Zeitschriftenartikel zum Thema „Oxide and sulphide thin films“
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Weng, Shixing, und Michael Cocivera. „Cadmium sulphide prepared from cadmium oxide thin films“. Solar Energy Materials and Solar Cells 36, Nr. 3 (März 1995): 301–9. http://dx.doi.org/10.1016/0927-0248(94)00183-9.
Der volle Inhalt der QuelleKumar, Rajesh, und Swati Chawla. „Optical, Structural and Gas Sensing Studies on Tin Oxide Thin Films“. Asian Journal of Chemistry 31, Nr. 8 (28.06.2019): 1805–8. http://dx.doi.org/10.14233/ajchem.2019.22054.
Der volle Inhalt der QuelleHo, Soonmin. „Recent advancement in the synthesis of zinc sulphide thin films“. Research Journal of Chemistry and Environment 28, Nr. 6 (30.04.2024): 87–100. http://dx.doi.org/10.25303/286rjce870100.
Der volle Inhalt der QuelleThanikaikarasan, S., T. Mahalingam, S. Veeramuthumari und Luis Ixtlilco. „Electrochemical Growth and Characterization of Lead Sulphide Thin Films“. Journal of New Materials for Electrochemical Systems 16, Nr. 2 (15.04.2013): 133–37. http://dx.doi.org/10.14447/jnmes.v16i2.33.
Der volle Inhalt der QuelleKrishnaveni, Arjunan, Gnanasangeetha Selvaraj, Susmitha Joseph, Susithra Sivam, Thomas Makshiya, Anitha Nilavan, Susai Rajendran, Časlav Lacnjevac und Abdulhameed Al-Hashem. „Synthesis of copper sulphide thin film on Indium Tin Oxide glass plate by SILAR method and its characterization“. Zastita materijala 64, Nr. 4 (2023): 468–77. http://dx.doi.org/10.5937/zasmat2304468k.
Der volle Inhalt der QuelleAricò, A. S., M. Pieruccini, G. Monforte, V. Antonucci, N. Giordano und P. L. Antonucci. „Electrochemical deposition of iron sulphide thin films on tin oxide substrates“. Materials Chemistry and Physics 34, Nr. 3-4 (Juni 1993): 263–69. http://dx.doi.org/10.1016/0254-0584(93)90045-n.
Der volle Inhalt der QuelleWONG, P. C., Y. S. LI, M. Y. ZHOU und K. A. R. MITCHELL. „XPS STUDIES OF THE STABILITY OF A MIXED ZIRCONIUM OXIDE AND SULPHIDE THIN FILM“. Surface Review and Letters 02, Nr. 02 (April 1995): 165–69. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x95000170.
Der volle Inhalt der QuelleRaj, V. Bhasker, Harpreet Singh, A. Theodore Nimal, M. U. Sharma, Monika Tomar und Vinay Gupta. „Utilization of Mass and Elastic Loading in Oxide Materials Based SAW Devices for the Detection of Mustard Gas Simulant“. Advanced Materials Research 488-489 (März 2012): 1558–62. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.488-489.1558.
Der volle Inhalt der QuelleRogalski, M. S., V. Besserguenev, N. R. A. Barata und R. Baltazar. „CVD synthesis and CEMS study of Fe sulphide and oxide thin films“. IEEE Transactions on Magnetics 39, Nr. 5 (September 2003): 2696–98. http://dx.doi.org/10.1109/tmag.2003.815565.
Der volle Inhalt der QuelleZhu, Hui, Jian Feng Huang, Li Yun Cao, Yan Wang und Xie Rong Zeng. „Effect of Deposition Voltage on the Composition, Morphology and Optical Properties of ZnS Thin Films Prepared by Cathodic Electrodeposition“. Advanced Materials Research 105-106 (April 2010): 348–50. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.105-106.348.
Der volle Inhalt der QuelleWong, King Leung, Hung En Chen und Wen Lih Chen. „Study on the Buffer Layer of CIS Thin Film Solar Cell by Separate-Melting Chemical Bath Deposition Methods“. Advanced Materials Research 512-515 (Mai 2012): 178–81. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.512-515.178.
Der volle Inhalt der QuelleHamza, Djamel Eddine, Leila Lamiri, Assia Tounsi, Amor Aziz und Mohammad Alam Saeed. „Times effect on morphological, structural and optical behaviors of cds thin films for photoelectrochemical cells application“. Journal of Fundamental and Applied Sciences 14, Nr. 3 (05.06.2023): 548–66. http://dx.doi.org/10.4314/jfas.1242.
