Bücher zum Thema „Secondary ion mass spectrometer“
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van der Heide, Paul. Secondary Ion Mass Spectrometry. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2014. http://dx.doi.org/10.1002/9781118916780.
Der volle Inhalt der QuelleL, Bentz B., und Odom R. W, Hrsg. Secondary ion mass spectrometry. Amsterdam: Elsevier, 1995.
Den vollen Inhalt der Quelle findenWilson, R. G. Secondary ion mass spectrometry. Chichester: Wiley, 1989.
Den vollen Inhalt der Quelle findenMahoney, Christine M., Hrsg. Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2013. http://dx.doi.org/10.1002/9781118589335.
Der volle Inhalt der QuelleBenninghoven, Alfred, Richard J. Colton, David S. Simons und Helmut W. Werner, Hrsg. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1986. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-82724-2.
Der volle Inhalt der QuelleC, Vickerman J., Brown A. Alan und Reed Nicola M, Hrsg. Secondary ion mass spectrometry: Principles and applications. Oxford: Clarendon Press, 1989.
Den vollen Inhalt der Quelle findenA, Brown, und Vickerman J. C, Hrsg. Handbook of static secondary ion mass spectrometry. Chichester [West Sussex]: J. Wiley, 1989.
Den vollen Inhalt der Quelle findenHearn, Martin John. Polymer surface studies by secondary ion mass spectrometry. Leicester: Leicester Polytechnic, 1988.
Den vollen Inhalt der Quelle findenG, Rüdenauer F., und Werner H. W, Hrsg. Secondary ion mass spectrometry: Basic concepts, instrumental aspects, applications, and trends. New York: J. Wiley, 1987.
Den vollen Inhalt der Quelle findenInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (11th 1997 Orlando, Fla.). Secondary ion mass spectrometry, SIMS XI: Proceedings of the Eleventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Orlando, Florida, September 7-12th, 1997. Herausgegeben von Gillen G. Chichester: Wiley, 1998.
Den vollen Inhalt der Quelle findenInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (9th 1993 Yokahama). Secondary ion mass spectrometry: SIMS IX : proceedings of the Ninth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS IX)...,7-12 November 1993. Herausgegeben von Benninghoven A. 1932-. Chichester: Wiley, 1994.
Den vollen Inhalt der Quelle findenMai, H. Investigation of the sampling volume in secondary ion microanalysis. Dresden: Akademie der Wissenschaften der DDR, Zentralinstitut für Festkörperphysik und Werkstofforschung, 1986.
Den vollen Inhalt der Quelle findenInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (8th 1991 Amsterdam,Netherlands). Secondary ion mass spectrometry: SIMS VIII : proceedings of the eighth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Amsterdam, the Netherlands, September 15-20 1991. Herausgegeben von Benninghoven A. 1932-. Chichester: Wiley, 1992.
Den vollen Inhalt der Quelle findenInternational Conferenceon Secondary Ion Mass Spectrometry (7th 1989 California, USA). Secondary ion mass spectrometry SIMS VII: Proceedings of the seventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS VII), Hyatt Regency Hotel, Monterey, California, USA, September 3rd-8th, 1989. Herausgegeben von Benninghoven A. 1932-. Chichester: Wiley, 1990.
Den vollen Inhalt der Quelle findenInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (10th 1995 Muenster, Germany). Secondary ion mass spectrometry, SIMS X: Proceedings of the Tenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X), University of Muenster, Muenster, Germany, October 1-6th, 1995. Herausgegeben von Benninghoven A, Hagenhoff B und Werner H. W. Chichester: Wiley, 1997.
Den vollen Inhalt der Quelle findenG, Wilson Robert. Secondary ion mass spectrometry: A practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysis. New York: Wiley, 1989.
Den vollen Inhalt der Quelle findenFayek, Mostafa. Secondary ion mass spectrometry in the earth sciences: Gleaning the big picture from a small spot. Toronto: Mineralogical Association of Canada, 2009.
