Bücher zum Thema „Semiconductor failure analysis“
Geben Sie eine Quelle nach APA, MLA, Chicago, Harvard und anderen Zitierweisen an
Machen Sie sich mit Top-22 Bücher für die Forschung zum Thema "Semiconductor failure analysis" bekannt.
Neben jedem Werk im Literaturverzeichnis ist die Option "Zur Bibliographie hinzufügen" verfügbar. Nutzen Sie sie, wird Ihre bibliographische Angabe des gewählten Werkes nach der nötigen Zitierweise (APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver usw.) automatisch gestaltet.
Sie können auch den vollen Text der wissenschaftlichen Publikation im PDF-Format herunterladen und eine Online-Annotation der Arbeit lesen, wenn die relevanten Parameter in den Metadaten verfügbar sind.
Sehen Sie die Bücher für verschiedene Spezialgebieten durch und erstellen Sie Ihre Bibliographie auf korrekte Weise.
Richards, B. P. The role of microscopy in semiconductor failure analysis. Oxford: Oxford University Press, 1992.
Den vollen Inhalt der Quelle findenMicroelectronics failure analysis: Desk reference. 6. Aufl. Materials Park, Ohio: ASM International, 2011.
Den vollen Inhalt der Quelle findenIntegrated circuit failure analysis: A guide to preparation techniques. Chichester: Wiley, 1998.
Den vollen Inhalt der Quelle findenChim, Wai Kin. Semiconductor device and failue analysis: Using photon emission microscopy. Chichester, [England]: Wiley, 2000.
Den vollen Inhalt der Quelle findenSemiconductor device and failue analysis: Using photon emission microscopy. Chichester, [England]: Wiley, 2000.
Den vollen Inhalt der Quelle findenWagner, Lawrence C. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques. Boston, MA: Springer US, 1999.
Den vollen Inhalt der Quelle findenInternational, Symposium for Testing and Failure Analysis (23rd 1997 Santa Clara Calif ). ISTFA '97: Proceedings of the 23rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, 27-31 October 1997, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California. Materials Park, Ohio: ASM International, 1997.
Den vollen Inhalt der Quelle findenChim, Wai Kin. Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscopy. Wiley, 2000.
Den vollen Inhalt der Quelle findenLouhibi, M. E. H. Degradation failure mode of transistors: The use of lognormal and exponential distributions in the reliability analysis of semiconductor devices. Bradford, 1985.
Den vollen Inhalt der Quelle findenElectronic Device Failure Analysis Society., Hrsg. Microelectronic failure analysis: Desk reference. Materials Park, Ohio: ASM International, 2001.
Den vollen Inhalt der Quelle findenElectronic Device Failure Analysis Society Desk Reference Committee., Hrsg. Microelectronics failure analysis: Desk reference. 5. Aufl. Materials Park, Ohio: ASM International, 2004.
Den vollen Inhalt der Quelle findenW, Lee Thomas, und Pabbisetty Seshu V, Hrsg. Microelectronic failure analysis: Desk reference. 3. Aufl. Materials Park, OH: ASM International, 1997.
Den vollen Inhalt der Quelle findenBeck, Friedrich. Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2000.
Den vollen Inhalt der Quelle finden(Editor), Richard J. Ross, Christian Boit (Editor) und Donald Staab (Editor), Hrsg. Microelectronic Failure Analysis: Desk Reference (#09105G). 4. Aufl. ASM International, 1999.
Den vollen Inhalt der Quelle findenC, Wagner Lawrence, Hrsg. Failure analysis of integrated circuits: Tools and techniques. Boston, Mass: Kluwer Academic Publishers, 1999.
Den vollen Inhalt der Quelle findenMicroelectronic failure analysis: Desk reference : 2002 supplement. Materials Park, OH: ASM International, 2002.
Den vollen Inhalt der Quelle findenVeendrick, Harry. Bits on Chips. Springer, 2019.
Den vollen Inhalt der Quelle findenVeendrick, Harry. Bits on Chips. Springer, 2018.
Den vollen Inhalt der Quelle findenBits on Chips. The Netherlands: www.bitsonchips.com, 2011.
Den vollen Inhalt der Quelle findenWagner, Lawrence C. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The International Series in Engineering and Computer Science). Springer, 1999.
Den vollen Inhalt der Quelle findenKostas, Amberiadis, European Optical Society, Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., European Commission. Directorate-General XII, Science, Research, and Development., Scottish Enterprise, Sira Technology Centre (U.K.) und Institution of Electrical Engineers, Hrsg. In-line characterization, yield reliability, and failure analysis in microelectronics manufacturing: 19-21 May, 1999, Edinburgh, Scotland. Bellingham, Wash., USA: SPIE, 1999.
Den vollen Inhalt der Quelle findenGudrun, Kissinger, Weiland Larg H, Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., Scottish Enterprise, European Optical Society und Institution of Electrical Engineers, Hrsg. In-line characterization, yield, reliability, and failure analysis in microelectronic manufacturing II: 31 May-1 June 2001, Edinburgh, UK. Bellingham, Washington: SPIE, 2001.
Den vollen Inhalt der Quelle finden