Der volle Inhalt der QuelleNwori, Augustine Nwode, Nnaedozie Laz Ezenwaka, Ifenyinwa Euphemia Ottih, Ngozi, Agatha Okereke und Nonso Livinus Okoli. „Study of the Optical, Electrical, Structural and Morphological Properties of Electrodeposited Lead Manganese Sulphide (PbMnS) Thin Film Semiconductors for Possible Device Applications“. Journal of Modern Materials 8, Nr. 1 (04.12.2021): 40–51. http://dx.doi.org/10.21467/jmm.8.1.40-51.
Der volle Inhalt der QuelleNomura, Ryoki, Satoru Fujii, Kouichi Kanaya und Haruo Matsuda. „Oxygen- or sulphur-containing organoindium compounds for precursors of indium oxide and sulphide thin films“. Polyhedron 9, Nr. 2-3 (Januar 1990): 361–66. http://dx.doi.org/10.1016/s0277-5387(00)80591-4.
Der volle Inhalt der QuelleIbanga, E. J., C. Le Luyer und J. Mugnier. „Zinc oxide waveguide produced by thermal oxidation of chemical bath deposited zinc sulphide thin films“. Materials Chemistry and Physics 80, Nr. 2 (Mai 2003): 490–95. http://dx.doi.org/10.1016/s0254-0584(02)00552-7.
Der volle Inhalt der QuelleUplane, M. M., S. H. Mujawar, A. I. Inamdar, P. S. Shinde, A. C. Sonavane und P. S. Patil. „Structural, optical and electrochromic properties of nickel oxide thin films grown from electrodeposited nickel sulphide“. Applied Surface Science 253, Nr. 24 (Oktober 2007): 9365–71. http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2007.05.069.
Der volle Inhalt der QuelleDelekar, S. D., und P. P. Hankare. „Chemically Deposited Cd1-xPbxSe Thin Films for Photoelectrochemical Studies“. Materials Science Forum 764 (Juli 2013): 293–306. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.764.293.
Der volle Inhalt der QuelleSangamesha, M. A., K. Pushpalatha, G. L. Shekar und S. Shamsundar. „Preparation and Characterization of Nanocrystalline CuS Thin Films for Dye-Sensitized Solar cells“. ISRN Nanomaterials 2013 (06.08.2013): 1–8. http://dx.doi.org/10.1155/2013/829430.
Der volle Inhalt der QuelleUsha, Sruthi P., Satyendra K. Mishra und Banshi D. Gupta. „Zinc oxide thin film/nanorods based lossy mode resonance hydrogen sulphide gas sensor“. Materials Research Express 2, Nr. 9 (01.09.2015): 095003. http://dx.doi.org/10.1088/2053-1591/2/9/095003.
Der volle Inhalt der QuelleNissinen, Tomi, Mei Li, Sean A. Davis und Stephen Mann. „In situ precipitation of amorphous and crystalline calcium sulphates in cellulose thin films“. CrystEngComm 16, Nr. 19 (2014): 3843–47. http://dx.doi.org/10.1039/c4ce00228h.
Der volle Inhalt der QuelleGaltayries, A., S. Wisniewski und J. Grimblot. „Formation of thin oxide and sulphide films on polycrystalline molybdenum foils: characterization by XPS and surface potential variations“. Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 87, Nr. 1 (Oktober 1997): 31–44. http://dx.doi.org/10.1016/s0368-2048(97)00071-6.
Der volle Inhalt der QuelleKaminski, P. M., A. Abbas, S. Yilmaz, J. W. Bowers und J. M. Walls. „High rate deposition of thin film CdTe solar cells by pulsed dc magnetron sputtering“. MRS Advances 1, Nr. 14 (2016): 917–22. http://dx.doi.org/10.1557/adv.2016.45.
Der volle Inhalt der QuelleLee, Sang Hyuk, Bo Hyun Seo und Jong Hyun Seo. „Micro-Scratch Analysis on Adhesion between Thin Films and PES Substrate“. Advanced Materials Research 26-28 (Oktober 2007): 1153–56. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.26-28.1153.
Der volle Inhalt der QuelleDanamah, Hamdan M., Siddheshwar D. Raut, Zeenat A. Shaikh und Rajaram S. Mane. „Chemical Synthesis of Bismuth Oxide and Its Ionic Conversion to Bismuth Sulphide for Enhanced Electrochemical Supercapacitor Energy Storage Performance“. Journal of The Electrochemical Society 169, Nr. 12 (01.12.2022): 120537. http://dx.doi.org/10.1149/1945-7111/acaac9.
