, Nr. 25 (1990): 2084. http://dx.doi.org/10.1049/el:19901343.
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