Zeitschriftenartikel zum Thema „Electron probe microanalysis EPMA“
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Willich, Peter, und Kirsten Schiffmann. „Electron probe microanalysis of borophosphosilicate coatings“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, Nr. 2 (12.08.1990): 226–27. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100134739.
Der volle Inhalt der QuelleLakis, Rollin E., Charles E. Lyman und Joseph I. Goldstein. „Electron-probe microanalysis of porous materials“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, Nr. 2 (August 1992): 1660–61. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100132935.
Der volle Inhalt der QuelleMerlet, C., X. Llovet, S. Segui, J. M. Fernández-Varea und F. Salvat. „Ionization Cross Sections for Quantitative Electron Probe Microanalysis“. Microscopy and Microanalysis 7, S2 (August 2001): 672–73. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600029433.
Der volle Inhalt der QuelleGoresh, S. „Industrial Applications of Electron Probe Microanalysis (EPMA)“. Microscopy and Microanalysis 17, S2 (Juli 2011): 616–17. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927611003953.
Der volle Inhalt der QuelleSomlyo, A. P., und Avril V. Somlyo. „Electron Probe Analysis and Cell Physiology“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 43 (August 1985): 2–5. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100117169.
Der volle Inhalt der QuelleMatthews, Mike B., Ben Buse und Stuart L. Kearns. „Electron Probe Microanalysis Through Coated Oxidized Surfaces“. Microscopy and Microanalysis 25, Nr. 05 (16.07.2019): 1112–29. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927619014715.
Der volle Inhalt der QuelleRo, Chul-Un. „Quantitative energy-dispersive electron probe X-ray microanalysis of individual particles“. Powder Diffraction 21, Nr. 2 (Juni 2006): 140–44. http://dx.doi.org/10.1154/1.2204068.
Der volle Inhalt der QuelleSomlyo, Avril V., und Andrew P. Somlyo. „Electron probe x-ray microanalysis of subcellular ion transport in situ“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, Nr. 1 (August 1992): 16–17. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100120485.
Der volle Inhalt der QuelleTakahashi, Hideyuki, Toshiaki Suzuki und Charles Nielsen. „Application Ofthinfilm Method to Electronic Probe Microanalysis (EPMA)“. Microscopy and Microanalysis 7, S2 (August 2001): 686–87. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600029500.
Der volle Inhalt der QuelleRobertson, Vernon. „What Are the Advantages of a FE-EPMA or FE-SEM (Even When Not Analyzing Submicron Features at Low kV and High Beam Current)?“ Microscopy Today 31, Nr. 6 (November 2023): 10–16. http://dx.doi.org/10.1093/mictod/qaad080.
Der volle Inhalt der QuelleTan, Shuhui, Rencheng Li, Richard S. Vachula, Xinyue Tao, Mengdan Wen, Yizhi Liu, Haiyan Dong und Lintong Zhou. „Electron probe microanalysis of the elemental composition of phytoliths from woody bamboo species“. PLOS ONE 17, Nr. 7 (05.07.2022): e0270842. http://dx.doi.org/10.1371/journal.pone.0270842.
Der volle Inhalt der QuelleRinaldi, Romano, und Xavier Llovet. „Electron Probe Microanalysis: A Review of the Past, Present, and Future“. Microscopy and Microanalysis 21, Nr. 5 (12.05.2015): 1053–69. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927615000409.
Der volle Inhalt der QuelleSalvat, F., L. Sorbier, X. Llovet und E. Acosta. „X-Ray Microanalysis with Penelope“. Microscopy and Microanalysis 7, S2 (August 2001): 688–89. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600029512.
Der volle Inhalt der QuelleRehbach, Werner P., und Peter Karduck. „Quantitative electron probe microanalysis of high-Tc superconducting materials“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, Nr. 2 (August 1992): 1768–69. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100133473.
Der volle Inhalt der QuelleClaus, Tamme, Jonas Bünger und Manuel Torrilhon. „A Novel Reconstruction Method to Increase Spatial Resolution in Electron Probe Microanalysis“. Mathematical and Computational Applications 26, Nr. 3 (14.07.2021): 51. http://dx.doi.org/10.3390/mca26030051.
Der volle Inhalt der QuelleMcGee, James J. „Progress in Electron-Probe Microanalysis of Boron in Geologic Samples“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 54 (11.08.1996): 696–97. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010016594x.
Der volle Inhalt der QuelleSomlyo, Andrew P. „The Impact of Biological Microanalysis on Analytical Electron Microscopy“. Microscopy and Microanalysis 4, S2 (Juli 1998): 170–71. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600020973.
Der volle Inhalt der QuelleTsuji, K., Y. Murakami, K. Wagatsuma und G. Love. „Surface studies by grazing-exit electron probe microanalysis (GE-EPMA)“. X-Ray Spectrometry 30, Nr. 2 (2001): 123–26. http://dx.doi.org/10.1002/xrs.480.
