Zeitschriftenartikel zum Thema „Grid sample preparation“
Geben Sie eine Quelle nach APA, MLA, Chicago, Harvard und anderen Zitierweisen an
Machen Sie sich mit Top-50 Zeitschriftenartikel für die Forschung zum Thema "Grid sample preparation" bekannt.
Neben jedem Werk im Literaturverzeichnis ist die Option "Zur Bibliographie hinzufügen" verfügbar. Nutzen Sie sie, wird Ihre bibliographische Angabe des gewählten Werkes nach der nötigen Zitierweise (APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver usw.) automatisch gestaltet.
Sie können auch den vollen Text der wissenschaftlichen Publikation im PDF-Format herunterladen und eine Online-Annotation der Arbeit lesen, wenn die relevanten Parameter in den Metadaten verfügbar sind.
Sehen Sie die Zeitschriftenartikel für verschiedene Spezialgebieten durch und erstellen Sie Ihre Bibliographie auf korrekte Weise.
Hauser, Janosch, Gustaf Kylberg, Mathieu Colomb-Delsuc, Göran Stemme, Ida-Maria Sintorn und Niclas Roxhed. „A microfluidic device for TEM sample preparation“. Lab on a Chip 20, Nr. 22 (2020): 4186–93. http://dx.doi.org/10.1039/d0lc00724b.
Der volle Inhalt der QuelleKlebl, David P., Diana C. F. Monteiro, Dimitrios Kontziampasis, Florian Kopf, Frank Sobott, Howard D. White, Martin Trebbin und Stephen P. Muench. „Sample deposition onto cryo-EM grids: from sprays to jets and back“. Acta Crystallographica Section D Structural Biology 76, Nr. 4 (25.03.2020): 340–49. http://dx.doi.org/10.1107/s2059798320002958.
Der volle Inhalt der QuelleBasham, P. B., und H. L. Tsai. „Advanced TEM sample preparation techniques for submicron Si devices“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13.08.1995): 516–17. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100138956.
Der volle Inhalt der QuelleVinson, Phillip K. „The preparation and study of a holey polymer film“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 45 (August 1987): 644–45. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100127657.
Der volle Inhalt der QuelleTan, Yong Zi, und John L. Rubinstein. „Through-grid wicking enables high-speed cryoEM specimen preparation“. Acta Crystallographica Section D Structural Biology 76, Nr. 11 (13.10.2020): 1092–103. http://dx.doi.org/10.1107/s2059798320012474.
Der volle Inhalt der QuelleDrulyte, Ieva, Rachel M. Johnson, Emma L. Hesketh, Daniel L. Hurdiss, Charlotte A. Scarff, Sebastian A. Porav, Neil A. Ranson, Stephen P. Muench und Rebecca F. Thompson. „Approaches to altering particle distributions in cryo-electron microscopy sample preparation“. Acta Crystallographica Section D Structural Biology 74, Nr. 6 (18.05.2018): 560–71. http://dx.doi.org/10.1107/s2059798318006496.
Der volle Inhalt der QuelleMulligan, Sėan K., Jeffrey A. Speir, Ivan Razinkov, Anchi Cheng, John Crum, Tilak Jain, Erika Duggan et al. „Multiplexed TEM Specimen Preparation and Analysis of Plasmonic Nanoparticles“. Microscopy and Microanalysis 21, Nr. 4 (30.07.2015): 1017–25. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927615014324.
Der volle Inhalt der QuelleRubinstein, John L., Hui Guo, Zev A. Ripstein, Ali Haydaroglu, Aaron Au, Christopher M. Yip, Justin M. Di Trani, Samir Benlekbir und Timothy Kwok. „Shake-it-off: a simple ultrasonic cryo-EM specimen-preparation device“. Acta Crystallographica Section D Structural Biology 75, Nr. 12 (22.11.2019): 1063–70. http://dx.doi.org/10.1107/s2059798319014372.
Der volle Inhalt der QuelleAshtiani, Dariush, Alex de Marco und Adrian Neild. „Tailoring surface acoustic wave atomisation for cryo-electron microscopy sample preparation“. Lab on a Chip 19, Nr. 8 (2019): 1378–85. http://dx.doi.org/10.1039/c8lc01347k.
Der volle Inhalt der QuelleWalker, John F. „TEM Sample Preparation for the Semiconductor Industry — Part 3“. Microscopy Today 4, Nr. 6 (August 1996): 24–25. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500060879.
