Bücher zum Thema „Electronic Microscope and microscopy“

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1

The principles and practice of electron microscopy. Cambridge [Cambridgeshire]: Cambridge University Press, 1985.

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2

Doane, Frances W. Canadian contributions to microscopy: An historical account of the development of the first electron microscope in North America and the first 20 years of the Microscopical Society of Canada/Société de microscopie du Canada. Toronto: Microscopical Society of Canada, 1993.

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3

W, Doane F., Simon G. T und Watson J. H. L, Hrsg. Canadian contributions to microscopy: An historical account of the development of the first electron microscope in North America and the first 20 years of the Microscopical Society of Canada / Société de Microscopie du Canada. Toronto, Ont: Microscopial Society of Canada, 1993.

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4

Reimer, Ludwig. Scanning electron microscopy: Physics of image formation and microanalysis. 2. Aufl. Berlin: Springer, 1998.

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5

Scanning electron microscopy: Physics of image formation and microanalysis. Berlin: Springer-Verlag, 1985.

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6

J, Goodhew Peter, Hrsg. Thin foil preparation for electron microscopy. Amsterdam: Elsevier, 1985.

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7

Hayat, M. A. Basic techniques for transmission electron microscopy. Orlando: Academic Press, 1985.

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8

Champness, P. E. Electron diffraction in the transmission electron microscope. Oxford: BIOS Scientific Publishers, 2001.

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9

R, Lewis P., Hrsg. Biological specimen preparation for transmission electron microscopy. Princeton, N.J: Princeton University Press, 1998.

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10

Ayache, Jeanne. Sample preparation handbook for transmission electron microscopy: Techniques. New York: Springer, 2010.

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11

W, Hobbs Linn, Westmacott K. H, Williams David B. 1949- und Materials Research Society, Hrsg. Materials problem solving with the transmission electron microscope: Symposium held December 2-4, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A. Pittsburgh, Pa: Materials Research Society, 1986.

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12

Tomb, Howard. Microaliens: Dazzling journeys with an electron microscope. New York: Farrar, Straus and Giroux, 1993.

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13

Goodhew, Peter J. Electron microscopy and analysis. 2. Aufl. London: Taylor & Francis, 1988.

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14

R, Beanland, und Humphreys F. J, Hrsg. Electron microscopy and analysis. 3. Aufl. London: Taylor & Francis, 2001.

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15

Wicher, Konrad. History of the electron microscope: The high voltage electron microscope and beyond at the Division of Laboratories and Research/Wadsworth Center. [Albany, N.Y.]: Wadsworth Center, New york State Department of Health, 2006.

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16

Lawes, Grahame. Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis. Herausgegeben von James Arthur M und ACOL. Chichester: Published on behalf of ACOL by Wiley, 1987.

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17

1923-, James A. M., und ACOL, Hrsg. Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis. Chichester: published on behalf of ACOL by Wiley, 1987.

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18

Reimer, Ludwig. Transmission electron microscopy: Physics of image formation and microanalysis. 2. Aufl. Berlin: Springer-Verlag, 1989.

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19

E, Beesley Julian, Hrsg. Sectioning and cryosectioning for electron microscopy. Amsterdam: Elsevier, 1991.

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20

Rasmussen, Nicolas. Picture control: The electron microscope and the transformation of biology in America, 1940-1960. Stanford, Calif: Stanford University Press, 1997.

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21

Slayter, Elizabeth M. Light and electron microscopy. Cambridge [England]: Cambridge University Press, 1992.

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22

Tomb, Howard. Microaliens: Dazzling journeys with an electron microscope. New York: Farrar, Straus and Giroux, 1993.

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23

M, Anderson R., und Walck Scott D, Hrsg. Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials IV: Symposium held April 2, 1997, San Francisco, California, U.S.A. Pittsburgh, Pa: Materials Research Society, 1997.

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24

Thomas, Mulvey, und Sheppard C. J. R, Hrsg. Advances in optical and electron microscopy. London: Academic Press, 1994.

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25

Physical principles of electron microscopy: An introduction to TEM, SEM, and AEM. New York: Springer Science+Business Media, 2005.

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26

Ciampolini, Lorenzo. Scanning capacitance microscope imaging and modelling. Konstanz: Hartung-Gorre, 2002.

