Zeitschriftenartikel zum Thema „Metallized film capacitor“
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Jia Zhanqiang, 贾占强, 蔡金燕 Cai Jinyan, 梁玉英 Liang Yuying und 韩春辉 Han Chunhui. „Reliability assessment of metallized film pulse capacitor“. High Power Laser and Particle Beams 23, Nr. 1 (2011): 272–76. http://dx.doi.org/10.3788/hplpb20112301.0272.
Der volle Inhalt der QuelleVuillermet, Y., O. Chadebec, J. M. Lupin, A. Saker, G. Meunier und J. L. Coulomb. „Optimization of Low-Voltage Metallized Film Capacitor Geometry“. IEEE Transactions on Magnetics 43, Nr. 4 (April 2007): 1569–72. http://dx.doi.org/10.1109/tmag.2007.892473.
Der volle Inhalt der QuelleHo, Janet, T. Jow und Steven Boggs. „Implications of advanced capacitor dielectrics for performance of metallized film capacitor windings“. IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 15, Nr. 6 (Dezember 2008): 1754–60. http://dx.doi.org/10.1109/tdei.2008.4712681.
Der volle Inhalt der QuelleDu, Guoqiang, und Jie Zhang. „Capacitance Evaluation of Metallized Polypropylene Film Capacitors Considering Cumulative Self-Healing Damage“. Electronics 13, Nr. 14 (22.07.2024): 2886. http://dx.doi.org/10.3390/electronics13142886.
Der volle Inhalt der QuelleLi Hua, Lin Fuchang, Zhong Heqing, Dai Ling, Han Yongxia und Kong Zhonghua. „Study on Metallized Film Capacitor and Its Voltage Maintaining Performance“. IEEE Transactions on Magnetics 45, Nr. 1 (Januar 2009): 327–30. http://dx.doi.org/10.1109/tmag.2008.2008863.
Der volle Inhalt der QuelleChen Yaohong, 陈耀红, 章妙 Zhang Miao, 李化 Li Hua, 林福昌 Lin Fuchang, 李智威 Li Zhiwei, 吕霏 Lü Fei und 刘德 Liu De. „Insulation resistance characteristics of metallized film capacitor under high electric field“. High Power Laser and Particle Beams 24, Nr. 4 (2012): 797–800. http://dx.doi.org/10.3788/hplpb20122404.0797.
Der volle Inhalt der QuelleKong, M. G., und Y. P. Lee. „Impact of surface discharge plasmas on performance of a metallized film capacitor“. Journal of Applied Physics 90, Nr. 6 (15.09.2001): 3069–78. http://dx.doi.org/10.1063/1.1389072.
Der volle Inhalt der QuelleLi, Hua, Yaohong Chen, Fuchang Lin, Bo Peng, Fei Lv, Miao Zhang und Zhiwei Li. „The capacitance loss mechanism of metallized film capacitor under pulsed discharge condition“. IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 18, Nr. 6 (Dezember 2011): 2089–94. http://dx.doi.org/10.1109/tdei.2011.6118648.
Der volle Inhalt der QuelleDai, Xiying, Zhaoliang Xing, Wei Yang, Chong Zhang, Fei Li, Xin Chen, Chen Li, Jianjun Zhou und Lin Li. „The Effect of Annealing on the Structure and Electric Performance of Polypropylene Films“. International Journal of Polymer Science 2022 (08.11.2022): 1–12. http://dx.doi.org/10.1155/2022/5970484.
Der volle Inhalt der QuelleYoon, Jung-Rag, Young-Kwang Kim, Serk-Won Lee und Heun-Young Lee. „The Design and Reliability Evaluation of Metallized Film Capacitor for Power Electronic Applications“. Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 24, Nr. 5 (01.05.2011): 381–86. http://dx.doi.org/10.4313/jkem.2011.24.5.381.
Der volle Inhalt der QuellePeng, Bao Hua, J. L. Zhou und Jing Feng. „Product Reliability Assessment Method Combining Degradation Data and Lifetime Data“. Advanced Materials Research 44-46 (Juni 2008): 795–802. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.44-46.795.
Der volle Inhalt der QuelleTai, Yunxiao, Pengqi Chen, Yang Jian, Qingqing Fang, Dang Xu und Jigui Cheng. „Failure mechanism and life estimate of metallized film capacitor under high temperature and humidity“. Microelectronics Reliability 137 (Oktober 2022): 114755. http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2022.114755.
