Zeitschriftenartikel zum Thema „Test device“
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Siswanto, Waluyo Adi, Mohd Norihan Ibrahim, Mohd Amran Madlan und Siti Mariah Mohamad. „Shaker Table Design for Electronic Device Vibration Test System“. International Journal of Engineering and Technology 3, Nr. 6 (2011): 663–68. http://dx.doi.org/10.7763/ijet.2011.v3.302.
Der volle Inhalt der QuelleMaeno, Hidesh, und Tetsuo Tada. „4813043 Semiconductor test device“. Microelectronics Reliability 29, Nr. 5 (Januar 1989): iii. http://dx.doi.org/10.1016/0026-2714(89)90324-7.
Der volle Inhalt der QuelleDongré, Raj, John D’Angelo und Steve McMahon. „Development of Superpave Direct Tension Test Device“. Transportation Research Record: Journal of the Transportation Research Board 1586, Nr. 1 (Januar 1997): 32–39. http://dx.doi.org/10.3141/1586-05.
Der volle Inhalt der QuelleKusmayanti, Suci, Gilang Yubiliana, Andri Abdurrochman, Muhamad Lutfi Ramdani und Naufal Hilmi Fauzan. „Effectiveness test of dental hypnosis monitoring device“. Padjadjaran Journal of Dentistry 33, Nr. 1 (31.03.2021): 26. http://dx.doi.org/10.24198/pjd.vol33no1.22383.
Der volle Inhalt der QuelleXiao, Yao Zong, Wen Jun Zhang, Bin Wang und Chun Cheng Tai. „Floatation Column Test Research into Ore Way“. Advanced Materials Research 347-353 (Oktober 2011): 1718–21. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.347-353.1718.
Der volle Inhalt der QuelleMartínez Palmeth, Luis Humberto, María Angelica Gonzalez Carmona und José Miranda Castro. „Design and Analysis of a Bulge Test Device“. Ingeniería e Investigación 41, Nr. 3 (02.06.2021): e85756. http://dx.doi.org/10.15446/ing.investig.v41n3.85756.
Der volle Inhalt der QuelleKRIEGER, JAMES. „Test Device Reduces Exam Anxiety“. Chemical & Engineering News 70, Nr. 28 (13.07.1992): 37. http://dx.doi.org/10.1021/cen-v070n028.p037.
Der volle Inhalt der QuelleKniker, William T. „CHOOSING A SKIN TEST DEVICE“. Annals of Allergy, Asthma & Immunology 78, Nr. 5 (Mai 1997): 524. http://dx.doi.org/10.1016/s1081-1206(10)63243-7.
Der volle Inhalt der QuelleEngler, David B. „CHOOSING A SKIN TEST DEVICE“. Annals of Allergy, Asthma & Immunology 78, Nr. 5 (Mai 1997): 524–25. http://dx.doi.org/10.1016/s1081-1206(10)63244-9.
Der volle Inhalt der QuelleGouge, Edward M. „A flame test demonstration device“. Journal of Chemical Education 65, Nr. 6 (Juni 1988): 544. http://dx.doi.org/10.1021/ed065p544.
Der volle Inhalt der QuelleSandor, A., K. L. Holden, J. W. Pace und L. Martin. „Cursor Control Device Test Battery“. Proceedings of the Human Factors and Ergonomics Society Annual Meeting 55, Nr. 1 (01.09.2011): 1823–26. http://dx.doi.org/10.1177/1071181311551379.
Der volle Inhalt der QuelleDeaves, M. „On test [electronic device testing]“. Manufacturing Engineer 82, Nr. 5 (01.10.2003): 40–41. http://dx.doi.org/10.1049/me:20030508.
Der volle Inhalt der QuelleVelghe, M. F., und P. Elleaume. „FEL optics coating test device“. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 259, Nr. 1-2 (September 1987): 83–87. http://dx.doi.org/10.1016/0168-9002(87)90433-5.