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27

1958-, Wu Qiang, Merchant Fatima und Castleman Kenneth R, Hrsg. Microscope image processing. Amsterdam: Academic Press, 2008.

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28

Gerard, Clergue, Hrsg. Rasterelektronenmikroskopie des Auges =: L'oeil--vu au microscope électronique à balayage = Scanning electron microscopy of the eye. Stuttgart: Thieme-Stratton, 1985.

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29

Joy, David C. Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis. New York: Oxford University Press, 1995.

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30

Murphy, Douglas B., und Michael W. Davidson. Fundamentals of Light Microscopy and Electronic Imaging. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9781118382905.

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31

United States. National Aeronautics and Space Administration., Hrsg. Transmission electron microscope studies of extraterrestrial materials: Final technical report for NASA contract NAS 9-18992. Norcross, Ga: MVA, Inc., 1995.

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32

B, Williams David. Transmission electron microscopy: A textbook for materials science. New York: Plenum, 1996.

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33

Florian, Banhart, Hrsg. In-situ electron microscopy at high resolution. Hackensack, NJ: World Scientific, 2008.

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34

Mark, Aindow, Kiely C. J und Institute of Physics (Great Britain). Electron Microscopy and Analysis Group, Hrsg. Electron microscopy and analysis 2001: Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference, University of Dundee, 5-7 September 2001. Bristol: Institute of Physics, 2001.

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35

Kästner, Gerhard. Many-beam electron diffraction related to electron microscope diffraction contrast. Berlin: Akademie Verlag, 1993.

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36

William, Krakow, O'Keefe Michael, ASM/MSD Computer Simulation Committee. und Minerals, Metals and Materials Society. Meeting, Hrsg. Computer simulation of electron microscope diffraction and images: Proceedings of a topical symposium on computer simulation of electron microscope diffraction and images. Warrendale, Pa: TMS, 1989.

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37

Breger, Dee. Through the electronic looking glass: 3-D images from a scanning electron microscope. Phoenix, Ariz: Cygnus Graphic, 1995.

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38

Egerton, R. F. Electron energy-loss spectroscopy in the electron microscope. 2. Aufl. New York: Plenum Press, 1996.

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39

Egerton, R. F. Electron energy-loss spectroscopy in the electron microscope. New York: Plenum Press, 1986.

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40

Egerton, R. F. Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope. Boston, MA: Springer Science+Business Media, LLC, 2011.

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41

Dvorak, Ann M. Diagnostic ultrastructural pathology I: A text-atlas of case studies illustrating the correlative clinical-ultrastructural-pathologic approach to diagnosis. Boca Raton: CRC Press, 1992.

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42

Peter, Buseck, Cowley J. M. 1923- und Eyring LeRoy, Hrsg. High-resolution transmission electron microscopy and associated techniques. New York: Oxford University Press, 1988.

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43

Barry, Carter C., Hrsg. Transmission electron microscopy: A textbook for materials science. New York: Plenum Press, 1996.

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44

M, Clarebrough L., Hrsg. Electron microscopy of interfaces in metals and alloys. Bristol, England: A. Hilger, 1991.

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45

Watt, Ian M. The principles and practice of electron microscopy. Cambridge University Press, 1989.

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46

The principles and practice of electron microscopy. 2. Aufl. Cambridge: Cambridge University Press, 1997.

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47

(Editor), R. Barer, und V. E. Cosslett (Editor), Hrsg. Advances in Optical & Electron Microscopy, Vol. 3. Academic Press, 1997.

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48

Champness, P. E. Electron Diffraction in the Transmission Electron Microscope. Garland Science, 2001.

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49

Vaughan, David. 2. Studying minerals. Oxford University Press, 2014. http://dx.doi.org/10.1093/actrade/9780199682843.003.0002.

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Annotation:
The study of minerals begins with their characterization, identification, and classification determined from their chemical compositions and crystallographic properties. ‘Studying minerals’ shows that historically this was based on properties observable in hand specimens, but the development of wide-ranging techniques has allowed the study of all aspects of minerals: their structures, chemistries, surface chemistries, and reactivities. Techniques described include transmitted light and reflected light microscopy using thin and polished sections; X-ray crystallography based on Bragg’s Law; techniques using various forms of electromagnetic radiation; and electron microscopes including the transmission electron microscope, scanning electron microscope, scanning tunnelling microscope, and atomic force microscope.
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50

Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. Springer, 2013.

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