Zeitschriftenartikel zum Thema „Augmented Metrology“
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Poon, Ting-Chung, Yaping Zhang, Liangcai Cao und Hiroshi Yoshikawa. „Editorial on Special Issue “Holography, 3-D Imaging and 3-D Display”“. Applied Sciences 10, Nr. 20 (11.10.2020): 7057. http://dx.doi.org/10.3390/app10207057.
Der volle Inhalt der QuelleSiv, Julie, Rafael Mayer, Guillaume Beaugrand, Guillaume Tison, Rémy Juvénal und Guillaume Dovillaire. „Testing and characterization of challenging optics and optical systems with Shack Hartmann wavefront sensors“. EPJ Web of Conferences 215 (2019): 06003. http://dx.doi.org/10.1051/epjconf/201921506003.
Der volle Inhalt der QuelleNawab, Rahma, und Angela Davies Allen. „Low-Cost AR-Based Dimensional Metrology for Assembly“. Machines 10, Nr. 4 (30.03.2022): 243. http://dx.doi.org/10.3390/machines10040243.
Der volle Inhalt der QuelleKerst, Thomas, Mohammad Bitarafan, Laura Jokinen, Ilkka Alasaarela, Seppo Tillanen, David Zautasvili und Nikhil Pachhandara. „82‐3: Rapid AR/VR Device Eye‐Box Measurement Using a Wide‐FOV Lens“. SID Symposium Digest of Technical Papers 54, Nr. 1 (Juni 2023): 1155–57. http://dx.doi.org/10.1002/sdtp.16779.
Der volle Inhalt der QuelleArpaia, Pasquale, Egidio De Benedetto, Concetta Anna Dodaro, Luigi Duraccio und Giuseppe Servillo. „Metrology-Based Design of a Wearable Augmented Reality System for Monitoring Patient’s Vitals in Real Time“. IEEE Sensors Journal 21, Nr. 9 (01.05.2021): 11176–83. http://dx.doi.org/10.1109/jsen.2021.3059636.
Der volle Inhalt der QuelleGonçalves, GL, JU Delgado und FB Razuck. „The use of Augmented Reality for the teaching of dosimetry and metrology of ionizing radiation at IRD“. Journal of Physics: Conference Series 1826, Nr. 1 (01.03.2021): 012041. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/1826/1/012041.
Der volle Inhalt der QuelleHo, P. T., J. A. Albajez, J. A. Yagüe und J. Santolaria. „Preliminary study of Augmented Reality based manufacturing for further integration of Quality Control 4.0 supported by metrology“. IOP Conference Series: Materials Science and Engineering 1193, Nr. 1 (01.10.2021): 012105. http://dx.doi.org/10.1088/1757-899x/1193/1/012105.
Der volle Inhalt der QuelleZhao, Lei, und Chaohao Wang. „50.2: Invited Paper: A Closer Look: Advancements in Near‐Eye Display Testing and Metrology“. SID Symposium Digest of Technical Papers 54, S1 (April 2023): 354–60. http://dx.doi.org/10.1002/sdtp.16303.
Der volle Inhalt der QuellePrusakov, A. N., V. V. Popadyev und V. F. Pankin. „The Working Week of the International Federation of Surveyors under the motto “From digitalization to augmented reality”“. Geodesy and Cartography 926, Nr. 8 (20.09.2017): 25–38. http://dx.doi.org/10.22389/0016-7126-2017-926-8-25-38.
Der volle Inhalt der QuelleĆirić, Ivan, Milan Banić, Miloš Simonović, Aleksandar Miltenović, Dušan Stamenković und Vlastimir Nikolić. „TOWARDS MACHINE VISION BASED RAILWAY ASSETS PREDICTIVE MAINTENANCE“. Facta Universitatis, Series: Automatic Control and Robotics 19, Nr. 2 (08.12.2020): 125. http://dx.doi.org/10.22190/fuacr2002125c.
