Zeitschriftenartikel zum Thema „Curtaining“
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Schwartz, Jonathan, Yi Jiang, Yongjie Wang, Anthony Aiello, Pallab Bhattacharya, Hui Yuan, Zetian Mi, Nabil Bassim und Robert Hovden. „Removing Stripes, Scratches, and Curtaining with Nonrecoverable Compressed Sensing“. Microscopy and Microanalysis 25, Nr. 3 (14.03.2019): 705–10. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927619000254.
Der volle Inhalt der QuelleDenisyuk, Andrey, Tomáš Hrnčíř, Jozef Vincenc Oboňa, Sharang, Martin Petrenec und Jan Michalička. „Mitigating Curtaining Artifacts During Ga FIB TEM Lamella Preparation of a 14 nm FinFET Device“. Microscopy and Microanalysis 23, Nr. 3 (20.03.2017): 484–90. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927617000241.
Der volle Inhalt der QuelleSchankula, Christopher W., Christopher K. Anand und Nabil D. Bassim. „Multi-Angle Plasma Focused Ion Beam (FIB) Curtaining Artifact Correction Using a Fourier-Based Linear Optimization Model“. Microscopy and Microanalysis 24, Nr. 6 (Dezember 2018): 657–66. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927618015234.
Der volle Inhalt der QuelleSparkes, Peter. „The 1925 Property Legislation: Curtaining off the Antecedents“. Statute Law Review 9, Nr. 3 (1988): 146–59. http://dx.doi.org/10.1093/slr/9.3.146.
Der volle Inhalt der QuelleSchwarz, Stephen M., Brian W. Kempshall, Lucille A. Giannuzzi1 und Molly R. McCartney. „Avoiding the Curtaining Effect: Backside Milling by FIB INLO“. Microscopy and Microanalysis 9, S02 (28.07.2003): 116–17. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927603441044.
Der volle Inhalt der QuelleSchwartz, Jonathan, Yi Jiang, Yongjie Wang, Anthony Aiello, Pallab Bhattacharya, Hui Yuan, Zetian Mi, Nabil Bassim und Robert Hovden. „Removing Stripes, Scratches, and Curtaining with Non-Recoverable Compressed Sensing“. Microscopy and Microanalysis 25, S2 (August 2019): 174–75. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927619001600.
Der volle Inhalt der QuelleSantoro, Francesca, Elmar Neumann, Gregory Panaitov und Andreas Offenhäusser. „FIB section of cell–electrode interface: An approach for reducing curtaining effects“. Microelectronic Engineering 124 (Juli 2014): 17–21. http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2014.04.021.
Der volle Inhalt der QuelleFitschen, Jan Henrik, Jianwei Ma und Sebastian Schuff. „Removal of curtaining effects by a variational model with directional forward differences“. Computer Vision and Image Understanding 155 (Februar 2017): 24–32. http://dx.doi.org/10.1016/j.cviu.2016.12.008.
Der volle Inhalt der QuelleAltan, Burçin Deda, Mehmet Atılgan und Aydoğan Özdamar. „An experimental study on improvement of a Savonius rotor performance with curtaining“. Experimental Thermal and Fluid Science 32, Nr. 8 (September 2008): 1673–78. http://dx.doi.org/10.1016/j.expthermflusci.2008.06.006.
Der volle Inhalt der QuelleDenisyuk, Andrey, Tomáš Hrnčíř, Jozef Vincenc Oboňa, Martin Petrenec und Jan Michalička. „Curtaining-Free Top-Down TEM Lamella Preparation from a Cutting Edge Integrated Circuit“. Microscopy and Microanalysis 22, S3 (Juli 2016): 196–97. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927616001835.
Der volle Inhalt der QuelleFernandez, Jose-Jesus, Teobaldo E. Torres, Eva Martin-Solana, Gerardo F. Goya und Maria-Rosario Fernandez-Fernandez. „PolishEM: image enhancement in FIB–SEM“. Bioinformatics 36, Nr. 12 (28.03.2020): 3947–48. http://dx.doi.org/10.1093/bioinformatics/btaa218.
Der volle Inhalt der QuelleSchankula, Christopher W., Christopher K. Anand und Nabil D. Bassim. „Plasma Focused Ion Beam Curtaining Artifact Correction by Fourier-Based Linear Opti-mization Model“. Microscopy and Microanalysis 24, S1 (August 2018): 588–89. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927618003434.
Der volle Inhalt der QuelleOhtaki, Kenta K., Hope A. Ishii und John P. Bradley. „Combined Focused Ion Beam-Ultramicrotomy Method for TEM Specimen Preparation of Porous Fine-Grained Materials“. Microscopy and Microanalysis 26, Nr. 1 (20.12.2019): 120–25. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927619015186.