Der volle Inhalt der QuelleMishra, Satyendra K., Samta Rani und Banshi D. Gupta. „Surface plasmon resonance based fiber optic hydrogen sulphide gas sensor utilizing nickel oxide doped ITO thin film“. Sensors and Actuators B: Chemical 195 (Mai 2014): 215–22. http://dx.doi.org/10.1016/j.snb.2014.01.045.
Der volle Inhalt der QuelleMohamad, Fariza, Kah Hao Cheong, Nabiah binti Zinal, Nurliyana binti Mohamad Arifin, Asyikin Sasha binti Mohd Hanif, Nik Hisyamudin Muhd Nor und Masanobu Izaki. „Cyclic Voltammetry Measurement for n-Type Cu2O Thin Film Using Copper Sulphate-Based Solution“. Key Engineering Materials 730 (Februar 2017): 119–24. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.730.119.
Der volle Inhalt der QuelleRajen Singh, L., und M. A. Hussain. „The temperature dependent current-voltage characteristics of chemically prepared AL/(P)PBS Schottky barrier junction“. Chalcogenide Letters 19, Nr. 2 (Februar 2022): 131–42. http://dx.doi.org/10.15251/cl.2022.192.131.
Der volle Inhalt der QuelleStoev, M. D., J. Touskova und J. Tousek. „X-ray photoelectron spectroscopy, scanning electron microscopy and optical transmittance studies of indium tin oxide and cadmium sulphide thin films for solar cells“. Thin Solid Films 299, Nr. 1-2 (Mai 1997): 67–71. http://dx.doi.org/10.1016/s0040-6090(96)09085-2.
Der volle Inhalt der QuelleJech, Martin, Alexander Hofer, Christian Tomastik, Thomas Wopelka und Carsten Gachot. „Influence of Artificially Altered Engine Oil on Tribofilm Formation and Wear Behaviour of Grey Cast Cylinder Liners“. Lubricants 11, Nr. 11 (04.11.2023): 476. http://dx.doi.org/10.3390/lubricants11110476.
Der volle Inhalt der QuelleNiedźwiedź, Mateusz, Władysław Skoneczny, Marek Bara und Grzegorz Dercz. „Thin Al2O3 Coatings Produced by Electrochemical Method, Subjected to Thermo-Chemical Treatment“. Coatings 11, Nr. 11 (25.10.2021): 1294. http://dx.doi.org/10.3390/coatings11111294.
Der volle Inhalt der QuelleLi, Wenbo, Chenghao Xu, Ken Chen, Lanlan Liu, Haiyun Yang, Qiao Cheng und Minyu Zeng. „Corrosion of Fe-Cr-Si Alloys in Oxidizing and Sulphidizing-Oxidizing Atmospheres“. Coatings 12, Nr. 10 (20.10.2022): 1588. http://dx.doi.org/10.3390/coatings12101588.
Der volle Inhalt der QuelleFu, Chuan Qi, und Zhou Wang. „Study of Tribological Properties of MoS2/Cu-Fe Matrix Self-Lubricating Composites Prepared by Induction Sintering at Elevated Temperature“. Applied Mechanics and Materials 33 (Oktober 2010): 458–62. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.33.458.
Der volle Inhalt der QuelleNair, P. K., O. Gomezdaza und M. T. S. Nair. „Metal sulphide thin film photography with lead sulphide thin films“. Advanced Materials for Optics and Electronics 1, Nr. 3 (Juni 1992): 139–45. http://dx.doi.org/10.1002/amo.860010307.
Der volle Inhalt der QuelleAshton, L. J., und J. F. B. Hawkes. „Cathodoluminescence in thin zinc sulphide films“. Journal of Physics D: Applied Physics 19, Nr. 7 (14.07.1986): 1343–52. http://dx.doi.org/10.1088/0022-3727/19/7/023.
Der volle Inhalt der QuelleMattern, N., W. Pitschke und S. Doyle. „Structure of molybdenum sulphide thin films“. Acta Crystallographica Section A Foundations of Crystallography 49, s1 (21.08.1993): c327—c328. http://dx.doi.org/10.1107/s010876737809087x.
Der volle Inhalt der QuelleRamirez, Daniel, Gonzalo Riveros, Patricia Díaz, Martin Faundez, Enrique Dalchiele, Ricardo Marotti, Daniel Gau, Carina Cabrera und Rodrigo Wittwer. „On the Scope of the Oxygen Plasma Treatment on FTO Electrodes for Electrochemical Processes“. ECS Meeting Abstracts MA2023-02, Nr. 16 (22.12.2023): 1173. http://dx.doi.org/10.1149/ma2023-02161173mtgabs.