Der volle Inhalt der QuelleLi, Du, Rose Zhou und Rob Zanoya. „Cross-Sectional Transmission Electron Microscopy Sample Preparation Using Focus Ion Beam Machine and Wedge Technique“. Microscopy and Microanalysis 5, S2 (August 1999): 894–95. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600017797.
Der volle Inhalt der QuelleWei, Hui, Venkat Dandey, Zhening Zhang, Ashleigh Raczkowski, Bridget Carragher und Clinton S. Potter. „Self-Blotting Nanowire Grids for Cryo-EM Sample Preparation“. Microscopy and Microanalysis 23, S1 (Juli 2017): 848–49. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927617004901.
Der volle Inhalt der QuelleWang, Feng, Yanxin Liu, Zanlin Yu, Sam Li, Shengjie Feng, Yifan Cheng und David A. Agard. „General and robust covalently linked graphene oxide affinity grids for high-resolution cryo-EM“. Proceedings of the National Academy of Sciences 117, Nr. 39 (10.09.2020): 24269–73. http://dx.doi.org/10.1073/pnas.2009707117.
Der volle Inhalt der QuelleWalker, John F., James K. Odum und Peter D. Carleson. „Perfect TEM Membranes by focused ion beams: A stress reduction technique“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 54 (11.08.1996): 1030–31. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100167615.
Der volle Inhalt der QuelleHassander, Helen. „Preparation Methods for EM Studies of Polymers“. Microscopy Today 20, Nr. 2 (28.02.2012): 46–49. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929512000041.
Der volle Inhalt der QuelleRai, R. S., S. Bagchi, L. Duncan, L. Prabhu, J. Beck und J. Conner. „A Method for Preparation of Site-Specific Multiple Samples of Semiconductor Material for Transmission Electron Microscopy“. Microscopy and Microanalysis 7, S2 (August 2001): 948–49. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600030816.
Der volle Inhalt der QuelleRoussie, James. „New Ultra-Thin Pure Silicon Window Grids for Transmission Electron Microscopy Samples“. Microscopy Today 17, Nr. 2 (März 2009): 46–47. http://dx.doi.org/10.1017/s155192950005450x.
Der volle Inhalt der QuelleRoussel, Laurent. „Low-Energy Focused Ion Beam Milling Provides Reduced Damage During TEM Sample Preparation“. Microscopy Today 17, Nr. 5 (September 2009): 40–45. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929509000364.
Der volle Inhalt der QuelleTaubert, Andreas, James H. Ferris und Karen I. Winey. „Rapid Preparation of a Polymer Fiber and a Free-Standing Polymer Film for Cross-Sectional Microtomy“. Microscopy Today 11, Nr. 4 (August 2003): 36–39. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500053062.
Der volle Inhalt der QuelleChestnut, H., D. P. Siegel, J. L. Burns und Y. Talmon. „A temperature-jump technique for time-resolved cryo-transmission Electron Microscopy“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (06.08.1989): 742–43. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100155682.
Der volle Inhalt der QuelleGuglielmo, V., R. Saglia, F. J. Castander, A. Galametz, S. Paltani, R. Bender, M. Bolzonella et al. „Euclid preparation“. Astronomy & Astrophysics 642 (Oktober 2020): A192. http://dx.doi.org/10.1051/0004-6361/202038334.
Der volle Inhalt der QuelleKunze, F., S. Kuns, T. Hülser, H. Wiggers und S. M. Schnurre. „Thermophoretic particle sampling on a TEM grid: A new design for sample preparation with high spatial accuracy“. Chemie Ingenieur Technik 92, Nr. 9 (28.08.2020): 1330. http://dx.doi.org/10.1002/cite.202055256.
Der volle Inhalt der QuelleFejeran, Adella, Jesus Polanco, Gabriel Lander, Teddy Ajero, Bridget Carragher und Clinton S. Potter. „TEM of Bacteriophages Found in Marine Sources“. Microscopy Today 15, Nr. 6 (November 2007): 28–31. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500061939.
Der volle Inhalt der QuelleWilson, D., R. Valluzzi, T. Vuong, S.-J. Chien, S. P. Gido und D. Kaplan. „Solid State Conformational Transitions In Peptides Modeling B. Mori Fibroin“. Microscopy and Microanalysis 5, S2 (August 1999): 1216–17. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600019401.
Der volle Inhalt der QuelleFrankel, Cynthia L., und Aileen L. Fink. „Disaster Preparation Planning: In Industry“. AAOHN Journal 35, Nr. 1 (Januar 1987): 32–40. http://dx.doi.org/10.1177/216507998703500106.
