Bücher zum Thema „Characterization techniques for microelectroniq“
Geben Sie eine Quelle nach APA, MLA, Chicago, Harvard und anderen Zitierweisen an
Machen Sie sich mit Top-50 Bücher für die Forschung zum Thema "Characterization techniques for microelectroniq" bekannt.
Neben jedem Werk im Literaturverzeichnis ist die Option "Zur Bibliographie hinzufügen" verfügbar. Nutzen Sie sie, wird Ihre bibliographische Angabe des gewählten Werkes nach der nötigen Zitierweise (APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver usw.) automatisch gestaltet.
Sie können auch den vollen Text der wissenschaftlichen Publikation im PDF-Format herunterladen und eine Online-Annotation der Arbeit lesen, wenn die relevanten Parameter in den Metadaten verfügbar sind.
Sehen Sie die Bücher für verschiedene Spezialgebieten durch und erstellen Sie Ihre Bibliographie auf korrekte Weise.
John, Lowell, Chen Ray T, Mathur Jagdish P und Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., Hrsg. Optical characterization techniques for high-performance microelectronic device manufacturing II: 25-26 October 1995, Austin, Texas. Bellingham, Wash: SPIE, 1995.
Den vollen Inhalt der Quelle findenDamon, DeBusk, Ajuria Sergio, Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., Semiconductor Equipment and Materials International., Solid State Technology (Organization) und Electrochemical Society, Hrsg. In-line characterization techniques for performance and yield enhancement in microelectronic manufacturing: 1-2 October 1997, Austin, Texas. Bellingham, Wash., USA: SPIE, 1997.
Den vollen Inhalt der Quelle findenSergio, Ajuria, Hossain Tim Z, Society of Photo-optical Instrumentation Engineers. und Solid State Technology (Organization), Hrsg. In-line characterization techniques for performance and yield enhancement in microelectronic manufacturing II: 23-24 September, 1998, Santa Clara, California. Bellingham, Washington: SPIE, 1998.
Den vollen Inhalt der Quelle findenMaliva, Robert G. Aquifer Characterization Techniques. Cham: Springer International Publishing, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-32137-0.
Der volle Inhalt der QuelleCampbell, D. Polymer characterization: Physical techniques. London: Chapman and Hall, 1989.
Den vollen Inhalt der Quelle findenMike, Resso, und Bogatin Eric, Hrsg. Signal integrity characterization techniques. Chicago, Ill: International Engineering Consortium, 2008.
Den vollen Inhalt der Quelle findenD, Campbell. Polymer characterization: Physical techniques. London: Chapman and Hall, 1989.
Den vollen Inhalt der Quelle findenD, Campbell. Polymer characterization: Physical techniques. 2. Aufl. Cheltenham, Glos., U.K: S. Thornes, 2000.
Den vollen Inhalt der Quelle findenOrtiz Ortega, Euth, Hamed Hosseinian, Ingrid Berenice Aguilar Meza, María José Rosales López, Andrea Rodríguez Vera und Samira Hosseini. Material Characterization Techniques and Applications. Singapore: Springer Singapore, 2022. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-16-9569-8.
Der volle Inhalt der QuelleProvder, Theodore, Marek W. Urban und Howard G. Barth, Hrsg. Hyphenated Techniques in Polymer Characterization. Washington, DC: American Chemical Society, 1994. http://dx.doi.org/10.1021/bk-1994-0581.
Der volle Inhalt der QuelleMittal, Vikas, Hrsg. Characterization Techniques for Polymer Nanocomposites. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9783527654505.
Der volle Inhalt der QuelleGalina, H., Y. Ikada, K. Kato, R. Kitamaru, J. Lechowicz, Y. Uyama und C. Wu, Hrsg. Grafting/Characterization Techniques/Kinetic Modeling. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1998. http://dx.doi.org/10.1007/3-540-69685-7.
Der volle Inhalt der QuelleKumar, Challa S. S. R., Hrsg. Magnetic Characterization Techniques for Nanomaterials. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-52780-1.
Der volle Inhalt der QuelleMiyoshi, Kazuhisa. Surface characterization techniques: An overview. [Cleveland, Ohio]: National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, 2002.
Den vollen Inhalt der Quelle findenPovey, M. J. W. Ultrasonic techniques for fluids characterization. San Diego: Academic Press, 1997.
Den vollen Inhalt der Quelle findenH, Galina, Hrsg. Grafting, characterization techniques, kinetic modeling. Berlin: Springer, 1998.
Den vollen Inhalt der Quelle findenPacific Coast Regional Meeting (41st 1988 San Francisco, Calif.). Advanced characterization techniques for ceramics. Westerville, Ohio: American Ceramic Society, 1989.
Den vollen Inhalt der Quelle findenDr, Tyagi A. K., Hrsg. Advanced techniques for materials characterization. Stafa-Zuerich: Trans Tech, 2009.
Den vollen Inhalt der Quelle findenDr, Tyagi A. K., Hrsg. Advanced techniques for materials characterization. Stafa-Zuerich: Trans Tech, 2009.
Den vollen Inhalt der Quelle findenFranco, Victorino, und Brad Dodrill, Hrsg. Magnetic Measurement Techniques for Materials Characterization. Cham: Springer International Publishing, 2021. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-70443-8.
Der volle Inhalt der QuelleKumar, Challa S. S. R., Hrsg. In-situ Characterization Techniques for Nanomaterials. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-56322-9.
