Auswahl der wissenschaftlichen Literatur zum Thema „Diffraction de surface des rayons X“
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Zeitschriftenartikel zum Thema "Diffraction de surface des rayons X"
Hlawka, F., G. Q. Song und A. Cornet. „Utilisation de la diffraction de rayons X pour l'étude de traitements de surface laser“. Le Journal de Physique IV 06, Nr. C4 (Juli 1996): C4–123—C4–126. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996412.
Der volle Inhalt der QuelleArnaud, Y., M. Brunel, A. M. De Becdelivre und P. Thevenard. „Étude par diffraction de rayons X en incidence rasante (GIXD) de surfaces métalliques implantées en azote“. Journal de Chimie Physique 84 (1987): 341–45. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1987840341.
Der volle Inhalt der QuelleValot, Christophe, Vincent Vignal, Roland Oltra und Nicolas Mary. „Caractérisation des gradients locaux de contraintes à la surface des aciers inoxydables par diffraction des rayons X et simulation numérique“. Annales de Chimie Science des Matériaux 29, Nr. 3 (31.05.2004): 19–31. http://dx.doi.org/10.3166/acsm.29.3.19-31.
Der volle Inhalt der QuelleAndreazza, P., X. de Buchere und R. Erre. „Diffraction des rayons X en incidence rasante pour l'analyse des transformations structurales de surfaces d'aciers induites par implantation ionique multiple“. Le Journal de Physique IV 06, Nr. C4 (Juli 1996): C4–399—C4–408. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996436.
Der volle Inhalt der QuelleBarbier, A., G. Renaud, O. Robach und P. Guénard. „La diffraction de rayons X en incidence rasante à l'ESRF : application à l'étude de surfaces et d'interfaces à base d'oxydes“. Le Journal de Physique IV 08, PR5 (Oktober 1998): Pr5–203—Pr5–213. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998526.
Der volle Inhalt der QuelleChevereau, Élodie, Lionel Limousy, Patrick Dutournié und Patrick Bourseau. „Réalisation et modification des propriétés de sélectivité d’une membrane minérale d’ultrafiltration : étude de la rétention de solutions salines“. Revue des sciences de l’eau 25, Nr. 1 (28.03.2012): 21–30. http://dx.doi.org/10.7202/1008533ar.
Der volle Inhalt der QuelleRavy, Sylvain. „La diffraction cohérente des rayons X“. Reflets de la physique, Nr. 34-35 (Juni 2013): 60–64. http://dx.doi.org/10.1051/refdp/201334060.
Der volle Inhalt der QuellePopescu, M., F. Sava, A. Lörinczi, I. N. Mihailescu, I. Cojocaru und G. Mihailova. „Diffraction de rayons X sur le silicium poreux“. Le Journal de Physique IV 08, PR5 (Oktober 1998): Pr5–31—Pr5–37. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998505.
Der volle Inhalt der QuelleBach, M., N. Broll, A. Cornet und L. Gaide. „Diffraction X en traitements thermiques : dosage de l'austénite résiduelle par diffraction des rayons X“. Le Journal de Physique IV 06, Nr. C4 (Juli 1996): C4–887—C4–895. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996485.
Der volle Inhalt der QuelleBourret, A. „Étude des interfaces enterrées par diffraction de rayons X“. Le Journal de Physique IV 07, Nr. C6 (Dezember 1997): C6–19—C6–29. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1997602.
Der volle Inhalt der QuelleDissertationen zum Thema "Diffraction de surface des rayons X"
Rmili, Seddik. „Préparation de catalyseurs bimétalliques Pt-Cu [platine-cuivre] par réaction redox de surface“. Poitiers, 1995. http://www.theses.fr/1995POIT2300.
Der volle Inhalt der QuelleMeunier, Isabelle. „Des divers modes de relaxation des contraintes induites par le désaccord de maille dans les alliages de surface“. Aix-Marseille 2, 2001. http://www.theses.fr/2001AIX22038.
Der volle Inhalt der QuelleAbrasonis, Gintautas. „Nitruration par faisceau d'ions des aciers austénitiques inoxydables : étude du transport atomique d'azote, des effets de flux et des effets structuraux“. Poitiers, 2003. http://www.theses.fr/2003POIT2291.
Der volle Inhalt der QuelleVERON, MARIE-BENOITE. „Etude des reconstructions de surface de cdte par diffraction de rayons x et d'electrons en incidence rasante“. Paris 6, 1996. http://www.theses.fr/1996PA066428.