Der volle Inhalt der QuelleBayrakçeken, Hüseyin, Faruk Emre Aysal und İbrahim Mutlu. „The Design and Manufacturing of Brake‐Suspension Test Device“. Afyon Kocatepe University Journal of Sciences and Engineering 16, Nr. 2 (01.06.2016): 454–60. http://dx.doi.org/10.5578/fmbd.27861.
Der volle Inhalt der QuelleBruckhoff, Henning. „Test device for measuring the fit of hearing and related devices“. Journal of the Acoustical Society of America 78, Nr. 2 (August 1985): 822. http://dx.doi.org/10.1121/1.393084.
Der volle Inhalt der QuelleGreason, W. D., und S. Bulach. „Constant energy device test for electrostatic discharge (ESD) of semiconductor devices“. IEEE Transactions on Industry Applications 33, Nr. 1 (1997): 286–97. http://dx.doi.org/10.1109/28.567133.
Der volle Inhalt der QuelleJanky, Kristen L., Jessie N. Patterson, Neil T. Shepard, Megan L. A. Thomas und Julie A. Honaker. „Effects of Device on Video Head Impulse Test (vHIT) Gain“. Journal of the American Academy of Audiology 28, Nr. 09 (Oktober 2017): 778–85. http://dx.doi.org/10.3766/jaaa.16138.
Der volle Inhalt der QuelleKatoh, Yoshihisa, Shintaro So, Younggun Han, Osamu Horiuchi, Woon Choi und Hajime Tomokage. „Reliability Test of Embedded Device Substrates“. Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging 17, Nr. 5 (2014): 370–75. http://dx.doi.org/10.5104/jiep.17.370.
Der volle Inhalt der QuelleYang, Shi Liang, Teng Li, Wei Hong Tang und Ling Dai. „Electrostatic Sensitivity Test of Semiconductor Device“. Advanced Materials Research 1030-1032 (September 2014): 1172–75. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.1030-1032.1172.
Der volle Inhalt der QuelleDu, Wei Ming, Cai Bin Liu und Guo Hong Liu. „Design of Radar Transmitter Test Device“. Advanced Materials Research 791-793 (September 2013): 941–44. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.791-793.941.
Der volle Inhalt der QuelleJakubovičová, Lenka, Branislav Ftorek, Vladislav Baniari, Alžbeta Sapietová, Tomáš Potoček und Milan Vaško. „Engineering Design of a Test Device“. Procedia Engineering 177 (2017): 520–25. http://dx.doi.org/10.1016/j.proeng.2017.02.255.
Der volle Inhalt der QuelleKroeger, Michael, Horst Karl, Bernhard Simmler und Peter Singer. „Viability Test Device for anisakid nematodes“. Heliyon 4, Nr. 3 (März 2018): e00552. http://dx.doi.org/10.1016/j.heliyon.2018.e00552.
Der volle Inhalt der QuelleGent, A. N., T. T. Thompson und R. D. Ramsier. „A “Wobble-Plate” Dynamic Test Device“. Rubber Chemistry and Technology 76, Nr. 4 (01.09.2003): 779–84. http://dx.doi.org/10.5254/1.3547771.
Der volle Inhalt der QuelleBlad, Börje, Per Wendel und Per Nilsson. „A simple test device for electrometers“. Physics in Medicine and Biology 43, Nr. 8 (01.08.1998): 2385–91. http://dx.doi.org/10.1088/0031-9155/43/8/028.
Der volle Inhalt der QuelleBahl, C. R. H., T. F. Petersen, N. Pryds und A. Smith. „A versatile magnetic refrigeration test device“. Review of Scientific Instruments 79, Nr. 9 (2008): 093906. http://dx.doi.org/10.1063/1.2981692.
Der volle Inhalt der Quelle&NA;. „CE Test: Pinpointing intravascular device infections“. Nursing Management (Springhouse) 34, Nr. 6 (Juni 2003): 42–43. http://dx.doi.org/10.1097/00006247-200306000-00017.