Der volle Inhalt der QuelleNair, Raveendranath U., Maumita Dutta, Mohammed Yazeen P.S. und K. S. Venu. EM Material Characterization Techniques for Metamaterials. Singapore: Springer Singapore, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-6517-0.
Der volle Inhalt der QuelleSolomah, Ahmad G., Hrsg. Indentation Techniques in Ceramic Materials Characterization. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2006. http://dx.doi.org/10.1002/9781118407042.
Der volle Inhalt der QuelleRincon, Jesus Ma, und Maximina Romero, Hrsg. Characterization Techniques of Glasses and Ceramics. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1999. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-03871-0.
Der volle Inhalt der QuelleMa, Rincon Jesús, und Romero M. 1966-, Hrsg. Characterization techniques of glasses and ceramics. Berlin: Springer, 1999.
Den vollen Inhalt der Quelle findenJenkins, Tudor E. Semiconductor science: Growth and characterization techniques. New York: Prentice Hall, 1995.
Den vollen Inhalt der Quelle findenCheremisinoff, Nicholas P. Polymer characterization: Laboratory techniques and analysis. Westwood, N.J: Noyes Publications, 1996.
Den vollen Inhalt der Quelle findenHirsch, Herbert L. Statistical signal characterization. Boston: Artech House, 1992.
Den vollen Inhalt der Quelle findenMittal, Vikas, und Nadejda B. Matsko. Analytical Imaging Techniques for Soft Matter Characterization. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-30400-2.
Der volle Inhalt der QuelleHoulding, Simon W. 3D geosciencemodeling: Computer techniques for geological characterization. Berlin: Springer-Verlag, 1994.
Den vollen Inhalt der Quelle finden1954-, Tong Ho-ming Herbert, und Nguyen Luu T, Hrsg. New characterization techniques for thin polymer films. New York: Wiley, 1990.
Den vollen Inhalt der Quelle findenMittal, Vikas. Analytical Imaging Techniques for Soft Matter Characterization. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012.
Den vollen Inhalt der Quelle findenPrasankumar, Rohit P., und Antoinette J. Taylor. Optical techniques for solid-state materials characterization. Boca Raton: CRC Press, 2011.
Den vollen Inhalt der Quelle findenB, Imelik, und Védrine Jacques C, Hrsg. Catalyst characterization: Physical techniques for solid materials. New York: Plenum Press, 1994.
Den vollen Inhalt der Quelle finden1965-, Milling Andrew J., Hrsg. Surface characterization methods: Principles, techniques, and applications. New York: Marcel Dekker, 1999.
Den vollen Inhalt der Quelle findenStangoni, Maria Virginia. Scanning probe techniques for dopant profile characterization. Konstanz: Hartung-Gorre Verlag, 2005.
Den vollen Inhalt der Quelle findenAdvanced microelectronic processing techniques: 28-30 November 2000, Singapore. Bellingham, Wash: SPIE, 2000.
Den vollen Inhalt der Quelle findenOptical characterization techniques for high-performance microelectronic device manufacturing: 20 October 1994, Austin, Texas. Bellingham, Wash., USA: SPIE, 1994.
Den vollen Inhalt der Quelle findenDebusk, Damon. Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing III: 16-17 October 1996, Austin, Texas. SPIE-International Society for Optical Engine, 1996.
Den vollen Inhalt der Quelle findenKumar, Ashok, Lin Li und Sam Zhang. Materials Characterization Techniques. Taylor & Francis Group, 2008.
Den vollen Inhalt der Quelle findenLi, Lin, und Sam Zhang. Materials Characterization Techniques. CRC, 2008.
Den vollen Inhalt der Quelle findenKumar, Rawesh. Surface Characterization Techniques. De Gruyter, 2022. http://dx.doi.org/10.1515/9783110656480.
Der volle Inhalt der QuelleZhang, Sam, Lin Li und Ashok Kumar. Materials Characterization Techniques. CRC Press, 2008. http://dx.doi.org/10.1201/9781420042955.
Der volle Inhalt der QuelleRamamurthy, Karthik. Opamp characterization techniques. 1993.
Den vollen Inhalt der Quelle findenKumar, Ashok, Lin Li und Sam Zhang. Materials Characterization Techniques. Taylor & Francis Group, 2008.
Den vollen Inhalt der Quelle findenDinger, Dennis R. Characterization Techniques for Ceramists. Dennis Dinger, 2005.
Den vollen Inhalt der Quelle finden(Editor), D. Campbell, J. R. White (Editor) und R. A. Pethrick (Editor), Hrsg. Polymer Characterization: Physical Techniques. 2. Aufl. International Thomson Publishing Services Ltd, 1999.
Den vollen Inhalt der Quelle findenPovey, Malcolm J. W. Ultrasonic Techniques for Fluids Characterization. Elsevier Science & Technology Books, 1997.
Den vollen Inhalt der Quelle findenOzaki, Yukihiro, und Harumi Sato, Hrsg. Spectroscopic Techniques for Polymer Characterization. Wiley, 2021. http://dx.doi.org/10.1002/9783527830312.
Der volle Inhalt der QuelleUltrasonic Techniques for Fluids Characterization. Elsevier, 1997. http://dx.doi.org/10.1016/b978-0-12-563730-5.x5000-4.
Der volle Inhalt der Quelle