Den vollen Inhalt der Quelle findenInternational, Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (6th 1987 Versailles France). Secondary ion mass spectrometry: SIMS VI: proceedings of the Sixth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Palais des Congrès, Versailles, Paris, France, September 13-18th, 1987. Chichester: Wiley, 1988.
Den vollen Inhalt der Quelle findenVargas-Aburto, Carlos. Development of a quadrupole-based secondary-ion mass spectrometry (SIMS) system at Lewis Research Center. [Washington, D.C.]: NASA, 1990.
Den vollen Inhalt der Quelle findenR, Aron Paul, Liff Dale Russell und United States. National Aeronautics and Space Administration., Hrsg. Development of a quadrupole-based secondary-ion mass spectrometry (SIMS) system at Lewis Research Center. [Washington, D.C.]: NASA, 1990.
Den vollen Inhalt der Quelle findenFox, Harvey Stuart. A study of shallow implants in silicon by secondary ion mass spectrometry. [s.l.]: typescript, 1989.
Den vollen Inhalt der Quelle findenA, Hedin, Sundqvist B. U. R und Benninghoven A. 1932-, Hrsg. Ion Formation from Organic Solids (IFOS V). Chichester: Wiley, 1990.
Den vollen Inhalt der Quelle findenInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (5th 1985 Washington, D.C.). Secondary ion mass spectrometry: SIMS V : proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30-October 4, 1985. Herausgegeben von Benninghoven A. Berlin: Springer-Verlag, 1986.
Den vollen Inhalt der Quelle findenInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry. (7th 1989 Monterey, Calif.). Secondary ion mass spectrometry: SIMS VII: proceedings of the seventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS VII), Hyatt Regency Hotel, Monterey, California, USA, September 3rd-4th, 1989. Herausgegeben von Benninghoven A, Huber Alfred 1918- und Werner H. W. Chichester: Wiley, 1990.
Den vollen Inhalt der Quelle finden1930-, Czanderna Alvin Warren, und Hercules David M, Hrsg. Ion spectroscopies for surface analysis. New York: Plenum Press, 1991.
Den vollen Inhalt der Quelle findenIro, J. E. Static secondary ion mass spectrometry studies of complex toxic substances adsorbed on different subtrates. Manchester: UMIST, 1998.
Den vollen Inhalt der Quelle findenCooke, Graham Alan. The development of secondary ion mass spectrometry for two-dimensional impurity profiling in semiconductors. [s.l.]: typescript, 1992.
Den vollen Inhalt der Quelle findenCzanderna, A. W. Ion Spectroscopies for Surface Analysis. Boston, MA: Springer US, 1991.
Den vollen Inhalt der Quelle findenHeller-Krippendorf, Danica. Multivariate Data Analysis for Root Cause Analyses and Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry. Wiesbaden: Springer Fachmedien Wiesbaden, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-658-28502-9.
Der volle Inhalt der QuelleA, Hedin, Sundqvist B. U. R, Benninghoven A, Naturvetenskapliga forskningsrådet (Sweden), Nordic Committee for Accelerator Based Research. und International Conference on Ion Formation from Organic Solids (5th : 1989 : Lövånger, Sweden), Hrsg. Ion formation from organic solids (IFOS V): Proceedings of the fifth international conference, Lövånger, Sweden, June 18-21, 1989. Chichester [England]: Wiley, 1990.
Den vollen Inhalt der Quelle findenA, Benninghoven, Hrsg. Ion formation from organic solids (IFOS III): Mass spectrometry of involatile material : proceedings of the third international conference, Münster, Fed. Rep. of Germany, September 16-18, 1985. Berlin: Springer-Verlag, 1986.
Den vollen Inhalt der Quelle findenInternational Conference On Ion Formation from Organic Solids(IFOS IV) (4th 1987 Münster). Ion formation from organic solids (IFOS IV): Mass spectrometry of involatile material : proceedings of the Fourth International Conference, Münster, Federal Republic of Germany,September 21-23, 1987. Herausgegeben von Benninghoven A. 1932-. Chichester: Wiley, 1989.
Den vollen Inhalt der Quelle findenPouch, John J. Auger electron spetroscopy, secondary ion mass spectrometry and optical characterization of a-C:H and BN films. [Cleveland, Ohio: National Aeronautics and Space Administration, Lewis Research Center, 1986.
