Bücher zum Thema „Metrology of electromagnetism“
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G, Bradford Ann, und National Institute of Standards and Technology (U.S.), Hrsg. Metrology for electromagnetic technology: A bibliography of NIST publications. Washington, DC: U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1997.
Den vollen Inhalt der Quelle findenInternational Symposium on Electromagnetic Metrology (1989 Beijing, China). Electromagnetic metrology: Proceedings of International Symposium on Electromagnetic Metrology, ISEM '89, August 19-22, 1989, Beijing, China. Beijing: International Academic Publishers, 1989.
Den vollen Inhalt der Quelle findenMotohisa, Kanda, und United States. National Bureau of Standards, Hrsg. Electromagnetic compatibility and interference metrology: M.T. Ma, M. Kanda. Gaithersburg, Md: National Bureau of Standards, 1986.
Den vollen Inhalt der Quelle findenE, DeWeese Mary, und National Institute of Standards and Technology (U.S.), Hrsg. Metrology for electromagnetic technology: A bibliography of NIST publications. Boulder, Colo: U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, 1991.
Den vollen Inhalt der Quelle findenE, Bailey A., und International Union of Radio Science., Hrsg. URSI register of national standards laboratories for electromagnetic metrology. Bristol: A. Hilger, 1990.
Den vollen Inhalt der Quelle findenE, DeWeese Mary, und United States. National Bureau of Standards, Hrsg. Metrology for electromagnetic technology: A bibliography of NBS publications. Boulder, Colo: U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, 1988.
Den vollen Inhalt der Quelle findenM, Butler Chalmers, und National Institute of Standards and Technology (U.S.), Hrsg. EMI/EMC metrology challenges for industry: A workshop on measurements, standards, calibrations, and accreditation. Boulder, Colo: U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1997.
Den vollen Inhalt der Quelle findenNational Institute of Standards and Technology (U.S.), Hrsg. METROLOGY FOR ELECTROMAGNETIC TECHNOLOGY: A BIBLIOGRAPHY OF NIST PUBLICATIONS... NIST 5064 ... U.S. DEPARTMENT OF COMMERCE... 1997. [S.l: s.n., 1998.
Den vollen Inhalt der Quelle findenElectromagnetic compatibility and interference metrology. Gaithersburg, Md: National Bureau of Standards, 1986.
Den vollen Inhalt der Quelle findenBeijing, China) International Symposium on Electromagnetic Metrology (1989 :. Electromagnetic Metrology: Proceedings of International Symposium on Electromagnetic Metrology, Isem '89, August 19-22, 1989 Beijing, China. International Academic Publishers, 1990.
Den vollen Inhalt der Quelle findenBeijing, China) International Symposium on Electromagnetic Metrology (1989 :. Electromagnetic Metrology: Proceedings of International Symposium on Electromagnetic Metrology, Isem '89, August 19-22, 1989 Beijing, China. International Academic Publishers, 1990.
Den vollen Inhalt der Quelle findenMetrology for electromagnetic technology: A bibliography of NIST publications. Boulder, Colo: U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards, 1989.
Den vollen Inhalt der Quelle findenMetrology for electromagnetic technology: A bibliography of NBS publications. [Washington, D.C.]: U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, 1987.
Den vollen Inhalt der Quelle findenBuchwald, Jed Z., und Robert Fox, Hrsg. The Oxford Handbook of the History of Physics. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199696253.001.0001.
Der volle Inhalt der QuelleHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet und Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
Den vollen Inhalt der Quelle findenHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet und Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
Den vollen Inhalt der Quelle findenHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet und Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
Den vollen Inhalt der Quelle findenHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet und Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
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