Der volle Inhalt der QuelleFisher, William P. „Bateson and Wright on Number and Quantity: How to Not Separate Thinking from Its Relational Context“. Symmetry 13, Nr. 8 (03.08.2021): 1415. http://dx.doi.org/10.3390/sym13081415.
Der volle Inhalt der QuelleHo, Phuong Thao, José Antonio Albajez, Jorge Santolaria und José A. Yagüe-Fabra. „Study of Augmented Reality Based Manufacturing for Further Integration of Quality Control 4.0: A Systematic Literature Review“. Applied Sciences 12, Nr. 4 (13.02.2022): 1961. http://dx.doi.org/10.3390/app12041961.
Der volle Inhalt der QuelleAbbasi, W. A., S. C. Ridgeway, P. D. Adsit, C. D. Crane und J. Duffy. „Investigation of a Special 6-6 Parallel Platform for Contour Milling“. Journal of Manufacturing Science and Engineering 122, Nr. 1 (01.01.1998): 132–39. http://dx.doi.org/10.1115/1.538927.
Der volle Inhalt der QuelleAnderson, Stephen A. „Innovative digital inspection methodology“. APPEA Journal 60, Nr. 1 (2020): 77. http://dx.doi.org/10.1071/aj19109.
Der volle Inhalt der QuelleLee, Dong Hun, Yuxuan Zhang, Kwangsoo No, Han Wook Song und Sunghwan Lee. „(Digital Presentation) Multimodal Encapsulation of p-SnOx to Engineer the Carrier Density for Thin Film Transistor Applications“. ECS Meeting Abstracts MA2022-02, Nr. 15 (09.10.2022): 821. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-0215821mtgabs.
Der volle Inhalt der QuelleEngel, Thomas. „3D-optical measurement techniques“. Measurement Science and Technology, 02.12.2022. http://dx.doi.org/10.1088/1361-6501/aca818.
Der volle Inhalt der QuelleNguyen, Vinh, Xiaofeng Liu und Jeremy Marvel. „Augmented Reality Interface for Robot-Sensor Coordinate Registration“. Journal of Computing and Information Science in Engineering, 08.08.2023, 1–7. http://dx.doi.org/10.1115/1.4063131.
Der volle Inhalt der QuelleSchen, Michael A., G. T. Davis, F. I. Mopsik, W. L. Wu, W. E. Wallace, Jr Manning, C. A. Handwerker und D. T. Read. „Electronics Packaging Materials Research at NIST“. MRS Proceedings 390 (1995). http://dx.doi.org/10.1557/proc-390-19.
Der volle Inhalt der QuelleTóbiás, Roland, Tibor Furtenbacher, Irén Simkó, Attila G. Császár, Meissa L. Diouf, Frank M. J. Cozijn, Joey M. A. Staa, Edcel J. Salumbides und Wim Ubachs. „Spectroscopic-network-assisted precision spectroscopy and its application to water“. Nature Communications 11, Nr. 1 (06.04.2020). http://dx.doi.org/10.1038/s41467-020-15430-6.
Der volle Inhalt der QuelleMurray, Myles P., Laura S. Bruckman und Roger H. French. „Durability of Materials in a Stress-Response Framework: Acrylic Materials for Photovoltaic Systems“. MRS Proceedings 1391 (2012). http://dx.doi.org/10.1557/opl.2012.1241.
Der volle Inhalt der QuelleJuethner, Konrad, Ted Rose, Senthil Kumar, Jianming Cao, Gregory Savela, Chris J. Zuck und Parag Mathuria. „Finite Element Analysis of Bent Rotors“. Journal of Engineering for Gas Turbines and Power, 02.09.2022. http://dx.doi.org/10.1115/1.4055452.
Der volle Inhalt der QuelleZhang, Wen-Hao, Jing-Wei Yu, Wule Zhu und Bing-Feng Ju. „Unified framework for geometric error compensation and shape-adaptive scanning in five-axis metrology systems“. Measurement Science and Technology, 16.05.2024. http://dx.doi.org/10.1088/1361-6501/ad4c83.
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