Der volle Inhalt der QuelleZhang, Yong-Xin, Qi-Kun Feng, Shao-Long Zhong, Jia-Yao Pei, Fang-Yi Chen, Guan-Nan He und Zhi-Min Dang. „Digital twin accelerating development of metallized film capacitor: Key issues, framework design and prospects“. Energy Reports 7 (November 2021): 7704–15. http://dx.doi.org/10.1016/j.egyr.2021.10.116.
Der volle Inhalt der QuelleLv, Chunlin, Jinjun Liu, Yan Zhang, Wanjun Lei und Rui Cao. „An improved lifetime prediction method for metallized film capacitor considering harmonics and degradation process“. Microelectronics Reliability 114 (November 2020): 113892. http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2020.113892.
Der volle Inhalt der QuelleQi, Xiaoguang, und Steven Boggs. „Electrothermal failure of metallized film capacitor end connections–computation of temperature rise at connection spots“. Journal of Applied Physics 94, Nr. 7 (Oktober 2003): 4449–56. http://dx.doi.org/10.1063/1.1602947.
Der volle Inhalt der QuelleChen, Yaohong, Hua Li, Fuchang Lin, Fei Lv, Miao Zhang, Zhiwei Li und De Liu. „Study on Self-Healing and Lifetime Characteristics of Metallized-Film Capacitor Under High Electric Field“. IEEE Transactions on Plasma Science 40, Nr. 8 (August 2012): 2014–19. http://dx.doi.org/10.1109/tps.2012.2200699.
Der volle Inhalt der QuelleH. Lean, Meng, und Wei-Ping L. Chu. „Simulation of charge packet formation in layered polymer film“. COMPEL: The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering 33, Nr. 4 (01.07.2014): 1396–415. http://dx.doi.org/10.1108/compel-09-2013-0291.
Der volle Inhalt der QuelleQi, Xiaoguang, und Steven Boggs. „Transient finite element computation of the temperature rise in metallized film capacitor end connections caused by underdamped discharge“. IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 15, Nr. 1 (2008): 277–83. http://dx.doi.org/10.1109/t-dei.2008.4446761.
Der volle Inhalt der QuelleDonhowe, Mark, Jeff Lawler, Sean Souffie und E. Lee Stein. „250°C Operating Temperature Dielectric Film Capacitors“. Additional Conferences (Device Packaging, HiTEC, HiTEN, and CICMT) 2011, HITEN (01.01.2011): 000201–6. http://dx.doi.org/10.4071/hiten-paper2-mdonhowe.
Der volle Inhalt der QuelleRevenok, T. V., V. V. Sleptsov und A. O. Diteleva. „Research of electrode materials for the creation of multifunctional current sources with increased capacity as a components of the energy sector of an efficient urban environment“. Construction Materials, Nr. 9 (09.10.2024): 63–69. http://dx.doi.org/10.31659/0585-430x-2024-828-9-63-69.
Der volle Inhalt der QuelleRytöluoto, Ilkka, Minna Niittymäki, Paolo Seri, Hadi Naderiallaf, Kari Lahti, Eetta Saarimäki, Timo Flyktman und Mika Paajanen. „Biaxially oriented silica–polypropylene nanocomposites for HVDC film capacitors: morphology-dielectric property relationships, and critical evaluation of the current progress and limitations“. Journal of Materials Chemistry A 10, Nr. 6 (2022): 3025–43. http://dx.doi.org/10.1039/d1ta10336a.
Der volle Inhalt der QuelleLi Hua, 李化, 陈耀红 Chen Yaohong, 林福昌 Lin Fuchang und 彭波 Peng Bo. „Lifetime characteristics of metallized film pulsed capacitors“. High Power Laser and Particle Beams 22, Nr. 4 (2010): 773–76. http://dx.doi.org/10.3788/hplpb20102204.0773.
Der volle Inhalt der QuelleJoubert, Ch, A. Béroual und G. Rojat. „Asymmetrical current distribution in metallized film capacitors“. Journal of Applied Physics 95, Nr. 11 (Juni 2004): 6420–25. http://dx.doi.org/10.1063/1.1712009.
Der volle Inhalt der QuelleOstrowski, Jörg, Ralf Hiptmair und Henning Fuhrmann. „Electric 3D‐simulation of metallized film capacitors“. COMPEL - The international journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering 26, Nr. 2 (10.04.2007): 524–43. http://dx.doi.org/10.1108/03321640710727836.