Der volle Inhalt der QuelleLegagneux, Nicolas. „Chimie organométallique de surface sur hétéropolyacides supportés et non supportés : application à l'oxydation partielle du méthane en méthanol“. Lyon 1, 2009. http://www.theses.fr/2009LYO10033.
Der volle Inhalt der QuelleThe aim of this work was the synthesis and characterization of organometallic complexes grafted on silica supported ans unsupported heteropolyanions. PtMe2(COD) react on silicotungstic acid (H4SiW12O40) in an homogeneous way to form [SiW12 O10 4-] [Pt+Me(COD)(DMSO]4. DMSO. This reaction allow the formation of ionic interactions between the metallic center and the heteropolyacid which keeps his Keggin structure. The reaction with tetramethyltin gives this species : [SiW10 O40 4-] [Sn+ Me3 (DMSO)2]4. 2 DMSO. The supported heteropolyacids keep their Keggins structure and, for silicotungstic acid, an acidic proton remains on the polyanion. This acidic proton reacts stoichiometrically with PtMe2(COD) with quantitative release of methane. In an other hand, the silica supported silicotungstic acid behaves as a catalyst for the grafting reaction of tetramethyltin over the silanols of the silica surface. [SiW12 O10 4-] [Pt+Me(COD)(DMSO]4. DMSO. And oleum allow us to increase the TON of the oxidation of methane into methyl bisulfacte to 69
Medeiros, Soares Marcio. „Croissance, structure et magnétisme dans les systèmes à décalage d'échange FM/AFM : approche fondamentale par la physique des surfaces“. Thesis, Grenoble, 2011. http://www.theses.fr/2011GRENY022/document.
Der volle Inhalt der QuelleOur aim is to study the interaction of antiferromagnetic and ferromagnetic materials with well-defined interface by combining structural, electronic and magnetic techniques using synchrotron light. Our interest is guided by the exchange bias effect in thin ferromagnetic films with perpendicular magnetic anisotropy. The main systems studied in this work were ultra-thin layers of chemically-ordered alloys of FePt and MnPt on Pt(001) and of Fe/Ag(001), eventually coupled to CoO. Our strategy was to find an appropriate surface and, for each coupled bilayer, study the individual growth of each element, alloy or oxide. By controlling a variety of parameters, such as surface structure, cleanliness, deposition rate and temperature, we have got a good understanding of the growth process. The coupled systems obtained were studied in situ by grazing incidence X-ray diffraction and ex situ by magneto-optic Kerr effect, X-ray magnetic circular dichroism and X-ray absorption spectroscopy. The relation between the exchange coupling, which manifests itself by an increase in coercivity and a bias field, and the structural characteristics was discussed for the MnPt/FePt and CoO/Fe interfaces.Keywords: exchange bias, chemically ordered alloy, MnPt, FePt, Fe/Ag(001), surface X-ray diffraction, X-ray absorption, MOKE, synchrotron
Dalmas, Julie. „Etude expérimentale et théorique de l'interface Pb/Ag(111) : alliage et "désalliage" de surface“. Aix-Marseille 2, 2005. http://www.theses.fr/2005AIX22017.
Der volle Inhalt der QuelleButtard, Denis. „Étude structurale du silicium poreux de type p par diffraction haute résolution des rayons X“. Université Joseph Fourier (Grenoble ; 1971-2015), 1997. http://www.theses.fr/1997GRE10141.
Der volle Inhalt der QuelleHuet, Isabelle. „Elaboration et caractérisation de films minces de LiNbO3 et LiTaO3 en vue de la réalisation de filtres à ondes acoustiques de surface“. Montpellier 2, 2001. http://www.theses.fr/2001MON20112.
Der volle Inhalt der QuelleSoares, Marcio. „Croissance, structure et magnétisme dans les systèmes à décalage d'échange FM/AFM : approche fondamentale par la physique des surfaces“. Phd thesis, Université de Grenoble, 2011. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00603754.
Der volle Inhalt der QuelleBücher zum Thema "Diffraction de surface des rayons X"
Symposium on X-Ray Methods in Corrosion and Interfacial Electrochemistry (1991 Phoenix, Ariz.). Proceedings of the Symposium on X-Ray Methods in Corrosion and Interfacial Electrochemistry. Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1992.
Den vollen Inhalt der Quelle findenL, Bish David, und Post Jeffrey Edward, Hrsg. Modern powder diffraction. Washington, D.C: Mineralogical Society of America, 1989.
Den vollen Inhalt der Quelle findenFeidenhans'l, Robert. Solving surface structures with X-Ray Diffraction. Roskilde, Denmark: Riso National Laboratory, 1986.