Der volle Inhalt der QuelleCrane, F. Edward, Scott Davidson, Jack Kane, Charles E. Stroud und Shianling Wu. „Trends in Digital Device Test Methodologies“. AT&T Technical Journal 73, Nr. 2 (04.03.1994): 10–18. http://dx.doi.org/10.1002/j.1538-7305.1994.tb00574.x.
Der volle Inhalt der QuelleLacher, Alexander, Nikolas Juengel und Utz von Wagner. „Modelling of a pyroshock test device“. PAMM 9, Nr. 1 (Dezember 2009): 291–92. http://dx.doi.org/10.1002/pamm.200910119.
Der volle Inhalt der QuelleDavid Suits, L., TC Sheahan, A. Hameiri und RJ Fannin. „A Cyclic Gradient Ratio Test Device“. Geotechnical Testing Journal 25, Nr. 3 (2002): 9921. http://dx.doi.org/10.1520/gtj11097j.
Der volle Inhalt der QuelleShang, Yujun, Chenglong Wang, Hongmei Xu, Shuang Liu, Wei Jiang und Jiajun Dong. „Noise Source Identification of the Grain Combining Harvester Based on Acoustic Array Test“. Applied Engineering in Agriculture 36, Nr. 6 (2020): 879–90. http://dx.doi.org/10.13031/aea.14153.
Der volle Inhalt der QuelleJia, Xiaofei, Wenhao Chen, Bing Ding und Liang He. „Noise test method for dual-gate MOSFET device“. Modern Physics Letters B 33, Nr. 31 (10.11.2019): 1950387. http://dx.doi.org/10.1142/s0217984919503871.
Der volle Inhalt der QuelleHaverkate, Liz, Gerwin Smit und Dick H. Plettenburg. „Assessment of body-powered upper limb prostheses by able-bodied subjects, using the Box and Blocks Test and the Nine-Hole Peg Test“. Prosthetics and Orthotics International 40, Nr. 1 (21.10.2014): 109–16. http://dx.doi.org/10.1177/0309364614554030.
Der volle Inhalt der QuelleZuehlke, Detlef, und Lutz Krauss. „A New and Simple Method and Tool for the Evaluation of Input Devices“. Proceedings of the Human Factors and Ergonomics Society Annual Meeting 46, Nr. 24 (September 2002): 1987–91. http://dx.doi.org/10.1177/154193120204602411.
Der volle Inhalt der QuelleWang, Li Quan, Yong Dong An, Rong Hua Sun und Shao Jun An. „Research on Loading Method of High-Speed Closed Power Flow Test System“. Key Engineering Materials 419-420 (Oktober 2009): 129–32. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.419-420.129.
Der volle Inhalt der QuelleMasuda, Hiroyuki. „Long Term Laboratry Test Using New Atmospheric Corrosion Test Device“. Journal of the Japan Institute of Metals 70, Nr. 9 (2006): 780–84. http://dx.doi.org/10.2320/jinstmet.70.780.
Der volle Inhalt der QuelleOliver, MartinJ. „4727317 Device orientation test method suitable for automatic test equipment“. Microelectronics Reliability 28, Nr. 5 (Januar 1988): 838. http://dx.doi.org/10.1016/0026-2714(88)90126-6.
Der volle Inhalt der QuelleZhang, Kui, Hong Dong Zhao, Tong Xi Shen und Jie Huang. „Research of Probability Distribution of Semiconductor Test Parameter“. Advanced Materials Research 1049-1050 (Oktober 2014): 754–61. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.1049-1050.754.
Der volle Inhalt der QuelleVolobuev, S. V., und V. G. Ryabtsev. „Interface Features of the DDR SDRAM Memory Test Diagnostic Device“. Proceedings of Universities. Electronics 26, Nr. 3-4 (2021): 282–90. http://dx.doi.org/10.24151/1561-5405-2021-26-3-4-282-290.
Der volle Inhalt der QuelleBrakerski, Zvika, Paul Christiano, Urmila Mahadev, Umesh Vazirani und Thomas Vidick. „A Cryptographic Test of Quantumness and Certifiable Randomness from a Single Quantum Device“. Journal of the ACM 68, Nr. 5 (31.10.2021): 1–47. http://dx.doi.org/10.1145/3441309.