Der volle Inhalt der QuelleBelko, Victor, Ivan Ivanov, Andrey Plotnikov und Valery Belanov. „Energy characteristics of self-healing process in metallized film capacitors“. E3S Web of Conferences 140 (2019): 02006. http://dx.doi.org/10.1051/e3sconf/201914002006.
Der volle Inhalt der QuelleSilvus, Stan, und Kenneth Cook. „Useful Technique for Analysis of Fluid-Filled Capacitors“. EDFA Technical Articles 9, Nr. 2 (01.05.2007): 6–12. http://dx.doi.org/10.31399/asm.edfa.2007-2.p006.
Der volle Inhalt der QuelleKong, M. G., und Y. P. Lee. „Electrically induced heat dissipation in metallized film capacitors“. IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 11, Nr. 6 (Dezember 2004): 1007–13. http://dx.doi.org/10.1109/tdei.2004.1387824.
Der volle Inhalt der QuelleTortai, J. H., A. Denat und N. Bonifaci. „Self-healing of capacitors with metallized film technology:“. Journal of Electrostatics 53, Nr. 2 (August 2001): 159–69. http://dx.doi.org/10.1016/s0304-3886(01)00138-3.
Der volle Inhalt der QuelleGodec, M., Dj Mandrino und M. Gaberšček. „Investigation of performance degradation in metallized film capacitors“. Applied Surface Science 273 (Mai 2013): 465–71. http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2013.02.063.
Der volle Inhalt der QuelleKim, Namhun, Changju Park, Sangshin Kwak und Jeihoon Baek. „Experimental Comparisons and Evaluations of Different Types of DC-link Capacitors for VSI-Based Electric Compressors in Battery Electric Vehicle Systems“. Electronics 9, Nr. 8 (08.08.2020): 1276. http://dx.doi.org/10.3390/electronics9081276.
Der volle Inhalt der QuelleKong, Zhong Hua, Li Gang Wu, Chun Ya Tong und Zai Fei Luo. „Calculation of Self-Healing Contract Resistance of Metallized Film“. Applied Mechanics and Materials 615 (August 2014): 236–39. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.615.236.
Der volle Inhalt der QuellePicci, G., und M. Rabuffi. „Pulse handling capability of energy storage metallized film capacitors“. IEEE Transactions on Plasma Science 28, Nr. 5 (2000): 1603–6. http://dx.doi.org/10.1109/27.901241.
Der volle Inhalt der QuelleBelko, Victor, Dmitry Glivenko, Oleg Emelyanov, Ivan Ivanov und Andrey Plotnikov. „Current Pulse Polarity Effect on Metallized Film Capacitors Failure“. IEEE Transactions on Plasma Science 45, Nr. 6 (Juni 2017): 1020–25. http://dx.doi.org/10.1109/tps.2017.2703947.
Der volle Inhalt der QuelleLi, Zhiwei, Hua Li, Fuchang Lin, Yaohong Chen, De Liu, Bowen Wang, Haoyuan Li und Qin Zhang. „Lifetime investigation and prediction of metallized polypropylene film capacitors“. Microelectronics Reliability 53, Nr. 12 (Dezember 2013): 1962–67. http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2013.06.005.
Der volle Inhalt der QuelleNa, J. G. „New method to predict corrosion characteristics of Zn‐metallized thin films for film capacitors“. Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 13, Nr. 6 (November 1995): 2739–41. http://dx.doi.org/10.1116/1.579697.
Der volle Inhalt der QuelleXiao, Meng, Mengdie Zhang, Haoliang Liu, Boxue Du und Yawei Qin. „Dielectric Property and Breakdown Strength Performance of Long-Chain Branched Polypropylene for Metallized Film Capacitors“. Materials 15, Nr. 9 (23.04.2022): 3071. http://dx.doi.org/10.3390/ma15093071.
Der volle Inhalt der QuelleWang Wenjuan, 王文娟, 李化 Li Hua, 李智威 Li Zhiwei, 童勇 Tong Yong und 林福昌 Lin Fuchang. „Lifetime improvement of metallized film capacitors by inner pressure strengthening“. High Power Laser and Particle Beams 26, Nr. 4 (2014): 45015. http://dx.doi.org/10.3788/hplpb20142604.45015.
Der volle Inhalt der QuelleBelko, Victor O., Oleg A. Emelyanov, Ivan O. Ivanov, Andrey P. Plotnikov und Efrem G. Feklistov. „Application of Numerical Simulation for Metallized Film Capacitors Electrodes Design“. IEEE Access 9 (2021): 80945–52. http://dx.doi.org/10.1109/access.2021.3085695.