Den vollen Inhalt der Quelle findenRX, 2003 (2003 Strasbourg France). Rayons X et matière: RX 2003 : Strasbourg, France, 9-11 décembre 2003. Les Ulis codex A, France: EDP Sciences, 2004.
Den vollen Inhalt der Quelle findenFultz, Brent. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. 4. Aufl. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2013.
Den vollen Inhalt der Quelle findenMaharaj, H. P. Appareils d'analyse aux rayons X - exigences et recommandations en matière de sécurité. Ottawa, Ont: Direction de l'hygiène du milieu, 1994.
Den vollen Inhalt der Quelle findenW, Wyckoff Harold, Hirs, C. H. W. 1923- und Timasheff Serge N. 1926-, Hrsg. Diffraction methods for biological macromolecules. Orlando, Fla: Academic Press, 1985.
Den vollen Inhalt der Quelle findenN, Broll, Cornet A und Denier P, Hrsg. Rayons X et matière: RX 99, ENSAIS, École National Supérieure des Arts et Industries, Strasbourg, France, 7-10 décembre 1999. Les Ulis, France: EDP Sciences, 2000.
Den vollen Inhalt der Quelle findenAndré, Authier, Lagomarsino Stefano, Tanner B. K, North Atlantic Treaty Organization. Scientific Affairs Division. und NATO Advanced Study Institute on X-ray and Neutron Dynamical Diffraction (1996 : Erice, Italy), Hrsg. X-ray and neutron dynamical diffraction: Theory and applications. New York: Plenum Press, 1996.
Den vollen Inhalt der Quelle findenRX, 2001 (2001 Strasbourg France). Rayons X et matière: RX 2001 : colloque dédié à la mémoire d'André Guinier : ENSAIS, École nationale supérieure des arts et industries, Strasbourg, France, 4-7 décembre 2001. Les Ulis codex A, France: EDP Sciences, 2002.
Den vollen Inhalt der Quelle findenBuchteile zum Thema "Diffraction de surface des rayons X"
Arakawa, Etsuo. „Surface X-Ray Diffraction“. In Compendium of Surface and Interface Analysis, 689–96. Singapore: Springer Singapore, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_112.
Der volle Inhalt der QuelleSakata, Osami, und Masashi Nakamura. „Grazing Incidence X-Ray Diffraction“. In Surface Science Techniques, 165–90. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-34243-1_6.
Der volle Inhalt der QuelleStierle, Andreas, und Elias Vlieg. „Surface-Sensitive X-Ray Diffraction Methods“. In Modern Diffraction Methods, 221–57. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2013. http://dx.doi.org/10.1002/9783527649884.ch8.
Der volle Inhalt der QuelleSherwood, Peter M. A. „X-Ray Photoelectron Diffraction“. In The Handbook of Surface Imaging and Visualization, 875–87. Boca Raton: CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9780367811815-63.
Der volle Inhalt der QuelleIdzerda, Yves U. „X-Ray Photoelectron Diffraction“. In The Handbook of Surface Imaging and Visualization, 863–74. Boca Raton: CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9780367811815-62.
Der volle Inhalt der QuelleRobinson, I. K. „Surface Structure by X-Ray Diffraction“. In The Structure of Surfaces, 60–65. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1985. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-82493-7_11.
Der volle Inhalt der QuelleMoritz, W., und H. L. Meyerheim. „3-D Surface Structure Analysis by X-Ray Diffraction“. In Surface Science, 12–28. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1996. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-80281-2_2.
Der volle Inhalt der QuelleOcko, B. M. „X-Ray Reflectivity and Surface Roughness“. In Spectroscopic and Diffraction Techniques in Interfacial Electrochemistry, 343–59. Dordrecht: Springer Netherlands, 1990. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-011-3782-9_11.
Der volle Inhalt der QuelleMacdonald, J. E., C. Norris, E. Vlieg, A. Denier van der Gon und J. F. van der Veen. „Epitaxial Growth Studied by Surface X-Ray Diffraction“. In Springer Series in Surface Sciences, 438–42. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1988. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-73343-7_72.
Der volle Inhalt der QuelleStierle, Andreas, Johan Gustafson und Edvin Lundgren. „Surface-Sensitive X-ray Diffraction Across the Pressure Gap“. In Springer Series in Chemical Physics, 59–87. Cham: Springer International Publishing, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-44439-0_3.