Der volle Inhalt der QuelleUltee, Eveline, Fred Schenkel, Wen Yang, Susanne Brenzinger, Jamie S. Depelteau und Ariane Briegel. „An Open-Source Storage Solution for Cryo-Electron Microscopy Samples“. Microscopy and Microanalysis 24, Nr. 1 (18.01.2018): 60–63. http://dx.doi.org/10.1017/s143192761701279x.
Der volle Inhalt der QuelleNagahama, Hideo De Jesus, Jorge Wilson Cortez, Wisy Alves Pimenta, Antonio Pereira Patrocinio Filho und Elder Barboza de Souza. „Resistência do solo à penetração em sistemas de preparo e velocidades de deslocamento do trator“. Comunicata Scientiae 7, Nr. 1 (10.05.2016): 56. http://dx.doi.org/10.14295/cs.v7i1.439.
Der volle Inhalt der QuelleKim, Yeong K., und Do Soon Hwang. „Analyses of PBGA Packaging under Strong Vibration“. International Symposium on Microelectronics 2014, Nr. 1 (01.10.2014): 000488–92. http://dx.doi.org/10.4071/isom-wa44.
Der volle Inhalt der QuelleStevie, F. A., C. B. Vartuli, R. H. Mills, R. B. Irwin, T. L. Shofner und L. A. Giannuzzi. „The FIB Lift-Out Specimen Preparation Technique for TEM Analyses and Beyond: SEM, AUGER, STEM, and SIMS Applications“. Microscopy and Microanalysis 5, S2 (August 1999): 888–89. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600017761.
Der volle Inhalt der QuelleGiannuzzi, Lucille A., Richard Young und Pete Carleson. „Using a Focused Ion Beam (FIB) System to Extract TEM-Ready Samples from Complex Metallic and Ceramic Structures“. Microscopy Today 7, Nr. 2 (März 1999): 12–15. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500063860.
Der volle Inhalt der QuelleTalmon, Y., J. L. Burns, M. H. Chestnut und D. P. Siegel. „On-the-Grid Processing and Time-Resolved Cryo-TEM: The Extension of the Thin Liquid Film Vitrification Method“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, Nr. 1 (12.08.1990): 490–91. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100181208.
Der volle Inhalt der QuelleRossie, B. B., T. L. Shofner, S. R. Brown, S. D. Anderson, M. M. Jamison und F. A. Stevie. „A Method for Thinning FIB Prepared TEM Specimens after Lift-Out“. Microscopy and Microanalysis 7, S2 (August 2001): 940–41. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600030774.
Der volle Inhalt der QuelleSon, Won-Su, Tae Jun Yoon, Hee Jeong Park, Minsoo Kim, Tadafumi Adschiri und Youn-Woo Lee. „A novel sample preparation method on CeO2 nanoparticles with TEM grid embedded liquid CO2 displacement and supercritical CO2 drying for microscopic analysis“. Journal of Supercritical Fluids 152 (Oktober 2019): 104559. http://dx.doi.org/10.1016/j.supflu.2019.104559.
Der volle Inhalt der QuelleXu, Youren, Chris Schwappach und Ron Cervantes. „Precision TEM Specimen Preparation for Integrated Circuits using Dual-Beam FIB Lift-Out Technique“. Microscopy and Microanalysis 6, S2 (August 2000): 516–17. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600035078.
Der volle Inhalt der QuelleBovin, J. O., T. Huber, O. Balmes, J. O. Malm und G. Karlsson. „Jump Ratio Elemental Mapping in Amorphous Ice Cryo-EFTEM Opens the Window to Solution Chemistry“. Microscopy and Microanalysis 5, S2 (August 1999): 644–45. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600016548.
Der volle Inhalt der QuelleIlginis, Arminas, und Egidijus Griškonis. „Modification of Graphite Felt with Lead (II) Formate and Acetate—An Approach for Preparation of Lightweight Electrodes for a Lead-Acid Battery“. Processes 8, Nr. 10 (02.10.2020): 1248. http://dx.doi.org/10.3390/pr8101248.
Der volle Inhalt der QuelleSHARPE, A. N., E. M. HEARN und J. KOVACS-NOLAN. „Comparison of Membrane Filtration Rates and Hydrophobic Grid Membrane Filter Coliform and Escherichia coli Counts in Food Suspensions Using Paddle-Type and Pulsifier Sample Preparation Procedures“. Journal of Food Protection 63, Nr. 1 (01.01.2000): 126–30. http://dx.doi.org/10.4315/0362-028x-63.1.126.