Der volle Inhalt der QuelleKarduck, Peter, und Norbert Ammann. „ϕ(ρz)-Determination for Advanced Applications of Electron Probe Microanalysis“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, Nr. 2 (12.08.1990): 14–15. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100133667.
Der volle Inhalt der QuelleLakis, R. E., E. P. Vicenzi und F. M. Allen. „Electron probe microanalysis of alumina-supported platinum catalysts“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 54 (11.08.1996): 512–13. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100165021.
Der volle Inhalt der QuelleLamontagne, Jérôme, Thierry Blay und Ingrid Roure. „Microbeam Analysis of Irradiated Materials: Practical Aspects“. Microscopy and Microanalysis 13, Nr. 3 (09.05.2007): 150–55. http://dx.doi.org/10.1017/s143192760707033x.
Der volle Inhalt der QuelleGoldstein, J. I. „Scanning Electron Microscopy And Electron Probe Microanalysis Of Extraterrestrial Materials“. Microscopy and Microanalysis 5, S2 (August 1999): 2–3. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600013337.
Der volle Inhalt der QuelleMerlet, C., X. Llovet und F. Salvat. „Measurement And Simulation Of X-Ray Emission From Multilayered Structures In Electron Probe Microanalysis.“ Microscopy and Microanalysis 5, S2 (August 1999): 78–79. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600013714.
Der volle Inhalt der QuelleConty, Claude. „Today’s and Tomorrow’s Instruments“. Microscopy and Microanalysis 7, Nr. 2 (März 2001): 142–49. http://dx.doi.org/10.1007/s100050010077.
Der volle Inhalt der QuelleKubo, Yugo, und Koji Kuramochi. „Observation of Fine Distribution of Minor Dopants in an Erbium-Doped Fiber Core using a Sample Thinning Technique for Field Emission Electron Probe Microanalysis“. Microscopy and Microanalysis 21, Nr. 6 (17.11.2015): 1398–405. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927615015445.
Der volle Inhalt der QuelleBuse, Ben, und Stuart Kearns. „Quantification of Olivine Using Fe Lα in Electron Probe Microanalysis (EPMA)“. Microscopy and Microanalysis 24, Nr. 1 (Februar 2018): 1–7. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927618000041.
Der volle Inhalt der QuelleGrover, V., P. Sengupta, K. Bhanumurthy und A. K. Tyagi. „Electron probe microanalysis (EPMA) investigations in the CeO2–ThO2–ZrO2 system“. Journal of Nuclear Materials 350, Nr. 2 (April 2006): 169–72. http://dx.doi.org/10.1016/j.jnucmat.2006.01.001.
Der volle Inhalt der QuelleHarries, Dennis. „Homogeneity testing of microanalytical reference materials by electron probe microanalysis (EPMA)“. Geochemistry 74, Nr. 3 (Oktober 2014): 375–84. http://dx.doi.org/10.1016/j.chemer.2014.01.001.
Der volle Inhalt der QuelleWilliams, D. B. „The Impact of EDS In Materials Science Microanalysis“. Microscopy and Microanalysis 4, S2 (Juli 1998): 168–69. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600020961.
Der volle Inhalt der QuelleWalters, Jesse B. „MinPlot: A mineral formula recalculation and plotting program for electron probe microanalysis“. Mineralogia 53, Nr. 1 (01.01.2022): 51–66. http://dx.doi.org/10.2478/mipo-2022-0005.
Der volle Inhalt der QuelleCheng, Lining, Chao Zhang, Xiaoyan Li, Renat R. Almeev, Xiaosong Yang und Francois Holtz. „Improvement of Electron Probe Microanalysis of Boron Concentration in Silicate Glasses“. Microscopy and Microanalysis 25, Nr. 4 (18.06.2019): 874–82. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927619014612.
Der volle Inhalt der QuelleBünger, Jonas, Silvia Richter und Manuel Torrilhon. „A Model for Characteristic X-Ray Emission in Electron Probe Microanalysis Based on the (Filtered) Spherical Harmonic () Method for Electron Transport“. Microscopy and Microanalysis 28, Nr. 2 (April 2022): 454–68. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927622000083.
Der volle Inhalt der QuelleNgo, H., J. Ruben, J. Arends, D. White, G. J. Mount, M. C. R. B. Peters, R. V. Faller und A. Pfarrer. „Electron Probe Microanalysis and Transverse Microradiography Studies of Artificial Lesions in Enamel and Dentin: A Comparative Study“. Advances in Dental Research 11, Nr. 4 (November 1997): 426–32. http://dx.doi.org/10.1177/08959374970110040801.
Der volle Inhalt der QuelleCochrane, Nathan J., Youichi Iijima, Peiyan Shen, Yi Yuan, Glenn D. Walker, Coralie Reynolds, Colin M. MacRae, Nicholas C. Wilson, Geoffrey G. Adams und Eric C. Reynolds. „Comparative Study of the Measurement of Enamel Demineralization and Remineralization Using Transverse Microradiography and Electron Probe Microanalysis“. Microscopy and Microanalysis 20, Nr. 3 (24.04.2014): 937–45. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927614000622.