Der volle Inhalt der QuelleBagde, G. D., C. T. Londhe und A. G. Bagde. „Morphological Studies on Spray Deposited Lanthanum Sulphide (La2S3) Thin Films“. Key Engineering Materials 705 (August 2016): 283–88. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.705.283.
Der volle Inhalt der QuelleSharma, M. D., und A. Bhargava. „Photocurrent Measurements in Cadmium Sulphide Thin Films“. International Journal of Scientific and Research Publications (IJSRP) 11, Nr. 1 (24.12.2020): 641–44. http://dx.doi.org/10.29322/ijsrp.11.01.2021.p10977.
Der volle Inhalt der QuelleLal, Pyare. „Trap diagnostic of thin cadmium sulphide films“. Thin Solid Films 146, Nr. 2 (Januar 1987): 139–43. http://dx.doi.org/10.1016/0040-6090(87)90215-x.
Der volle Inhalt der QuelleMahalingam, T., und C. Sanjeeviraja. „Characterization of Electrodeposited Zinc Sulphide Thin Films“. Physica Status Solidi (a) 129, Nr. 2 (16.02.1992): K89—K92. http://dx.doi.org/10.1002/pssa.2211290232.
Der volle Inhalt der QuelleDhumure, S. S., und C. D. Lokhande. „Solution growth of silver sulphide thin films“. Materials Chemistry and Physics 27, Nr. 3 (März 1991): 321–24. http://dx.doi.org/10.1016/0254-0584(91)90128-h.
Der volle Inhalt der QuelleKamli, Kenza, Zakaria Hadef, Baghdadi Chouial, Beddiaf Zaidi, Bouzid Hadjoudja und Allaoua Chibani. „Synthesis and characterisation of tin sulphide thin films“. Surface Engineering 33, Nr. 8 (30.01.2017): 567–72. http://dx.doi.org/10.1080/02670844.2016.1271593.
Der volle Inhalt der QuelleRumyantsev, Yu M., N. I. Fainer, M. L. Kosinova, B. M. Ayupov und N. P. Sysoeva. „RPECVD thin cadmium, copper and zinc sulphide films“. Le Journal de Physique IV 09, PR8 (September 1999): Pr8–777—Pr8–784. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1999898.
Der volle Inhalt der QuelleOtto, K., A. Katerski, A. Mere, O. Volobujeva und M. Krunks. „Spray pyrolysis deposition of indium sulphide thin films“. Thin Solid Films 519, Nr. 10 (März 2011): 3055–60. http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2010.12.027.
Der volle Inhalt der QuelleOmeiri, S., B. Hadjarab und M. Trari. „Photoelectrochemical properties of anodic silver sulphide thin films“. Thin Solid Films 519, Nr. 13 (April 2011): 4277–81. http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2011.02.001.
Der volle Inhalt der QuelleAricò, A. S., V. Antonucci, P. L. Antonucci, E. Modica, S. Ferrara und N. Giordano. „Electrodeposition and characterization of iron sulphide thin films“. Materials Letters 13, Nr. 1 (Februar 1992): 12–17. http://dx.doi.org/10.1016/0167-577x(92)90169-k.
Der volle Inhalt der QuelleRistov, M., Gj Sinadinovski, I. Grozdanov und M. Mitreski. „Chemical deposition of TIN(II) sulphide thin films“. Thin Solid Films 173, Nr. 1 (Juni 1989): 53–58. http://dx.doi.org/10.1016/0040-6090(89)90536-1.
Der volle Inhalt der QuelleReddy, N. Koteeswara, und K. T. Ramakrishna Reddy. „Optical behaviour of sprayed tin sulphide thin films“. Materials Research Bulletin 41, Nr. 2 (Februar 2006): 414–22. http://dx.doi.org/10.1016/j.materresbull.2005.08.001.
Der volle Inhalt der QuelleKaranjai, Malay K., und D. Dasgupta. „Cadmium sulphide thin films by the dip technique“. Materials Letters 4, Nr. 8-9 (August 1986): 368–69. http://dx.doi.org/10.1016/0167-577x(86)90072-8.
Der volle Inhalt der QuelleNair, M. T. S., und P. K. Nair. „Photoconductive bismuth sulphide thin films by chemical deposition“. Semiconductor Science and Technology 5, Nr. 12 (01.12.1990): 1225–30. http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/5/12/014.
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