Der volle Inhalt der QuelleKonferenzberichte zum Thema "Diffraction de surface des rayons X"
von Brenndorff, Alexander Irtel. „Manufacture and Characterization of Holographic Diffraction Gratings for Soft X-Rays“. In Soft X-Ray Projection Lithography. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1993. http://dx.doi.org/10.1364/sxray.1993.tud.9.
Der volle Inhalt der QuelleBerreman, D. W., und A. T. Macrander. „8×8 Matrix dynamical theory for strained oblique Bragg planes“. In OSA Annual Meeting. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1987. http://dx.doi.org/10.1364/oam.1987.tum1.
Der volle Inhalt der QuelleMalek, C. Khan, J. H. Underwood und E. M. Gullikson. „Multilayer Coated Echelle Gratings for Soft X-rays“. In Physics of X-Ray Multilayer Structures. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1994. http://dx.doi.org/10.1364/pxrayms.1994.wc.3.
Der volle Inhalt der QuelleWebster, P. J., Z. Chen, D. J. Hughes, A. Steuwer, B. Malard, N. Ratel, M. N. James und S. P. Ting. „Engineering Applications of Synchrotron X-Rays and Neutrons and the FaME38 Project“. In ASME 2004 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2004. http://dx.doi.org/10.1115/imece2004-62451.
Der volle Inhalt der QuelleWilkinson, Angus P., Andrew C. Jupe, Kimberly E. Kurtis, Nikhila N. Naik, Stuart R. Stock und Peter L. Lee. „Spatially Resolved Energy Dispersive X-Ray Diffraction (EDXRD) as a Tool for Nondestructively Providing Phase Composition Depth Profiles on Cement and Other Materials“. In ASME 2004 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2004. http://dx.doi.org/10.1115/imece2004-62449.
Der volle Inhalt der QuelleSchoenlein, R. W., A. H. Chin, T. E. Glover, C. V. Shank, W. P. Leemans, P. Volfbeyn, K. J. Kim und S. Chattopadhyay. „Femtosecond X-rays Generated via Thomson Scattering of Terawatt Laser Pulses with Relativistic Electrons“. In International Conference on Ultrafast Phenomena. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1996. http://dx.doi.org/10.1364/up.1996.wa.4.
Der volle Inhalt der QuelleTucoulou, Remi, Dmitry V. Roshchupkin, Olivier Mathon, Igor A. Schelokov und Michel Brunel. „High-frequency modulation of an x-ray beam by diffraction on surface acoustic waves: application to the design of a MHz-range chopper and to digital data transfer by x rays“. In SPIE's International Symposium on Optical Science, Engineering, and Instrumentation, herausgegeben von Andreas K. Freund, Henry P. Freund und Malcolm R. Howells. SPIE, 1998. http://dx.doi.org/10.1117/12.331835.
Der volle Inhalt der QuelleSaldin, D. K. „Direct methods for surface X-ray diffraction“. In Theory and computation for synchrotron radiation spectroscopy. AIP, 2000. http://dx.doi.org/10.1063/1.1303840.
Der volle Inhalt der QuelleJackson, M. J. „Tribological Design of Grinding Wheels Using X-Ray Diffraction Techniques“. In ASME 2004 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2004. http://dx.doi.org/10.1115/imece2004-60446.
Der volle Inhalt der QuelleTaviot-Guého, C., F. Leroux, F. Goujon, P. Malfreyt und R. Mahiou. „Étude du mécanisme d'échange et de la structure des matériaux hydroxydes doubles lamellaires (HDL) par diffraction et diffusion des rayons X“. In UVX 2012 - 11e Colloque sur les Sources Cohérentes et Incohérentes UV, VUV et X ; Applications et Développements Récents, herausgegeben von E. Constant, P. Martin und H. Bachau. Les Ulis, France: EDP Sciences, 2013. http://dx.doi.org/10.1051/uvx/201301016.
Der volle Inhalt der QuelleBerichte der Organisationen zum Thema "Diffraction de surface des rayons X"
Lyman, Paul F., und Dilano K. Saldin. A Bayesian Approach to Surface X-ray Diffraction. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), November 2006. http://dx.doi.org/10.2172/895207.
Der volle Inhalt der QuelleYen, B. Origin of low-friction behavior in graphite investigated by surface x-ray diffraction. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), Mai 2004. http://dx.doi.org/10.2172/826917.
Der volle Inhalt der QuelleChen, X., B. P. Tonner und J. Denlinger. Structural origin of Si-2p core-level shifts from Si(100)-c[4x2] surface: A spectral x-ray photoelectron diffraction study. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), April 1997. http://dx.doi.org/10.2172/603550.
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