Der volle Inhalt der QuelleFelsmann, Michael, und Max T. Otten. „Automated asbestos analysis with Philips CM microscopes“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994): 512–13. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100170293.
Der volle Inhalt der QuelleBalmes, O., und J. O. Bovin. „Cryo-TEM Observation of 3-D Ordered Aggregates of 5-nm Gold Clusters in Solutions“. Microscopy and Microanalysis 7, S2 (August 2001): 396–97. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600028051.
Der volle Inhalt der QuelleBalzuweit, Karla, Thais MIlagres, Von Braun Nascimento, Vagner de Carvalho, Edmar Soares und Luiz Ladeira. „LEED and TEM analysis of Bismuth Telluride“. Acta Crystallographica Section A Foundations and Advances 70, a1 (05.08.2014): C194. http://dx.doi.org/10.1107/s2053273314098052.
Der volle Inhalt der QuelleWang, Haiyan. „Rapid Methods for Detection and Enumeration of Campylobacter spp. in Foods“. Journal of AOAC INTERNATIONAL 85, Nr. 4 (01.07.2002): 996–99. http://dx.doi.org/10.1093/jaoac/85.4.996.
Der volle Inhalt der QuelleLi, Wenbin, Yong Wang, Yanting Feng, Qing Wang, Xuexia Xu, Guowei Li, Guozhen Dong et al. „A Cost-Effective Method for Preparing Robust and Conductive Superhydrophobic Coatings Based on Asphalt“. Scanning 2020 (24.12.2020): 1–8. http://dx.doi.org/10.1155/2020/5642124.
Der volle Inhalt der QuelleBovin, J. O. „EFTEM Elemental Mapping of Particles Frozen in Amorphous Solutions“. Microscopy and Microanalysis 6, S2 (August 2000): 2–3. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600032505.
Der volle Inhalt der QuelleWu, Liwei, Jing Wang, Qian Jiang, Zhenqian Lu, Wei Wang und Jia-Horng Lin. „Low-velocity impact behavior of flexible sandwich composite with polyurethane grid sealing shear thickening fluid core“. Journal of Sandwich Structures & Materials 22, Nr. 4 (25.03.2019): 1274–91. http://dx.doi.org/10.1177/1099636219837701.
Der volle Inhalt der QuelleKanemaru, Takaaki, Teruyoshi Kondo, Kei-ichiro Nakamura, Hiroyuki Morimoto, Kentaro Nishi und Shin-ichiro Isobe. „A simple preparation method for CLEM using pre-embedding immunohistochemistry with a novel fluorescent probe and stable embedding resin“. Microscopy 70, Nr. 4 (22.01.2021): 368–74. http://dx.doi.org/10.1093/jmicro/dfab005.
Der volle Inhalt der QuelleWheatley, Rachael, und Daria J. Kuss. „Researcher-practitioner reflections: the therapeutic utility of the visually adapted repertory grid technique (VARGT) with stalkers“. Journal of Forensic Practice 22, Nr. 2 (25.03.2020): 97–108. http://dx.doi.org/10.1108/jfp-09-2019-0041.
Der volle Inhalt der QuelleOgden, Gordon J. „Pollen analysis: state of the art“. Géographie physique et Quaternaire 31, Nr. 1-2 (09.12.2010): 151–59. http://dx.doi.org/10.7202/1000061ar.
Der volle Inhalt der QuelleSieber, H., D. R. Allen und J. Perepezko. „Microstructure Characterization of Ni-V Splat Quenched Foils“. Microscopy and Microanalysis 3, S2 (August 1997): 694–95. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600010357.
Der volle Inhalt der QuelleShaffer, O. L., M. S. El-Aasser, C. L. Zhao, M. A. Winnik und R. R. Shivers. „Cryomicroscopy of multiphase latices“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (August 1991): 1060–61. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100089615.
Der volle Inhalt der QuelleWang, Naixiao, Xilin Wang, Ping Chen, Zhidong Jia, Liming Wang, Ronghui Huang und Qishen Lv. „Metal Contamination Distribution Detection in High-Voltage Transmission Line Insulators by Laser-induced Breakdown Spectroscopy (LIBS)“. Sensors 18, Nr. 8 (10.08.2018): 2623. http://dx.doi.org/10.3390/s18082623.
Der volle Inhalt der Quelle