Den vollen Inhalt der Quelle findenH, Zou, und AECL Research, Hrsg. The solid solubility of Ni and Co in [alpha]-Zr: A secondary Ion mass spectrometry study. Chalk River, Ontario, Canada: Reactor Materials Research Branch, Chalk River Laboratories, 1995.
Den vollen Inhalt der Quelle finden1945-, Lyon Philip A., und American Chemical Society, Hrsg. Desorption mass spectrometry: Are SIMS and FAB the same? Washington, D.C: American Chemical Society, 1985.
Den vollen Inhalt der Quelle findenHerridge, D. A static secondary ion mass spectrometry (SSIMS) investigation of hetrogeneous reactions on simulated polar stratospheric cloud particles. Manchester: UMIST, 1997.
Den vollen Inhalt der Quelle findenUnited States. National Aeronautics and Space Administration., Hrsg. Analylsis of LDEF experiment AO137-2: Chemically and isotopic measurements of micrometeroids by secondary ion mass spectrometry. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1992.
Den vollen Inhalt der Quelle findenG, Newman John, und Hohlt Teresa A, Hrsg. Static SIMS handbook of polymer analysis: A reference book of standard data for identification and interpretation of static SIMS data. Eden Prairie, Minn: Perkin-Elmer Corp., Physical Electronics Division, 1991.
Den vollen Inhalt der Quelle findenInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (5th 1985 Washington, DC). Secondary ion mass spectrometry SIMS V: Proceedings of the Fifth International Conference, Washington, DC, September 30 - October 4, 1985. Berlin: Springer, 1986.
Den vollen Inhalt der Quelle findenJ, Verlinden, Commission of the European Communities. Directorate-General for Science, Research and Development. und Commission of the European Communities. Joint Research Centre., Hrsg. Rhenium filaments: Investigation of their purity by spark source and secondary ion mass spectrometry, their purification by thermal treatment. Luxembourg: Commission of the European Communities Directorate-General Information Market and Innovation, 1985.
Den vollen Inhalt der Quelle findenGrasserbauer, M. Angewandte Oberflächenanalyse: Mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie. Berlin: Springer-Verlag, 1986.
Den vollen Inhalt der Quelle findenCherepin, Valentin Tikhonovich. Ionnyĭ mikrozondovyĭ analiz. Kiev: Nauk. dumka, 1992.
Den vollen Inhalt der Quelle findenSurface analysis of polymers by XPS and static SIMS. Cambridge, U.K: Cambridge University Press, 1998.
Den vollen Inhalt der Quelle findenUnited States. National Aeronautics and Space Administration., Hrsg. Ion mass spectrometer experiment for ISIS-II spacecraft: Final report. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1987.
Den vollen Inhalt der Quelle finden(Editor), A. Benninghoven, C. A. Evans (Editor), K. D. McKeegan (Editor), H. A. Storms (Editor) und H. W. Werner (Editor), Hrsg. Secondary Ion Mass Spectrometry. John Wiley and Sons Ltd, 1990.
Den vollen Inhalt der Quelle findenInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (6th 1987 Versailles, France). Secondary ion mass spectrometry. Herausgegeben von Benninghoven A. 1932-, Huber Alfred 1918- und Werner H. W. Wiley, 1988.
Den vollen Inhalt der Quelle findenFEARN, Shard. Secondary Ion Mass Spectrometry Its Aphb. Institute of Physics Publishing, 2022.
Den vollen Inhalt der Quelle finden(Editor), A. Benninghoven, B. Hagenhoff (Editor) und H. W. Werner (Editor), Hrsg. Secondary Ion Mass Spectrometry: SIMS X. John Wiley & Sons Ltd (Import), 1997.
Den vollen Inhalt der Quelle findenGillen, Edited by: G. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS XI. Wiley, 1998.
Den vollen Inhalt der Quelle findenBenninghoven, A., R. Shimizu und Y. Nihei. Secondary Ion Mass Spectrometry: SIMS IX. John Wiley & Sons, 1994.
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