Der volle Inhalt der QuelleKillian, Jacquelin M., Rachel M. Radin, Cubby L. Gardner, Lalon Kasuske, Kylee Bashirelahi, Dominic Nathan, David O. Keyser, Christopher J. Cellucci, David Darmon und Paul E. Rapp. „Alternative Devices for Heart Rate Variability Measures: A Comparative Test–Retest Reliability Study“. Behavioral Sciences 11, Nr. 5 (02.05.2021): 68. http://dx.doi.org/10.3390/bs11050068.
Der volle Inhalt der QuelleIsetta, Valentina, Daniel Navajas, Josep M. Montserrat und Ramon Farré. „Comparative assessment of several automatic CPAP devices' responses: a bench test study“. ERJ Open Research 1, Nr. 1 (Mai 2015): 00031–2015. http://dx.doi.org/10.1183/23120541.00031-2015.
Der volle Inhalt der QuelleBorozenets, A. S., A. V. Proskurin und A. V. Shlishevskiy. „Evaluation of the Composite Barrier Natural Oscillations Influence on the Generated Shock Loading“. Herald of the Bauman Moscow State Technical University. Series Mechanical Engineering, Nr. 1 (136) (März 2021): 103–13. http://dx.doi.org/10.18698/0236-3941-2021-1-103-113.
Der volle Inhalt der QuellePan, Zhi Yong, Sheng Yin Song, Wen Hong Liu, Yao Rong Feng und Xin Hu Wang. „Research and Application of Expansion Evaluation Device for Solid Expandable Tubular“. Advanced Materials Research 339 (September 2011): 579–82. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.339.579.
Der volle Inhalt der QuelleLi, Hu, Yubo Fan und Zhou Li. „Fabrication and performance test of biodegradable supercapacitor“. MRS Advances 4, Nr. 37 (2019): 2063–70. http://dx.doi.org/10.1557/adv.2019.253.
Der volle Inhalt der QuellePanthawong, Amonrat, Stephen L. Doggett und Theeraphap Chareonviriyaphap. „The Efficacy of Ultrasonic Pest Repellent Devices against the Australian Paralysis Tick, Ixodes holocyclus (Acari: Ixodidae)“. Insects 12, Nr. 5 (30.04.2021): 400. http://dx.doi.org/10.3390/insects12050400.
Der volle Inhalt der QuelleCheng, Ze, Zhao Long Xuan, Wei Wang und Mao Sen Hao. „Test Method for Electronic Device on Condition of Small Sampling“. Applied Mechanics and Materials 347-350 (August 2013): 525–28. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.347-350.525.
Der volle Inhalt der QuelleKelemenová, Tatiana. „AIRFLOW MEASUREMENT TEST DEVICE FOR AIRFLOW SENSORS“. Acta Mechatronica 4, Nr. 4 (31.12.2019): 17–21. http://dx.doi.org/10.22306/am.v4i4.52.
Der volle Inhalt der QuelleSaraogi, Ashish, S. Parthasarathy, VR Hemanth Kumar und M. Ravishankar. „Improvised device for negative-pressure leak test“. Indian Journal of Anaesthesia 56, Nr. 2 (2012): 201. http://dx.doi.org/10.4103/0019-5049.96311.
Der volle Inhalt der QuelleHuang Yongjun, 黄勇军, 文光俊 Wen Guangjun, 李天倩 Li Tianqian und 谢康 Xie Kang. „Test device for negative refractive index materials“. High Power Laser and Particle Beams 23, Nr. 1 (2011): 221–24. http://dx.doi.org/10.3788/hplpb20112301.0221.
Der volle Inhalt der QuelleLiu, Qiang, Ying Xue Yao und L. Zhou. „Research on a New Nanohardness Test Device“. Applied Mechanics and Materials 10-12 (Dezember 2007): 533–37. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.10-12.533.
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