Der volle Inhalt der QuelleLoeber, Thomas Henning, Bert Laegel, Sandra Wolff, Sebastian Schuff, Frank Balle, Tilmann Beck, Dietmar Eifler, Jan Henrik Fitschen und Gabriele Steidl. „Reducing curtaining effects in FIB/SEM applications by a goniometer stage and an image processing method“. Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena 35, Nr. 6 (November 2017): 06GK01. http://dx.doi.org/10.1116/1.4991638.
Der volle Inhalt der QuelleGiannuzzi, Lucille A., Zhiyang Yu, Denise Yin, Martin P. Harmer, Qiang Xu, Noel S. Smith, Lisa Chan, Jon Hiller, Dustin Hess und Trevor Clark. „Theory and New Applications ofEx SituLift Out“. Microscopy and Microanalysis 21, Nr. 4 (16.07.2015): 1034–48. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927615013720.
Der volle Inhalt der QuelleWang, Nathan, und George Perreault. „Fabrication of a Novel Rotating Sample Holder to Eliminate the “Curtaining Effect” in FIB-Prepared TEM Specimens“. Microscopy Today 22, Nr. 6 (November 2014): 40–45. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929514001151.
Der volle Inhalt der QuelleCallahan, Patrick G., McLean P. Echlin, Tresa M. Pollock und Marc De Graef. „Reconstruction of Laser-Induced Surface Topography from Electron Backscatter Diffraction Patterns“. Microscopy and Microanalysis 23, Nr. 4 (August 2017): 730–40. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927617012326.
Der volle Inhalt der QuelleHajipour, Abbas, Ali Shams Nateri und Alireza Sadr Momtaz. „Estimation of fabric opacity by scanner“. Sensor Review 34, Nr. 4 (26.08.2014): 404–9. http://dx.doi.org/10.1108/sr-01-2013-607.
Der volle Inhalt der QuelleOzkan, Mehmet, Ahmet Cagri Aykan, Ozan Gursoy, Mehmet Altug Tuncer, Beytullah Cakal, Mustafa Yildiz und Gokhan Kahveci. „An Alternative Approach for Mitral Paravalvular Leak with Dacron Patch Curtaining under the Guidance of Real-Time 3-Dimensional Transesophageal Echocardiography“. Cardiology 119, Nr. 1 (2011): 34–37. http://dx.doi.org/10.1159/000329843.
Der volle Inhalt der QuelleZhong, Xiang Li, Sarah J. Haigh, Xiaorong Zhou und Philip J. Withers. „An in-situ method for protecting internal cracks/pores from ion beam damage and reducing curtaining for TEM sample preparation using FIB“. Ultramicroscopy 219 (Dezember 2020): 113135. http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2020.113135.
Der volle Inhalt der QuelleHutchison, John L. „The Contribution of Intermediate-Voltage, High-Resolution Electron Microscopy In Materials Science: An Appraisal“. Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, Nr. 1 (12.08.1990): 478–79. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100181142.
Der volle Inhalt der QuelleZhang, Yuan, Olivier Boucher, Philippe Ciais, Laurent Li und Nicolas Bellouin. „How to reconstruct aerosol-induced diffuse radiation scenario for simulating GPP in land surface models? An evaluation of reconstruction methods with ORCHIDEE_DFv1.0_DFforc“. Geoscientific Model Development 14, Nr. 4 (20.04.2021): 2029–39. http://dx.doi.org/10.5194/gmd-14-2029-2021.
Der volle Inhalt der QuelleGendzel, Glen. „The Tortilla Curtainand California's Nativist Heritage“. Text and Performance Quarterly 33, Nr. 2 (April 2013): 175–83. http://dx.doi.org/10.1080/10462937.2013.773366.
Der volle Inhalt der QuelleKızılçelik, Sezgin. „Modernity as colonialism, racism, and holocaustSömürgecilik, ırkçılık ve soykırım olarak modernlik“. Journal of Human Sciences 15, Nr. 4 (31.10.2018): 2012. http://dx.doi.org/10.14687/jhs.v15i4.5547.
Der volle Inhalt der QuelleSpangler, Matthew. „Artist's Statement: Adapting T. C. Boyle's novelThe Tortilla Curtainand Subsequent Production by the San Diego Repertory Theatre“. Text and Performance Quarterly 33, Nr. 2 (April 2013): 151–67. http://dx.doi.org/10.1080/10462937.2013.769061.
Der volle Inhalt der Quelle„Capricious fancy: draping and curtaining the historic interior, 1800-1930“. Choice Reviews Online 50, Nr. 12 (23.07.2013): 50–6564. http://dx.doi.org/10.5860/choice.50-6564.
Der volle Inhalt der QuelleWexler, Mark N., und Judy Oberlander. „COVID-19 as a super crisis: implications for place management“. Journal of Place Management and Development ahead-of-print, ahead-of-print (01.03.2021). http://dx.doi.org/10.1108/jpmd-09-2020-0093.
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