Der volle Inhalt der QuelleSchomisch Moravec, Christine, und Meredith Bond. „Subcellular Calcium (Ca2+) Redistribution During Cardiac Muscle Contraction by Electron Probe Microanalysis (EPMA)“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, Nr. 2 (12.08.1990): 136–37. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100134272.
Der volle Inhalt der QuelleNihtianova, D. D., I. T. Ivanov, J. J. Macicek und I. K. Georgieva. „Crystallographic data for BaMnSiO4: A new phase in the system BaO-MnO-SiO2“. Powder Diffraction 12, Nr. 3 (September 1997): 167–70. http://dx.doi.org/10.1017/s0885715600009659.
Der volle Inhalt der QuelleChong, Saehwa, Jared O. Kroll, Jarrod V. Crum und Brian J. Riley. „Synthesis and crystal structure of a neodymium borosilicate, Nd3BSi2O10“. Acta Crystallographica Section E Crystallographic Communications 75, Nr. 5 (25.04.2019): 700–702. http://dx.doi.org/10.1107/s2056989019005024.
Der volle Inhalt der QuelleSchulz, Bernhard, Joachim Krause und Wolfgang Dörr. „A Protocol for Electron Probe Microanalysis (EPMA) of Monazite for Chemical Th-U-Pb Age Dating“. Minerals 14, Nr. 8 (12.08.2024): 817. http://dx.doi.org/10.3390/min14080817.
Der volle Inhalt der QuelleNachlas, William, Suzanne Baldwin, Jay Thomas und Michael Ackerson. „Investigation of N in Ammonium-bearing Silicates with Electron Probe Microanalysis (EPMA)“. Microscopy and Microanalysis 26, S2 (30.07.2020): 42–43. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927620013203.
Der volle Inhalt der QuelleTsuji, Kouichi. „Grazing-exit electron probe X-ray microanalysis (GE-EPMA): Fundamental and applications“. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy 60, Nr. 11 (November 2005): 1381–91. http://dx.doi.org/10.1016/j.sab.2005.08.013.
Der volle Inhalt der QuelleDuque, Laura, Fernanda Guimarães, Helena Ribeiro, Raquel Sousa und Ilda Abreu. „Elemental characterization of the airborne pollen surface using Electron Probe Microanalysis (EPMA)“. Atmospheric Environment 75 (August 2013): 296–302. http://dx.doi.org/10.1016/j.atmosenv.2013.04.040.
Der volle Inhalt der QuelleTormey, J. McD, und E. S. Wheeler-Clark. „Electron Probe X-Ray Microanalysis of Cardiac Muscle: Progress Report“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 43 (August 1985): 18–21. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100117200.
Der volle Inhalt der QuelleCazaux, Jacques. „About the Mechanisms of Charging in EPMA, SEM, and ESEM with Their Time Evolution“. Microscopy and Microanalysis 10, Nr. 6 (Dezember 2004): 670–84. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927604040619.
Der volle Inhalt der QuelleRemond, G., R. H. Packwood, C. Gilles und S. Chryssoulis. „Layered and ion implantation specimens as possible reference materials for the electron-probe microanalysis“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, Nr. 2 (August 1992): 1652–53. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100132893.
Der volle Inhalt der QuelleChia, V. K. F., R. J. Bleiler, C. L. Anderson und R. W. Odom. „Quantitative Trace Element Analysis of Micro-Samples by SIMS“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, Nr. 2 (12.08.1990): 360–61. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010013540x.
Der volle Inhalt der QuelleKeil, K., R. Fitzgerald und KFJ Heinrich. „Celebrating 40 years of energy dispersive X-ray spectrometry in electron probe microanalysis (EPMA)“. Microscopy and Microanalysis 14, S2 (August 2008): 1152–53. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927608081221.
Der volle Inhalt der QuelleCarpenter, PK. „Electron-Probe Microanalysis (EPMA): An Overview for Beginners and a Status Report for Experts“. Microscopy and Microanalysis 14, S2 (August 2008): 1150–51. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927608088806.
Der volle Inhalt der QuelleSong, Jian Li, Qi Lin Deng, C. Y. Chen und De Jin Hu. „Experimental Study on the Laser Direct Fabrication of Stainless Steel Components“. Key Engineering Materials 315-316 (Juli 2006): 239–43. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.315-316.239.
Der volle Inhalt der QuelleSomlyo, A. P. „Where Art Thou, Calcium?“ Microscopy and Microanalysis 3, S2 (August 1997): 913–14. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600011454.
Der volle Inhalt der QuelleVykhodets, V. B., Tatiana Eugenievna Kurennykh und N. U. Tarenkova. „Study of Distribution of Impurity Atoms in Metallurgical Macrodefects“. Defect and Diffusion Forum 273-276 (Februar 2008): 707–12. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ddf.273-276.707.
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