Der volle Inhalt der QuelleBelko, V. O., D. Y. Glivenko, O. A. Emelyanov und I. O. Ivanov. „INVESTIGATION OF DEGRADATION IN ELECTRODE CONTACTS OF METALLIZED FILM CAPACITORS“. St. Petersburg State Polytechnical University Journal 254, Nr. 4 (Februar 2017): 69–76. http://dx.doi.org/10.5862/jest.254.8.
Der volle Inhalt der QuelleLi, Hua, Wenjuan Wang, Zhiwei Li, Haoyuan Li, Bowen Wang, Fuchang Lin und Zhijian Xu. „Polarization characteristics of metallized polypropylene film capacitors at different temperatures“. IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 22, Nr. 2 (April 2015): 682–88. http://dx.doi.org/10.1109/tdei.2015.7076763.
Der volle Inhalt der QuelleZhao, Jianyin, und Fang Liu. „Reliability assessment of the metallized film capacitors from degradation data“. Microelectronics Reliability 47, Nr. 2-3 (Februar 2007): 434–36. http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2006.05.013.
Der volle Inhalt der QuelleMcCluskey, F. P., N. M. Li und E. Mengotti. „Eliminating infant mortality in metallized film capacitors by defect detection“. Microelectronics Reliability 54, Nr. 9-10 (September 2014): 1818–22. http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2014.07.090.
Der volle Inhalt der QuelleMakdessi, M., A. Sari und P. Venet. „Metallized polymer film capacitors ageing law based on capacitance degradation“. Microelectronics Reliability 54, Nr. 9-10 (September 2014): 1823–27. http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2014.07.103.
Der volle Inhalt der QuelleValentine, Nathan, Michael H. Azarian und Michael Pecht. „Metallized film capacitors used for EMI filtering: A reliability review“. Microelectronics Reliability 92 (Januar 2019): 123–35. http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2018.11.003.
Der volle Inhalt der QuelleEl-Husseini, M. H., P. Venet, G. Rojat und C. Joubert. „Thermal simulation for geometric optimization of metallized polypropylene film capacitors“. IEEE Transactions on Industry Applications 38, Nr. 3 (Mai 2002): 713–18. http://dx.doi.org/10.1109/tia.2002.1003421.
Der volle Inhalt der QuelleLi, Zhiwei, Hua Li, Fuchang Lin, Yaohong Chen, De Liu, Bowen Wang, Qin Zhang und Wei He. „Lifetime Prediction of Metallized Film Capacitors Based on Capacitance Loss“. IEEE Transactions on Plasma Science 41, Nr. 5 (Mai 2013): 1313–18. http://dx.doi.org/10.1109/tps.2013.2243476.
Der volle Inhalt der QuelleLi, Zhiwei, Hua Li, Fuchang Lin, De Liu, Bowen Wang, Ling Dai, Haoyuan Li, Qin Zhang und Yaohong Chen. „Lifetime Improvement of Metallized Film Capacitors by Inner Pressure Strengthening“. IEEE Transactions on Plasma Science 41, Nr. 10 (Oktober 2013): 3063–68. http://dx.doi.org/10.1109/tps.2013.2279140.
Der volle Inhalt der QuelleLi, Zhiwei, Hua Li, Xiang Huang, Haoyuan Li, Wenjuan Wang, Bowen Wang, Fuchang Lin und Qin Zhang. „Temperature Rise of Metallized Film Capacitors in Repetitive Pulse Applications“. IEEE Transactions on Plasma Science 43, Nr. 6 (Juni 2015): 2038–45. http://dx.doi.org/10.1109/tps.2015.2429144.
Der volle Inhalt der QuelleGreenbank, William, und Thomas Ebel. „Layer-by-layer printable nano-scale polypropylene for precise control of nanocomposite capacitor dielectric morphologies in metallised film capacitors“. Power Electronic Devices and Components 4 (März 2023): 100025. http://dx.doi.org/10.1016/j.pedc.2022.100025.
Der volle Inhalt der QuelleLi Hua, 李化, 李智威 Li Zhiwei, 王国帅 Wang Guoshuai, 林福昌 Lin Fuchang, 刘德 Liu De, 王博闻 Wang Bowen, 李浩原 Li Haoyuan und 张钦 Zhang Qin. „Lifetime prediction of metallized polypropylene film capacitors in pulsed power applications“. High Power Laser and Particle Beams 26, Nr. 4 (2014): 45016. http://dx.doi.org/10.3788/hplpb20142604.45016.
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